[發(fā)明專利]一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)及其制備方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910344627.1 | 申請日: | 2019-04-26 |
| 公開(公告)號: | CN111863755A | 公開(公告)日: | 2020-10-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 不公告發(fā)明人 | 申請(專利權(quán))人: | 長鑫存儲技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | H01L23/482 | 分類號: | H01L23/482;H01L21/768 |
| 代理公司: | 上海晨皓知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31260 | 代理人: | 成麗杰 |
| 地址: | 230601 安徽省合肥市*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 半導(dǎo)體 結(jié)構(gòu) 及其 制備 方法 | ||
1.一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其特征在于,包括:包含有電連接層的基底,設(shè)置在所述基底上的導(dǎo)電墊,所述導(dǎo)電墊與所述電連接層電性連接,所述導(dǎo)電墊內(nèi)設(shè)置有溝槽,所述溝槽將所述導(dǎo)電墊分隔為用于測試的第一區(qū)域、以及用于電連接的第二區(qū)域。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其特征在于,所述基底內(nèi)設(shè)置有露出所述電連接層的導(dǎo)通孔,所述導(dǎo)電墊包括位于所述基底表面的導(dǎo)電層、以及位于所述導(dǎo)通孔內(nèi)的連接部,所述導(dǎo)電層經(jīng)由所述連接部與所述電連接層電性連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其特征在于,所述溝槽與所述導(dǎo)通孔在所述基底上的正投影至少部分重合。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其特征在于,所述溝槽貫穿所述導(dǎo)電層和所述連接部。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其特征在于,所述溝槽與所述導(dǎo)通孔在所述基底上的正投影相互間隔設(shè)置。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其特征在于,在垂直于所述基底表面的方向上,所述溝槽的深度小于所述導(dǎo)電層的厚度。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其特征在于,在垂直于所述第一區(qū)域指向所述第二區(qū)域的方向上,所述溝槽的長度小于所述導(dǎo)電層的長度。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其特征在于,所述基底上還設(shè)置有介電層,所述導(dǎo)電層的數(shù)量為多個,所述介電層設(shè)置在多個所述導(dǎo)電層之間、以電性絕緣多個所述導(dǎo)電層。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其特征在于,所述溝槽在所述基底上的投影為矩形或橢圓形。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其特征在于,在沿所述第一區(qū)域指向所述第二區(qū)域的方向上,所述溝槽的寬度范圍為1微米~20微米。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其特征在于,在垂直于所述第一區(qū)域指向所述第二區(qū)域的方向上,所述溝槽的長度范圍為50微米~80微米。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其特征在于,在垂直于所述基底表面的方向上,所述溝槽的深度范圍為100納米~6微米。
13.一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于,包括:
提供包含有至少一層電連接層的基底;
在所述基底上形成與所述電連接層電性連接的導(dǎo)電墊,其中,所述導(dǎo)電墊內(nèi)設(shè)置有溝槽,所述溝槽將所述導(dǎo)電墊分隔為用于測試的第一區(qū)域、以及用于電連接的第二區(qū)域。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于,所述在所述基底上形成與所述電連接層電性連接的導(dǎo)電墊,具體包括:
在所述基底上形成導(dǎo)通孔;
在所述基底上以及所述導(dǎo)通孔中形成所述導(dǎo)電墊。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于,所述在所述基底上以及所述導(dǎo)通孔中形成所述導(dǎo)電墊,具體包括:
在形成所述導(dǎo)電墊的工藝過程中,形成所述溝槽。
16.根據(jù)權(quán)利要求14所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于,所述在所述基底上以及所述導(dǎo)通孔中形成所述導(dǎo)電墊之后,還包括:形成所述溝槽。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于長鑫存儲技術(shù)有限公司,未經(jīng)長鑫存儲技術(shù)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910344627.1/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 卡片結(jié)構(gòu)、插座結(jié)構(gòu)及其組合結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)平臺結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)支撐結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)支撐結(jié)構(gòu)
- 單元結(jié)構(gòu)、結(jié)構(gòu)部件和夾層結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)扶梯結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)隔墻結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)連接結(jié)構(gòu)
- 螺紋結(jié)構(gòu)、螺孔結(jié)構(gòu)、機(jī)械結(jié)構(gòu)和光學(xué)結(jié)構(gòu)
- 螺紋結(jié)構(gòu)、螺孔結(jié)構(gòu)、機(jī)械結(jié)構(gòu)和光學(xué)結(jié)構(gòu)





