[發明專利]測試方法、測試系統以及電子裝置

在審

• 申請號: 201910338233.5
• 申請日: 2019-04-25
• 公開（公告）號: CN110858782A
• 公開（公告）日: 2020-03-03
• 發明（設計）人: 簡青峰
• 申請（專利權）人: 和碩聯合科技股份有限公司
• 主分類號: H04B17/15
• 分類號: H04B17/15
• 代理公司: 隆天知識產權代理有限公司 72003
• 代理人: 聶慧荃;閆華

一種測試方法、測試系統及電子裝置。測試系統包括待測裝置、電子裝置以及微控制器。待測裝置包括發光模塊。微控制器耦接至電子裝置。待測裝置讀入待測端測試腳本，并且電子裝置讀入主控端測試腳本。于待測裝置中，執行前導程序，借此控制發光模塊進行指定次數的開閉，并且在執行完前導程序之后，依序執行各設定程序。于電子裝置中，基于自微控制器所讀取該發光模塊的亮度值來判斷待測裝置是否已執行完前導程序，并且如判定待測裝置已執行完前導程序，執行對應于待測裝置所執行的其中一個設定程序的該測試項程序，以自射頻裝置讀取待測裝置所發送的射頻信號的測量值。

技術領域

本發明涉及一種測試機制，且特別涉及一種測試方法、測試系統以及電子裝置。

背景技術

傳統上，在非信令傳輸接收標準測試(Non-Signaling Over The Air test)中，使用通用序列總線(Universal Serial Bus，USB)或其它可連接待測裝置(Device UnderTest，DUT)的連接線材，通過連接線材來對待測裝置發送相關測試命令，并進行射頻(RadioFrequency，RF)信號的測量。然而，使用USB或其它可連接待測裝置的連接線材，而經由連接線材對待測裝置發送相關測試命令，會因為連接線材而帶來信號干擾，造成RF信號測量的測試數據不正確的問題。

發明內容

本發明提供一種測試方法、測試系統以及電子裝置，可避免因連接線材造成的信號干擾。

本發明的用于測試系統的測試方法，其中測試系統包括待測裝置、電子裝置以及微控制器，待測裝置包括發光模塊，微控制器耦接至電子裝置。測試方法包括下述步驟。待測裝置讀入待測端測試腳本，并且電子裝置讀入主控端測試腳本。待測端測試腳本包括前導程序以及一或多個設定程序。主控端測試腳本包括對應于各設定程序的測試項程序。待測裝置執行前導程序，借此控制發光模塊進行指定次數的開閉。待測裝置在執行完前導程序之后，依序執行各設定程序。電子裝置基于自微控制器所讀取發光模塊的亮度值來判斷待測裝置是否已執行前導程序。如判定待測裝置已執行前導程序，電子裝置執行對應于待測裝置所執行的其中一個設定程序的測試項程序，以自射頻裝置讀取待測裝置所發送的射頻信號的測量值。

在本發明的一實施例中，所述前導程序包括下述步驟：致能發光模塊；等待第一間隔時間；禁能發光模塊；累計執行次數；以及等待第二間隔時間；并且重復執行上述步驟，直到執行次數等于指定次數。

在本發明的一實施例中，設定程序包括下述步驟：設定多個測試參數；依據這些測試參數，發出射頻信號；致能發光模塊；以及在經過延遲時間之后，禁能發光模塊并且停止發送射頻信號。

在本發明的一實施例中，電子裝置基于自微控制器所讀取的亮度值來判斷待測裝置是否已執行前導程序的步驟包括：在等待時間內，持續自微控制器讀取亮度值；基于自微控制器所讀取的亮度值，判斷在等待時間內發光模塊是否進行了指定次數的開閉；以及在等待時間內發光模塊進行指定次數的開閉時，判斷待測裝置已執行前導程序。

在本發明的一實施例中，測試項程序包括：依據自微控制器所讀取的亮度值以及閾值，判定發光模塊是否被致能；在自微控制器所讀取的亮度值大于閾值而判定發光模塊被致能時，讀取射頻信號的測量值；以及在自微控制器所讀取的亮度值小于或等于閾值而判定發光模塊被禁能時，停止讀取測量值。

在本發明的一實施例中，測試項程序還包括：在判定發光模塊被致能之后，在檢測時間內持續自微控制器讀取亮度值，并判斷亮度值是否小于或等于閾值，其中檢測時間大于延遲時間；以及倘若在檢測時間內自微控制器所讀取到的亮度值皆未小于或等于閾值，停止執行測試項程序。

在本發明的一實施例中，微控制器包括光感應器，光感應器檢測發光模塊的輸出以產生亮度值。