[發明專利]測試方法、測試系統以及電子裝置

在審

• 申請號: 201910338233.5
• 申請日: 2019-04-25
• 公開（公告）號: CN110858782A
• 公開（公告）日: 2020-03-03
• 發明（設計）人: 簡青峰
• 申請（專利權）人: 和碩聯合科技股份有限公司
• 主分類號: H04B17/15
• 分類號: H04B17/15
• 代理公司: 隆天知識產權代理有限公司 72003
• 代理人: 聶慧荃;閆華

1.一種用于測試系統的測試方法，其特征在于，該測試系統包括一待測裝置、一電子裝置以及一微控制器，該待測裝置包括一發光模塊，該微控制器耦接至該電子裝置，該測試方法包括：

該待測裝置讀入一待測端測試腳本，并且該電子裝置讀入一主控端測試腳本，該待測端測試腳本包括一前導程序以及一或多個設定程序，該主控端測試腳本包括對應于各該設定程序的測試項程序；

該待測裝置執行該前導程序，借此控制該發光模塊進行一指定次數的開閉；

該待測裝置在執行完該前導程序之后，依序執行各該設定程序；

該電子裝置基于自該微控制器所讀取該發光模塊的亮度值來判斷該待測裝置是否已執行完該前導程序；以及

如該電子裝置判定該待測裝置已執行完該前導程序，該電子裝置執行對應于該待測裝置所執行的其中一個該設定程序的該測試項程序，以自一射頻裝置讀取該待測裝置所發送的一射頻信號的一測量值。

2.如權利要求1所述的測試方法，其特征在于，該前導程序包括下述步驟：

致能該發光模塊；

等待一第一間隔時間；

禁能該發光模塊；

累計一執行次數；以及

等待一第二間隔時間；

重復執行上述步驟，直到該執行次數等于該指定次數。

3.如權利要求1所述的測試方法，其特征在于，各該設定程序包括下述步驟：

設定多個測試參數；

依據所述多個測試參數，發出該射頻信號；

致能該發光模塊；以及

在經過一延遲時間之后，禁能該發光模塊并且停止發送該射頻信號。

4.如權利要求1所述的測試方法，其特征在于，該電子裝置基于自該微控制器所讀取的亮度值來判斷該待測裝置是否已執行完該前導程序的步驟包括：

在一等待時間內，持續自該微控制器讀取該亮度值；

基于自該微控制器所讀取的亮度值，判斷在該等待時間內該發光模塊是否進行了該指定次數的開閉；以及

在該等待時間內該發光模塊進行該指定次數的開閉時，判斷該待測裝置已執行完該前導程序。

5.如權利要求3所述的測試方法，其特征在于，各該測試項程序包括：

依據自該微控制器所讀取的亮度值以及一閾值，判定該發光模塊是否被致能；

在自該微控制器所讀取的亮度值大于該閾值而判定該發光模塊被致能時，讀取該射頻信號的該測量值；以及

在自該微控制器所讀取的亮度值小于或等于該閾值而判定該發光模塊被禁能時，停止讀取該測量值。

6.如權利要求5所述的測試方法，其特征在于，各該測試項程序還包括：

在判定該發光模塊被致能之后，在一檢測時間內持續自該微控制器讀取該亮度值，并判斷該亮度值是否小于或等于該閾值，其中該檢測時間大于該延遲時間；以及

倘若在該檢測時間內自該微控制器所讀取到的該亮度值皆未小于或等于該閾值，停止執行該測試項程序。

7.如權利要求1所述的測試方法，其特征在于，該微控制器包括一光感應器，該光感應器檢測該發光模塊的輸出以產生該亮度值。

8.一種用于電子裝置的測試方法，其特征在于，包括：

讀入一主控端測試腳本，該電子裝置耦接至設置于一屏蔽箱內的一微控制器，該屏蔽箱內更設置有包括一發光模塊的一待測裝置，該主控端測試腳本包括對應于該待測裝置中所讀入的一待測端測試腳本的各設定程序的測試項程序；

基于自該微控制器所讀取的亮度值來判斷該發光模塊是否進行了一指定次數的開閉；以及

在判定該發光模塊進行了該指定次數的開閉之后，執行對應于該待測裝置所執行的其中一個該設定程序的該測試項程序，以讀取該待測裝置所發送的一射頻信號的一測量值。

9.如權利要求8所述的測試方法，其特征在于，還包括：

在一等待時間內，持續自該微控制器讀取該亮度值；

基于自該微控制器所讀取的亮度值，判斷在該等待時間內該發光模塊是否進行了該指定次數的開閉。