[發明專利]一種DeMura設備像素點亮度提取精度評判方法及噪聲檢測方法

有效

• 申請號: 201910330272.0
• 申請日: 2019-04-23
• 公開（公告）號: CN110136212B
• 公開（公告）日: 2021-05-25
• 發明（設計）人: 馮曉帆;劉璐寧;鄭增強;張勝森;馬爾威;吳紅君;袁捷宇;劉榮華
• 申請（專利權）人: 武漢精立電子技術有限公司;武漢精測電子集團股份有限公司
• 主分類號: G06T7/90
• 分類號: G06T7/90;G06T7/00;G06T5/00;G06K9/00;G01N21/95;G01N21/88
• 代理公司: 武漢東喻專利代理事務所(普通合伙) 42224
• 代理人: 趙偉

本發明屬于顯示面板檢測技術領域，公開了一種DeMura設備像素點亮度提取精度評判方法及噪聲檢測方法，用白噪聲亮度的理論值與經過DeMura設備后的亮度測量值之間的自相關函數的峰值表征DeMura設備的亮度提取精度，由此將OLED DeMura中子像素點的亮度提取精度量化，將其應用于實際生產可提高DeMura設備修復Mura缺陷的精度，規避子像素亮度提取不準確導致后續Mura補償不成功的問題；本發明提供的DeMura設備檢測方法，用調制傳遞函數表征DeMura設備成像系統對輸入信號的作用，反映DeMura設備的噪聲水平，可用于檢測DeMura設備是否處于正常運行狀態，作為定量評估DeMura設備優劣的檢測方法。

技術領域

本發明屬于顯示面板檢測技術領域，更具體地，涉及一種DeMura設備像素點亮度提取精度評判方法及噪聲檢測方法。

背景技術

由于顯示面板生產工藝復雜，Mura缺陷的出現無法避免，但Mura缺陷會直接影響顯示面板的質量以及生產良率，因而Mura缺陷的修復是顯示面板生產過程中不可或缺的環節。LCD屏的Mura缺陷尺寸較大，可對Mura區域進行分塊亮度補償；而OLED屏由于其自發光、各個像素點獨立驅動等特性，其Mura缺陷表現為子像素量級，需要使用比LCD DeMura更精確的Mura缺陷補償方法。現有OLED DeMura(Mura缺陷補償)包括圖像預處理、子像素點亮度提取、子像素點gamma測量、子像素點電壓補償的流程。Mura缺陷的補償通過補償子像素點的驅動電壓來實現，而驅動電壓的補償值由基于亮度值計算的gamma值決定，因而在OLEDDeMura技術中，精確提取子像素點的亮度至關重要。

目前一般通過均方根誤差RMSE來判斷測量精度，但用RMSE評判OLED屏像素點的亮度提取精度存在以下兩點局限：一，未考慮子像素點的空間分布關系；二，需要子像素點的亮度參考值；在OLED DeMura技術中，測得的亮度值為相對值，在精確校準前無法基于亮度的參考值計算RMSE。因此，需要一種新的方法來判斷像素點的亮度提取精度，以適應OLEDDeMura技術的要求。

發明內容

針對現有技術的以上缺陷或改進需求，本發明提供了一種DeMura設備像素點亮度提取精度評判方法及噪聲檢測方法，其目的在于實現對OLED子像素點的亮度提取精度的量化以及DeMura設備的檢測。

為實現上述目的，按照本發明的一個方面，提供了一種DeMura設備像素點亮度提取精度評判方法，用白噪聲亮度理論值與白噪聲經過DeMura設備后的亮度測量值之間的自相關函數的峰值表征DeMura設備的亮度提取精度。

優選地的，上述DeMura設備像素點亮度提取精度評判方法，具體包括以下步驟：

(1)將同一張灰度圖在加白噪聲與不加白噪聲的情況下分別通過DeMura設備進行Mura修復；

(2)獲取經過Mura修復得到的兩張灰度圖的亮度差異值作為所加的白噪聲的亮度測量值；

(3)計算白噪聲亮度的測量值與理論值之間的自相關系數；

(4)根據該自相關系數判定DeMura設備的亮度提取精度，自相關系數越大，亮度提取精度越高。

優選地，上述DeMura設備像素點亮度提取精度評判方法，用白噪聲亮度的理論值與經過DeMura設備后的測量值之間的自相關函數的峰值表征DeMura設備的亮度提取精度，當白噪聲的測量信號與原始輸入信號之間的自相關函數峰值在(0.9，1)，判定子像素點的亮度提取精度滿足要求，

為實現發明的目的，按照本發明的另一個方面，提供了一種DeMura設備噪聲檢測方法，用白噪聲亮度理論值與白噪聲經過DeMura設備后的亮度測量值之間的自相關函數的峰值與調制傳遞函數來檢測DeMura設備的噪聲水平。