[發明專利]一種DeMura設備像素點亮度提取精度評判方法及噪聲檢測方法

有效

• 申請號: 201910330272.0
• 申請日: 2019-04-23
• 公開（公告）號: CN110136212B
• 公開（公告）日: 2021-05-25
• 發明（設計）人: 馮曉帆;劉璐寧;鄭增強;張勝森;馬爾威;吳紅君;袁捷宇;劉榮華
• 申請（專利權）人: 武漢精立電子技術有限公司;武漢精測電子集團股份有限公司
• 主分類號: G06T7/90
• 分類號: G06T7/90;G06T7/00;G06T5/00;G06K9/00;G01N21/95;G01N21/88
• 代理公司: 武漢東喻專利代理事務所(普通合伙) 42224
• 代理人: 趙偉

1.一種DeMura設備像素點亮度提取精度評判方法，其特征在于，用白噪聲亮度理論值與所述白噪聲經過DeMura設備后的亮度測量值之間的自相關函數的峰值表征DeMura設備的亮度提取精度，所述亮度測量值為同一張灰度圖在加白噪聲與不加白噪聲的情況下分別經過DeMura設備得到的兩張灰度圖的亮度差異值。

2.如權利要求1所述的DeMura設備像素點亮度提取精度評判方法，其特征在于，具體包括以下步驟：

(1)將同一張灰度圖在加白噪聲與不加白噪聲的情況下分別通過DeMura設備進行Mura修復；

(2)獲取經過Mura修復得到的兩張灰度圖的亮度差異值作為所加的白噪聲的亮度測量值；

(3)計算白噪聲亮度的測量值與理論值之間的自相關系數；

(4)根據所述自相關系數判定DeMura設備的亮度提取精度，自相關系數越大，判定所述DeMura設備亮度提取精度越高。

3.如權利要求1所述的DeMura設備像素點亮度提取精度評判方法，其特征在于，當白噪聲的測量信號與所述白噪聲原始信號之間的自相關函數峰值在(0.9，1)，判定DeMura設備對子像素點的亮度提取精度滿足要求。

4.一種DeMura設備噪聲檢測方法，其特征在于，用白噪聲亮度理論值與白噪聲經過DeMura設備后的亮度測量值之間的自相關函數的峰值與調制傳遞函數來檢測DeMura設備的噪聲水平，所述亮度測量值為同一張灰度圖在加白噪聲與不加白噪聲的情況下分別經過DeMura設備得到的兩張灰度圖的亮度差異值。

5.如權利要求4所述的DeMura設備噪聲檢測方法，其特征在于，當白噪聲的測量信號與所述白噪聲信號相同或成線性關系，且DeMura設備的調制傳遞函數無變化，則判定DeMura設備的成像系統無失真。

6.如權利要求4或5所述的DeMura設備噪聲檢測方法，其特征在于，當所述自相關函數的峰值降為0.9以下，且調制傳遞函數不變，調制傳遞函數的頻譜平坦，則判定DeMura設備的成像系統存在噪聲。

7.如權利要求4或5所述的DeMura設備噪聲檢測方法，其特征在于，當所述自相關函數的峰值降為0.9以下，且DeMura設備的調制傳遞函數發生變化，調制傳遞函數的頻譜不平坦，則判定DeMura設備的成像系統存在失真。

8.如權利要求4或5所述的DeMura設備噪聲檢測方法，其特征在于，根據所述自相關函數的峰值水平來判定DeMura設備噪聲的嚴重程度，所述自相關函數的峰值越小，判定定DeMura設備噪聲越嚴重。