[發明專利]一種印刷電路板過孔內壁質量的檢測方法

在審

• 申請號: 201910326574.0
• 申請日: 2019-04-23
• 公開（公告）號: CN110175614A
• 公開（公告）日: 2019-08-27
• 發明（設計）人: 劉愷;朱小強;常麗萍
• 申請（專利權）人: 浙江工業大學
• 主分類號: G06K9/46
• 分類號: G06K9/46;G06K9/62;G06T5/40;G06T7/00;G06T7/11;G06T7/40
• 代理公司: 杭州斯可睿專利事務所有限公司 33241
• 代理人: 王利強

一種印刷電路板過孔內壁質量的檢測方法，獲取過孔完好的PCB和過孔有缺陷的PCB樣板圖像；將過孔依次從整個PCB中分割成單幅圖像；依次提取過孔圖像的圖像特征；獲取特征矩陣，構成Adaboost分類器的訓練數據集；將得到的數據集輸入Adaboost分類器訓練獲取分類模型；獲取待檢測PCB圖像，用相同方法將待檢測PCB的過孔圖像分割出來，提取待檢測PCB的過孔圖像的特征，構成測試數據集；將測試數據集輸入Adaboost分類器，得到分類結果，與訓練模型對比可以知道過孔質量是否合格。本發明實現了對PCB過孔內壁質量的快速、有效的檢測，尤其是針對孔化不完全的PCB過孔檢測。

技術領域

本發明涉及印刷電路板(Printed Circuit Board，PCB)質量檢測方法領域，尤其是一種印刷電路板過孔內壁質量的檢測方法。

背景技術

在現代電子產品和設備中，印刷電路板(Printed Circuit Board，PCB)占據著非常重要的地位，它是安裝、集成各種電子元器件的載體，是微電子產品中不可或缺的基本部件，在各個領域都得到了廣泛的應用。PCB生產中一個非常重要的環節便是缺陷檢測，它是控制生產成本、保證其質量的最為主要的手段。隨著電子產業的飛速發展，人們對產品質量、性能穩定的要求越來越高，因此PCB的檢測方法成為急需研究的課題。

在PCB生產的現有檢測技術中，通常使用飛針或專用模具來檢測PCB的導通電氣特性，用自動光學檢測(Automatic Optic Inspection，AOI)設備檢測元件貼放以及線條過孔的表面質量。但目前沒有針對PCB過孔(via)內壁孔化質量(包括過孔內壁毛糙度、過孔內壁孔化完整度以及孔化厚度等方面)的快速有效的檢測手段。然而隨著電子技術的飛速發展，PCB過孔內壁質量也會直接影響到PCB產品的導通性、幅頻相頻特性等，從而影響PCB產品性能。因而PCB過孔內壁質量的缺陷檢測是一項非常有意義的工作，是急需研究的課題。

現有國內外PCB生產企業主要依賴AOI設備對PCB過孔質量進行檢測。但是，現有AOI設備在PCB過孔質量檢測過程中存在著明顯的缺點。由于AOI設備只能檢測直射光線所能到達的地方，所以僅能檢測過孔形狀、直徑、位置等信息。對于過孔內壁缺陷(比如過孔內壁有毛刺、過孔內壁鍍銅不全，以及由此帶來的孔化不完全、孔化厚度不合格等缺陷)無法做到快速且有效的檢測，這些缺陷會直接影響PCB成品的質量。當前PCB生產過程中一般嚴格控制生產過程，以此保證PCB的孔化質量，而沒有針對過孔內壁質量進行檢測的有效方法。

發明內容

為了克服已有PCB檢測方法無法對過孔內壁質量實現檢測的不足，本發明提供一種有效實現對過孔內壁質量的檢測、保障PCB過孔內壁質量的檢測方法。

本發明解決其技術問題所采用的技術方案是：

一種印刷電路板過孔內壁質量的檢測方法，所述檢測方法包括如下步驟：

步驟101：獲取過孔完好的PCB和過孔有缺陷的PCB樣板圖像；

步驟102：運用數字圖像分割技術將過孔依次從整個PCB中分割成單幅圖像，要求分割后的圖像盡可能完整的包含過孔，以免丟失過孔圖像的信息；

步驟103：依次提取過孔圖像的圖像特征；

步驟104：獲取特征矩陣，特征矩陣由圖像特征組成，構成Adaboost分類器的訓練數據集；

步驟105：將得到的數據集輸入Adaboost分類器訓練獲取分類模型；

步驟106：獲取待檢測PCB圖像，用相同方法將待檢測PCB的過孔圖像分割出來，提取待檢測PCB的過孔圖像的特征，構成測試數據集；

步驟107：將測試數據集輸入Adaboost分類器，得到分類結果，與訓練模型對比可以知道過孔質量是否合格。