[發明專利]一種印刷電路板過孔內壁質量的檢測方法

在審

• 申請號: 201910326574.0
• 申請日: 2019-04-23
• 公開（公告）號: CN110175614A
• 公開（公告）日: 2019-08-27
• 發明（設計）人: 劉愷;朱小強;常麗萍
• 申請（專利權）人: 浙江工業大學
• 主分類號: G06K9/46
• 分類號: G06K9/46;G06K9/62;G06T5/40;G06T7/00;G06T7/11;G06T7/40
• 代理公司: 杭州斯可睿專利事務所有限公司 33241
• 代理人: 王利強

1.一種印刷電路板過孔內壁質量的檢測方法，其特征在于，所述檢測方法包括以下步驟：

步驟101：獲取過孔完好的PCB和過孔有缺陷的PCB樣板圖像；

步驟102：運用數字圖像分割技術將過孔依次從整個PCB中分割成單幅圖像，要求分割后的圖像盡可能完整的包含過孔，以免丟失過孔圖像的信息；

步驟103：依次提取過孔圖像的圖像特征；

步驟104：獲取特征矩陣，特征矩陣由圖像特征組成，構成Adaboost分類器的訓練數據集；

步驟105：將得到的數據集輸入Adaboost分類器訓練獲取分類模型；

步驟106：獲取待檢測PCB圖像，用相同方法將待檢測PCB的過孔圖像分割出來，提取待檢測PCB的過孔圖像的特征，構成測試數據集；

步驟107：將測試數據集輸入Adaboost分類器，得到分類結果，與訓練模型對比可以知道過孔質量是否合格。

2.如權利要求1所述的一種印刷電路板過孔內壁質量的檢測方法，其特征在于：所述步驟103中，提取LBP圖像特征。

3.如權利要求2所述的一種印刷電路板過孔內壁質量的檢測方法，其特征在于：所述步驟103中，提取LBP特征向量的過程如下：

(31)首先將檢測窗口劃分為n×n的小區域(cell)，n要求小于圖像尺寸；

(32)對于每個cell中的一個像素，比較其相鄰的8個像素的灰度值，若周圍像素值大于中心像素值，則標記該像素點的位置為1，反之為0，這樣，3x3鄰域內的8個點經過比較會產生8位二進制數，這樣就會得到該檢測窗口中心像素點的LBP值；

(33)然后計算每個cell的直方圖，并對該直方圖進行歸一化處理；

(34)最后連接每個cell的統計直方圖得到一個特征向量，也就是整幅圖像的LBP紋理特征向量，便可利用Adaboost分類器進行分類了。

4.如權利要求1～3之一所述的一種印刷電路板過孔內壁質量的檢測方法，其特征在于：所述步驟104中，Adaboost分類器的基本原理如下：Adaboost核心思想是針對同一個訓練集訓練不同的分類器，然后把這些弱分類器集合起來，從而構成一個更強的最終分類器；其通過改變數據分布來實現的，它根據每次訓練集之中每個樣本的分類是否正確，以及上次的總體分類的準確率，來決定每個樣本的權值；接著把修改過權值的新數據集送給下層分類器進行訓練，最后將每次訓練得到的分類器最后融合起來，作為最后的決策分類器。