[發明專利]一種降低碎米率的精制大米加工方法

在審

• 申請號: 201910323675.2
• 申請日: 2019-04-22
• 公開（公告）號: CN109999943A
• 公開（公告）日: 2019-07-12
• 發明（設計）人: 高小榮;高春;李友一;高楊;張云棟;胡焦;劉成;楊磊;盧萍
• 申請（專利權）人: 安徽捷迅光電技術有限公司
• 主分類號: B02B5/02
• 分類號: B02B5/02;B02B1/02;B02B7/00
• 代理公司: 北京輕創知識產權代理有限公司 11212
• 代理人: 沈尚林

1.一種降低碎米率的精制大米加工方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：

(1)稻谷篩選：先采用滾筒篩和振動篩，去除稻谷中的雜草和枝葉，然后采用風選法清除稻谷中的灰塵等輕雜質；

(2)去石：采用去石機去除稻谷中的石塊；

(3)礱谷：通過礱谷機去除稻谷殼；

(4)谷糙分離：采用谷糙分離機將糙米與未脫殼的稻谷分離開，分離率＞99％；

(5)糙米精選：采用厚度分級機對糙米進行厚度分級；

(6)多級輕碾：采用碾米機進行多級輕碾；

(7)白米分級拋光：采用白米分離篩將完整粒與不完整粒分離，然后利用拋光機對白米進行多級拋光；

(8)白米精選：利用色選機對步驟(7)得到的白米進行長度和顏色的精選分級，然后包裝入庫。

2.根據權利要求1所述的一種降低碎米率的精制大米加工方法，其特征在于：所述步驟(3)中，礱谷時，礱骨機膠棍的間隙不超過1.5mm，脫殼率＞87％。

3.根據權利要求1所述的一種降低碎米率的精制大米加工方法，其特征在于：所述步驟(8)中，所述色選機包括進料模塊、物料導引模塊、光學檢測模塊、光學成像模塊、圖像處理模塊、控制模塊，所述進料模塊用于向顆粒導引裝置傳送物料，所述物料導引模塊用于導引物料到檢測區，所述光學檢測模塊用于對檢測區的物料進行光照、光學檢測，所述光學檢測模塊中的光源包括前照明光源和背光光源，所述光學成像模塊對被照明的物料和背景進行成像，所述圖像處理模塊用于處理光學成像模塊傳輸的圖像信號，由圖像處理算法介入進行圖像處理，得到噴閥控制信號，進而通過氣動噴閥驅動器對噴閥進行開啟，實現對目標物料的分選。

4.根據權利要求3所述的一種降低碎米率的精制大米加工方法，其特征在于：所述圖像處理模塊采用嵌入式處理電路模塊。