[發(fā)明專利]多通道低頻CMOS串行圖像數(shù)據(jù)的訓(xùn)練方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910317652.0 | 申請(qǐng)日: | 2019-04-19 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110035244B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-03-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 余達(dá);劉金國(guó);郭永飛;司國(guó)良;張艷鵬;朱立祿;姜楠 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所 |
| 主分類號(hào): | H04N5/374 | 分類號(hào): | H04N5/374 |
| 代理公司: | 長(zhǎng)春眾邦菁華知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 22214 | 代理人: | 朱紅玲 |
| 地址: | 130033 吉*** | 國(guó)省代碼: | 吉林;22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 通道 低頻 cmos 串行 圖像 數(shù)據(jù) 訓(xùn)練 方法 | ||
多通道低頻CMOS串行圖像數(shù)據(jù)的訓(xùn)練方法,涉及一種多通道低頻CMOS串行圖像數(shù)據(jù)的訓(xùn)練方法,低頻晶振產(chǎn)生的時(shí)鐘經(jīng)時(shí)鐘分路器后,分頻產(chǎn)生頻率為finter的CMOS串行時(shí)鐘和頻率為fiodelay的參考時(shí)鐘送入成像控制器內(nèi)。成像控制器將頻率為finter的CMOS串行時(shí)鐘送入多通道CMOS探測(cè)器內(nèi),多通道CMOS探測(cè)器輸出的多通道數(shù)據(jù)送入成像控制器進(jìn)行串并轉(zhuǎn)換。圖2為成像控制器內(nèi)部單通道低頻CMOS串行圖像數(shù)據(jù)的處理流程圖,串行數(shù)據(jù)在頻率為2finter/n的低頻時(shí)鐘控制下,經(jīng)過(guò)參考頻率為fiodelay的Iodelay進(jìn)行精細(xì)的相位延時(shí),然后采用頻率為finter/2的DDR時(shí)鐘基于Iserdes進(jìn)行串并轉(zhuǎn)換,最終輸出n bit的并行數(shù)據(jù)。本發(fā)明根據(jù)五種采樣不穩(wěn)定位置的分布情況分別處理,從而獲得盡可能寬的數(shù)據(jù)穩(wěn)定采樣時(shí)序裕量,保證系統(tǒng)穩(wěn)定可靠工作。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明是一種多通道低頻CMOS串行圖像數(shù)據(jù)的訓(xùn)練方法,具體涉及一種基于航天應(yīng)用的多通道低頻CMOS串行圖像數(shù)據(jù)的訓(xùn)練方法。
背景技術(shù)
通常CMOS圖像傳感器輸出的串行圖像數(shù)據(jù)時(shí)鐘頻率高于IODELAY的參考時(shí)鐘頻率,在進(jìn)行位校正過(guò)程中串行數(shù)據(jù)的采樣位置遍歷整個(gè)時(shí)鐘周期;但在某些高軌道低分辨率對(duì)地觀測(cè)應(yīng)用中,串行圖像數(shù)據(jù)時(shí)鐘頻率低于IODELAY的參考時(shí)鐘頻率,可調(diào)節(jié)的采樣范圍低于數(shù)據(jù)時(shí)鐘周期,按照常規(guī)的串行數(shù)據(jù)訓(xùn)練方法存在僅能檢測(cè)到一個(gè)數(shù)據(jù)不穩(wěn)定區(qū)域甚至檢測(cè)不到數(shù)據(jù)不穩(wěn)定區(qū)域。若使用多個(gè)DCM來(lái)改變采樣時(shí)鐘的相位,采樣位置可遍歷整個(gè)數(shù)據(jù)時(shí)鐘周期,但存在單片F(xiàn)PGA內(nèi)DCM數(shù)量有限,使用多片F(xiàn)PGA會(huì)導(dǎo)致功耗、體積增大的問(wèn)題。若僅根據(jù)窄采樣范圍內(nèi)獲得的采樣信息來(lái)確定最佳數(shù)據(jù)采樣位置,直接盲目擴(kuò)大采樣區(qū)域?qū)е虏蓸映霈F(xiàn)亞穩(wěn)態(tài)的問(wèn)題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明為解決現(xiàn)有串行數(shù)據(jù)訓(xùn)練方法存在僅能檢測(cè)到一個(gè)數(shù)據(jù)跳變區(qū)域甚至檢測(cè)不到數(shù)據(jù)跳變區(qū)域,且根據(jù)窄采樣范圍內(nèi)獲得的采樣信息來(lái)確定最佳數(shù)據(jù)采樣位置,存在采樣裕量小或盲目擴(kuò)大采樣區(qū)域?qū)е虏蓸映霈F(xiàn)亞穩(wěn)態(tài)等問(wèn)題,提供一種多通道低頻CMOS串行圖像數(shù)據(jù)的訓(xùn)練系統(tǒng)。
多通道低頻CMOS串行圖像數(shù)據(jù)的訓(xùn)練系統(tǒng),包括成像控制器、時(shí)鐘分路器和低頻晶振;低頻晶振產(chǎn)生的時(shí)鐘經(jīng)時(shí)鐘分路器后,分頻產(chǎn)生頻率為finter的CMOS串行時(shí)鐘和參考頻率為fiodelay的參考時(shí)鐘并送入成像控制器,所述成像控制器將頻率為finter的CMOS串行時(shí)鐘送入多通道CMOS探測(cè)器,多通道CMOS探測(cè)器輸出的多通道數(shù)據(jù)送入成像控制器進(jìn)行串并轉(zhuǎn)換;所述訓(xùn)練系統(tǒng)在上電后進(jìn)行所有通道數(shù)據(jù)訓(xùn)練,待多通道CMOS探測(cè)器的溫度達(dá)到熱平衡后,再訓(xùn)練一次,最后輸出感光圖像;
串行數(shù)據(jù)在頻率為2finter/n的低頻時(shí)鐘控制下,經(jīng)過(guò)參考頻率為fiodelay的Iodelay元件進(jìn)行相位延時(shí),并采用頻率為finter/2的DDR時(shí)鐘基于Iserdes進(jìn)行串并轉(zhuǎn)換,最終輸出nbit的并行數(shù)據(jù);
位校正的實(shí)現(xiàn)方式具體為:
設(shè)定Iodelay元件的最小延遲為Delaystart,所述最小延遲Delay start值為0,Iodelay元件的最大延遲為Delay end,所述最大延遲Delay end值為tapmax,最終采樣點(diǎn)為eye middle,第一個(gè)有效采樣眼為eye start,第二個(gè)有效采樣眼為eye end;針對(duì)下述五種情況采用不同的處理方式;
一、延遲過(guò)程中未檢測(cè)到數(shù)據(jù)采樣不穩(wěn)定位置Dataunstable,則最終采樣點(diǎn)eyemiddle在Iodelay元件最大延遲值tapmax的中點(diǎn),Iodelay元件的延遲方向Delay direction為從0到最大延遲值tapmax遞增;則最終采樣眼的值為:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所,未經(jīng)中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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