[發(fā)明專利]多通道低頻CMOS串行圖像數(shù)據(jù)的訓(xùn)練方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910317652.0 | 申請(qǐng)日: | 2019-04-19 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110035244B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-03-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 余達(dá);劉金國(guó);郭永飛;司國(guó)良;張艷鵬;朱立祿;姜楠 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所 |
| 主分類號(hào): | H04N5/374 | 分類號(hào): | H04N5/374 |
| 代理公司: | 長(zhǎng)春眾邦菁華知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 22214 | 代理人: | 朱紅玲 |
| 地址: | 130033 吉*** | 國(guó)省代碼: | 吉林;22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 通道 低頻 cmos 串行 圖像 數(shù)據(jù) 訓(xùn)練 方法 | ||
1.多通道低頻CMOS串行圖像數(shù)據(jù)的訓(xùn)練系統(tǒng),包括成像控制器、時(shí)鐘分路器和低頻晶振;低頻晶振產(chǎn)生的時(shí)鐘經(jīng)時(shí)鐘分路器后,分頻產(chǎn)生頻率為finter的CMOS串行時(shí)鐘和參考頻率為fiodelay的參考時(shí)鐘并送入成像控制器,所述成像控制器將頻率為finter的CMOS串行時(shí)鐘送入多通道CMOS探測(cè)器,多通道CMOS探測(cè)器輸出的多通道數(shù)據(jù)送入成像控制器進(jìn)行串并轉(zhuǎn)換;其特征是:所述訓(xùn)練系統(tǒng)在上電后進(jìn)行所有通道數(shù)據(jù)訓(xùn)練,待多通道CMOS探測(cè)器的溫度達(dá)到熱平衡后,再訓(xùn)練一次,最后輸出感光圖像;
串行數(shù)據(jù)在頻率為2finter/n的低頻時(shí)鐘控制下,經(jīng)過(guò)參考頻率為fiodelay的Iodelay元件進(jìn)行相位延時(shí),并采用頻率為finter/2的DDR時(shí)鐘基于Iserdes進(jìn)行串并轉(zhuǎn)換,最終輸出n bit的并行數(shù)據(jù);
位校正的實(shí)現(xiàn)方式具體為:
設(shè)定Iodelay元件的最小延遲為Delay start,最小延遲Delay start值為0,Iodelay元件的最大延遲為Delay end,最大延遲Delay end值為tapmax,最終采樣點(diǎn)為eye middle,第一個(gè)有效采樣眼為eye start,第二個(gè)有效采樣眼為eye end;針對(duì)下述五種情況采用不同的處理方式;
一、延遲過(guò)程中未檢測(cè)到數(shù)據(jù)采樣不穩(wěn)定位置Data unstable,則最終采樣點(diǎn)eyemiddle在Iodelay元件最大延遲值tapmax的中點(diǎn),Iodelay元件的延遲方向Delay direction為從0到最大延遲值tapmax遞增;則最終采樣眼的值為:
tapeye middle=tapmax/2
二、延遲過(guò)程中檢測(cè)到一個(gè)小于中心延遲值數(shù)據(jù)采樣不穩(wěn)定位置Data unstable,最終采樣點(diǎn)eye middle在第一個(gè)有效采樣眼eye start和Iodelay元件最大延遲值tapmax的中點(diǎn);Iodelay元件的延遲方向Delay direction為從0到最大延遲值tapmax遞增;則最終采樣眼的值為:
tapeye middle=(tapeye start+tapmax)/2
三、延遲過(guò)程中檢測(cè)到一個(gè)大于中心延遲值數(shù)據(jù)采樣不穩(wěn)定位置Data unstable,最終采樣點(diǎn)eye middle在第一個(gè)有效采樣眼eye start和Iodelay元件最小延遲值0的中點(diǎn);Iodelay元件的延遲方向Delay direction為從0到第一個(gè)采樣眼的值tapeye start遞增,然后從第一個(gè)采樣眼的值tapeye start到0遞減;則最終采樣眼的值為:
tapeye middle=tapeye start/2
四、延遲過(guò)程中檢測(cè)到多于一個(gè)數(shù)據(jù)采樣不穩(wěn)定位置Data unstable,即,第一個(gè)有效采樣眼值小于Iodelay元件中心延遲值,在延遲結(jié)束時(shí)未檢測(cè)到采樣不穩(wěn)定位置,則最終采樣點(diǎn)eye middle在第一個(gè)有效采樣眼eye start和Iodelay元件最大延遲值tapmax的中點(diǎn);Iodelay元件的延遲方向Delay direction為從0到最大延遲值tapmax遞增;則最終采樣眼的值為:
tapeye middle=(tapeye start+tapmax)/2
五、延遲過(guò)程中檢測(cè)到多于一個(gè)數(shù)據(jù)采樣不穩(wěn)定位置Data unstable,即,第一個(gè)有效采樣眼值小于Iodelay元件中心延遲值,在延遲結(jié)束前已檢測(cè)到采樣不穩(wěn)定位置,則最終采樣點(diǎn)eye middle在第一個(gè)有效采樣眼eye start和第二次出現(xiàn)采樣不穩(wěn)定位置的中點(diǎn);Iodelay元件的延遲方向Delay direction為從0到第二個(gè)有效采樣眼的值tapeye end遞增;則最終采樣眼的值為:
tapeye middle=(tapeye start+tapeye end)/2。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所,未經(jīng)中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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