[發(fā)明專利]翻轉結構及晶圓甩干設備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910314580.4 | 申請日: | 2019-04-18 |
| 公開(公告)號: | CN110034051B | 公開(公告)日: | 2021-07-13 |
| 發(fā)明(設計)人: | 陳蘇偉;吳光慶;王勇威;劉建民;安穩(wěn)鵬 | 申請(專利權)人: | 北京半導體專用設備研究所(中國電子科技集團公司第四十五研究所) |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 王獻茹 |
| 地址: | 100176 北京市*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 翻轉 結構 晶圓甩干 設備 | ||
本發(fā)明涉及半導體晶圓加工裝置技術領域,尤其涉及一種翻轉結構及晶圓甩干設備。翻轉結構應用于晶圓甩干設備中,包括承載盒、轉盤和翻轉裝置;承載盒轉動連接于轉盤;翻轉裝置驅動連接承載盒,能夠驅動承載盒在轉盤上翻轉。晶圓甩干設備包括翻轉結構。本發(fā)明提供一種翻轉結構及晶圓甩干設備,以緩解現(xiàn)有技術中存在的晶圓甩干設備效率較低、浪費人力且易對晶圓造成污染的技術問題。
技術領域
本發(fā)明涉及半導體晶圓加工裝置技術領域,尤其是涉及一種翻轉結構及晶圓甩干設備。
背景技術
晶圓是指硅半導體集成電路制作所用的硅晶片,由于其形狀為圓形,故稱為晶圓。在硅晶片上可加工制作成各種電路元件結構,而成為有特定電性功能的電子元器件產(chǎn)品。而隨著半導體晶圓上集成電路尺寸向微米級發(fā)展,對半導體晶圓制作過程中的清洗要求也越來越高,尤其是半導體晶圓在制作過程中如遭到塵粒、金屬的污染,很容易造成晶片內電路功能的損壞,形成短路或斷路等,從而導致集成電路的失效以及影響幾何特征的形成。因此在制作過程中除了要排除外界的污染源外,還需要進行清洗工作,以在不破壞晶圓表面特性及電特性的前提下,有效地使用化學溶液或氣體清除殘留在晶圓上的微塵、金屬離子及有機物等雜質。
工業(yè)中典型的硅片濕法清洗流程為去除有機物和金屬→去除顆粒→去除金屬→在甩干單元中進行離心干燥。其中,對晶圓的干燥工藝中需要使用晶圓甩干設備,目前的晶圓甩干設備一般包括承載盒,承載盒內用于容納晶圓。晶圓甩干設備在對晶圓甩干處理前后,需要對承載盒進行手動翻轉,以便于取放晶圓,但是手動翻轉承載盒浪費了較多人力,降低了甩干效率,且易對晶圓造成污染。
因此,本申請針對上述問題提供一種新的翻轉結構及晶圓甩干設備。
發(fā)明內容
本發(fā)明的目的在于提供一種翻轉結構,以緩解現(xiàn)有技術中存在的晶圓甩干設備效率較低、浪費人力且易對晶圓造成污染的技術問題。
本發(fā)明的目的還在于提供一種晶圓甩干設備,以進一步緩解現(xiàn)有技術中存在的晶圓甩干設備效率較低、浪費人力且易對晶圓造成污染的技術問題。
基于上述第一目的,本發(fā)明提供一種翻轉結構,應用于晶圓甩干設備中,包括承載盒、轉盤和翻轉裝置;
所述承載盒轉動連接于所述轉盤;
所述翻轉裝置驅動連接所述承載盒,能夠驅動所述承載盒在所述轉盤上翻轉。
在上述技術方案中,進一步地,本發(fā)明的翻轉結構還包括支撐板;
所述支撐板固接于所述轉盤,且所述承載盒轉動連接于所述支撐板。
在上述任一技術方案中,進一步地,本發(fā)明所述翻轉裝置包括翻轉組件和動力組件;
所述動力組件驅動連接所述翻轉組件,且所述動力組件驅動所述翻轉組件運動時,所述翻轉組件能夠帶動所述承載盒翻轉。
在上述任一技術方案中,進一步地,本發(fā)明所述翻轉組件包括擺桿、傳動板、支撐軸和固接于機架的法蘭座;
所述擺桿插設于所述法蘭座,且與所述法蘭座轉動連接;
所述擺桿包括相對應的第一端和第二端,所述第二端固接于所述傳動板的一端,所述支撐軸固接于所述傳動板的另一端;
所述動力組件驅動連接所述支撐軸,且能夠驅動所述支撐軸帶動所述傳動板擺動,以令所述傳動板帶動所述擺桿轉動,從而所述擺桿的第一端帶動所述承載盒翻轉。
在上述任一技術方案中,進一步地,本發(fā)明所述翻轉組件還包括密封法蘭,所述密封法蘭固接于所述法蘭座;所述擺桿穿過所述密封法蘭后與所述法蘭座連接。
在上述任一技術方案中,進一步地,本發(fā)明所述翻轉裝置還包括密封組件;
所述密封組件包括第一密封圈、第二密封圈和第三密封圈;
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





