[發明專利]掩膜版的結構及形成方法在審
| 申請號: | 201910314411.0 | 申請日: | 2019-04-18 |
| 公開(公告)號: | CN109901360A | 公開(公告)日: | 2019-06-18 |
| 發明(設計)人: | 周嫻;晁陽;馬星 | 申請(專利權)人: | 德淮半導體有限公司 |
| 主分類號: | G03F1/54 | 分類號: | G03F1/54;G03F1/80 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 徐文欣;吳敏 |
| 地址: | 223302 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 擋光層 掩膜版 非透光區 透光區 吸附層 基板 曝光 暴露 | ||
一種掩膜版的結構及其形成方法,結構包括:基板,所述基板包括透光區和非透光區;位于非透光區表面的擋光層;位于擋光層表面的吸附層,所述擋光層和吸附層暴露出所述透光區。所述結構提升了用掩膜版進行曝光的精度。
技術領域
本發明涉及半導體制造技術領域,尤其涉及一種掩膜版的結構及其形成方法。
背景技術
光掩膜基板時制作微細光掩膜圖形的理想感光性空白板,通過光刻制板工藝可以獲得所需的掩膜版。
掩膜版的應用十分廣泛,在涉及光刻工藝的領域都需要用到掩膜版,如IC(Integrated Circuit,集成電路)、FPD(Flat Panel Display,平板顯示器)、PCB(PrintedCircuit Boards,印刷電路板)、MEMS(Micro Electro Mechanical System,微機電系統)等。
然而,用現有的掩膜版進行曝光的精度還有待提高。
發明內容
本發明解決的技術問題是一種掩膜版的結構及其形成方法,能夠提高掩膜版進行曝光的精度。
為解決上述技術問題,本發明提供一種掩膜版,包括:基板,所述基板包括透光區和非透光區;位于非透光區表面的擋光層;位于擋光層表面的吸附層,所述擋光層和吸附層暴露出所述透光區。
可選的,所述吸附層的材料包括多孔材料,所述多孔材料包括多孔碳材料。
可選的,所述多孔碳材料包括石墨烯或碳納米管。
可選的,所述基板的材料包括石英玻璃或蘇打玻璃。
可選的,所述基板的透光率大于或等于85%。
可選的,所述擋光層的材料包括金屬或金屬的化合物;所述金屬或金屬的化合物包括鉻、硅化鉬、鉻的氮氧化物或硅化鉬的氮氧化物中的一種或多種。
可選的,所述吸附層在基板表面具有第一投影,所述擋光層在基板表面具有第二投影,所述第一投影與所述第二投影重合。
可選的,所述吸附層在基板表面具有第一投影,所述擋光層在基板表面具有第二投影,所述第一投影在所述第二投影的范圍內,且所述第一投影的面積與第二投影的面積比為1/3~1/2。
可選的,所述吸附層的厚度范圍為20nm~80nm。
相應的,本發明還提供一種形成上述任一掩膜版的方法,包括:提供基板,所述基板包括透光區和非透光區;在所述非透光區表面形成擋光層和位于擋光層上的吸附層,所述擋光層和吸附層暴露出所述透光區。
可選的,所述擋光層和吸附層的形成方法包括:所述擋光層和吸附層的形成方法包括:在所述基板表面形成擋光膜;在所述擋光膜表面形成吸附膜;在所述吸附膜表面形成第一圖形化層,所述第一圖形化層暴露出部分吸附膜表面;以所述第一圖形化層為掩膜,刻蝕所述吸附膜直至暴露出所述擋光膜表面,在擋光膜表面形成所述吸附層;以所述第一圖形化層和吸附層為掩膜,刻蝕所述擋光膜直至暴露出基板表面,在基板非透光區表面形成所述擋光層和位于擋光層表面的吸附層。
可選的,形成所述吸附膜的工藝包括:沉積工藝或旋涂工藝;刻蝕所述吸附膜和擋光膜的工藝包括各向異性干法刻蝕工藝;形成所述擋光膜的工藝包括:沉積工藝。
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G03F 圖紋面的照相制版工藝,例如,印刷工藝、半導體器件的加工工藝;其所用材料;其所用原版;其所用專用設備
G03F1-00 用于圖紋面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其專門適用于此的容器;其制備
G03F1-20 .用于通過帶電粒子束(CPB)輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如通過電子束;其制備
G03F1-22 .用于通過100nm或更短波長輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射線掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制備
G03F1-36 .具有臨近校正特征的掩膜;其制備,例如光學臨近校正(OPC)設計工藝
G03F1-38 .具有輔助特征的掩膜,例如用于校準或測試的特殊涂層或標記;其制備





