[發明專利]精密檢測裝置、刀具輔件和機械加工系統

在審

• 申請號: 201910293553.3
• 申請日: 2019-04-12
• 公開（公告）號: CN109945759A
• 公開（公告）日: 2019-06-28
• 發明（設計）人: 董偉吉
• 申請（專利權）人: 赫克測控技術(蘇州)有限公司
• 主分類號: G01B5/012
• 分類號: G01B5/012;G01B5/016
• 代理公司: 蘇州智慧羅盤知識產權代理事務所(普通合伙) 32349
• 代理人: 王元博

本申請公開一種精密檢測裝置和刀具輔件和機械加工系統，其中精密檢測裝置包括：測桿,用于通過觸碰的方式檢測與待測對象之間的微間距；觸感反饋組件，用于將所述微間距信息進行反饋；復位組件，用于當所述測桿與待測對象之間為非接觸狀態時，將所述測桿進行復位；其中，所述復位組件包括至少兩個磁體。復位組件包括的至少兩個磁體通過磁力復位而不是機械復位，可以防止復位卡頓，從而可以防止精密檢測裝置復位失效。

技術領域

本申請涉及自動化技術領域，特別是涉及一種自動化生產線的精密檢測裝置、刀具輔件和機械加工系統。

背景技術

精密加工工藝的精度控制通常可以分為兩種方式,一種是使用加工中心加工完一個零部件后,進行測量以確認加工完畢的零部件是否滿足精度要求；另一種是在加工過程中即時獲得零部件的尺寸反饋以確認加工過程中的零部件是否滿足精度要求。

ZL 201210259206.7公開一種按照上述第二種方式工作的測頭。測頭包括殼體。殼體具有第一殼體單元、第二殼體單元和探針。第一殼體單元確定用于固定在機器處。探針可偏轉地支承在第二殼體單元處。測頭具有開關單元，包括第一接觸元件和第二接觸元件。第一接觸元件和第二接觸元件的布置方式使得第二殼體單元相對于第一殼體單元偏轉時第一接觸元件和第二接觸元件根據偏轉的方向可在不同的點處相互接觸并觸發開關單元從而可以發出電氣開關信號。

在實現現有技術過程中，發明人發現現有技術中至少存在如下問題：

第一殼體單元和第二殼體單元的復位依靠機械式彈簧裝置。可以理解的是，當彈簧與周圍發生干涉時，容易導致卡頓進而影響第二殼體單元相對于第一殼體單元復位。

發明內容

基于此，有必要針對精密檢測裝置內部的機構復位失效的技術問題，提供一種解決方案。

一種精密檢測裝置，其特征在于，包括：

測桿,用于通過觸碰的方式檢測與待測對象之間的微間距；

觸感反饋組件，用于將所述微間距信息進行反饋；

復位組件，用于當所述測桿與待測對象之間為非接觸狀態時，將所述測桿進行復位；

其中，所述復位組件包括至少兩個磁體。

在其中一個實施例中，所述觸感反饋組件包括壓力傳感器,用以表征壓力隨測桿與待測對象之間的微間距變化。

在其中一個實施例中，所述壓力傳感器套設于所述測桿。

在其中一個實施例中，所述精密檢測裝置還包括座體；

所述座體與至少兩個磁體中的一個磁體聯動；

所述測桿與至少兩個磁體中的另一個磁體聯動。

本申請還提供一種精密檢測裝置，包括：

外殼；

設置于外殼內的、可相對所述外殼偏轉的動芯；

與所述動芯聯動的、用于通過觸碰的方式檢測與待測對象之間的微間距的測桿；

其中，所述動芯相對所述外殼具有平衡態和偏轉態；

在平衡態下，所述測桿與待測對象之間為非接觸狀態；

在偏轉態下，所述測桿與待測對象之間為接觸狀態；

當所述測桿與待測對象脫離接觸時，所述動芯在磁力作用下復位到相對所述外殼的平衡態。

在其中一個實施例中，所述外殼設置有第一磁體；

所述動芯設置有相對所述第一磁體的第二磁體。