[發(fā)明專利]精密檢測(cè)裝置、刀具輔件和機(jī)械加工系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910293553.3 | 申請(qǐng)日: | 2019-04-12 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109945759A | 公開(公告)日: | 2019-06-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 董偉吉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 赫克測(cè)控技術(shù)(蘇州)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01B5/012 | 分類號(hào): | G01B5/012;G01B5/016 |
| 代理公司: | 蘇州智慧羅盤知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32349 | 代理人: | 王元博 |
| 地址: | 215131 江蘇省蘇州市*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 精密檢測(cè)裝置 復(fù)位 復(fù)位組件 測(cè)桿 機(jī)械加工系統(tǒng) 待測(cè)對(duì)象 微間距 輔件 刀具 非接觸狀態(tài) 反饋組件 方式檢測(cè) 磁力 復(fù)位卡 觸感 觸碰 反饋 申請(qǐng) | ||
1.一種精密檢測(cè)裝置,其特征在于,包括:
測(cè)桿,用于通過觸碰的方式檢測(cè)與待測(cè)對(duì)象之間的微間距;
觸感反饋組件,用于將所述微間距信息進(jìn)行反饋;
復(fù)位組件,用于當(dāng)所述測(cè)桿與待測(cè)對(duì)象之間為非接觸狀態(tài)時(shí),將所述測(cè)桿進(jìn)行復(fù)位;
其中,所述復(fù)位組件包括至少兩個(gè)磁體。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的精密檢測(cè)裝置,其特征在于,所述觸感反饋組件包括壓力傳感器,用以表征壓力隨測(cè)桿與待測(cè)對(duì)象之間的微間距變化。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的精密檢測(cè)裝置,其特征在于,所述壓力傳感器套設(shè)于所述測(cè)桿。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的精密檢測(cè)裝置,其特征在于,所述精密檢測(cè)裝置還包括座體;
所述座體與至少兩個(gè)磁體中的一個(gè)磁體聯(lián)動(dòng);
所述測(cè)桿與至少兩個(gè)磁體中的另一個(gè)磁體聯(lián)動(dòng)。
5.一種精密檢測(cè)裝置,其特征在于,包括:
外殼;
設(shè)置于外殼內(nèi)的、可相對(duì)所述外殼偏轉(zhuǎn)的動(dòng)芯;
與所述動(dòng)芯聯(lián)動(dòng)的、用于通過觸碰的方式檢測(cè)與待測(cè)對(duì)象之間的微間距的測(cè)桿;
其中,所述動(dòng)芯相對(duì)所述外殼具有平衡態(tài)和偏轉(zhuǎn)態(tài);
在平衡態(tài)下,所述測(cè)桿與待測(cè)對(duì)象之間為非接觸狀態(tài);
在偏轉(zhuǎn)態(tài)下,所述測(cè)桿與待測(cè)對(duì)象之間為接觸狀態(tài);
當(dāng)所述測(cè)桿與待測(cè)對(duì)象脫離接觸時(shí),所述動(dòng)芯在磁力作用下復(fù)位到相對(duì)所述外殼的平衡態(tài)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的精密檢測(cè)裝置,其特征在于,所述外殼設(shè)置有第一磁體;
所述動(dòng)芯設(shè)置有相對(duì)所述第一磁體的第二磁體。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的精密檢測(cè)裝置,其特征在于,所述精密檢測(cè)裝置還包括固定設(shè)置于外殼內(nèi)的壓力傳感器;
所述壓力傳感器套設(shè)于所述測(cè)桿。
8.一種刀具輔件,其特征在于,包括:
權(quán)利要求1-7中任一項(xiàng)所述的精密檢測(cè)裝置;
柄體,與所述精密檢測(cè)裝置固定連接,以便被夾持。
9.一種機(jī)械加工系統(tǒng),其特征在于,包括:
機(jī)床主體;
包括權(quán)利要求8中所述的刀具輔件的、供所述機(jī)床主體使用的刀具庫(kù)。
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