[發(fā)明專利]一種固態(tài)硬盤的測試裝置及方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910291329.0 | 申請日: | 2019-04-11 |
| 公開(公告)號: | CN109994147B | 公開(公告)日: | 2021-02-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王紹奎 | 申請(專利權(quán))人: | 環(huán)旭電子股份有限公司 |
| 主分類號: | G11C29/56 | 分類號: | G11C29/56 |
| 代理公司: | 上海碩力知識產(chǎn)權(quán)代理事務所(普通合伙) 31251 | 代理人: | 郭桂峰 |
| 地址: | 201210 上海市浦東新區(qū)張*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 固態(tài) 硬盤 測試 裝置 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種固態(tài)硬盤的測試裝置及方法,涉及固態(tài)硬盤測試領(lǐng)域,該測試裝置包括:主板,所述主板上具有至少兩個PCIE x4通道,每個PCIE x4通道中前兩個通道和后兩個通道分別作為兩個通道組;固態(tài)硬盤通過選擇芯片與主板上的三個通道組連接。本發(fā)明采用常規(guī)的主板和通用的選擇芯片組成的測試裝置只需導通選擇芯片不同的連接關(guān)系即可實現(xiàn)固態(tài)硬盤不同模式時PCIE通道的需求,切換時無需重新更新配置文件,切換時間較短,提高了測試效率;且無需特別零件的定制,成本低廉,易于推廣。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及固態(tài)硬盤測試領(lǐng)域,尤其涉及一種固態(tài)硬盤的測試裝置及方法。
背景技術(shù)
隨著技術(shù)的發(fā)展,固態(tài)硬盤(Solid State Disk,SSD)可配置成單端口(SinglePort)模式,也可配置成雙端口(Dual Port)模式,在制造出具有這兩種模式的SSD后,就需要對其進行這兩種模式的測試。
SSD配置成雙端口模式時需要兩個獨立的PCIE x2(總線數(shù)為2的PCIE總線,PCIE的中文含義是外圍組件互聯(lián)表達)通道(lane),配置成單端口模式時需要一個獨立的PCIE x4(總線數(shù)為4的PCIE總線)通道。目前通用的X86(英特爾公司生產(chǎn)的一種處理器)或ARM CPU/SOC(精簡指令集微處理器/系統(tǒng)級芯片)原生的PCIE(Peripheral ComponentInterconnect Express,外圍組件互聯(lián)表達)根節(jié)點最小可配置單元為x4通道,也就是說,測試單端口模式時使用的獨立的PCIE x4通道不可以配置為兩個獨立的PCIE x2通道來支持雙端口模式。
針對這種方式,當前SSD專業(yè)測試設(shè)備制造商都是采用開發(fā)專用FPGA(Field-Programmable Gate Array,現(xiàn)場可編程門陣列)的方式來實現(xiàn),即此FPGA使用不同的配置文件,使PCIE根節(jié)點最小可配置單元在x2和x4之間切換。
這些測試方案的主要弊端是開發(fā)成本太高,測試過程中切換SSD模式(即,從測試單端口模式切換至測試雙端口模式,或從測試雙端口模式切換至測試單端口模式)時需要重新更新FPGA的配置文件,整個耗費的切換時間會比較長,影響測試效率,且測試設(shè)備是專門定制,成本高昂。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種固態(tài)硬盤的測試裝置及方法,無需專門定制測試設(shè)備,采用通用的零件組成測試裝置,降低成本,且測試固態(tài)硬盤的不同模式時,無需重新更新配置文件,切換時間較短,提高測試效率。
本發(fā)明提供的技術(shù)方案如下:
一種固態(tài)硬盤的測試裝置,包括:主板,所述主板上具有至少兩個PCIE X4通道,每個PCIE x4通道中前兩個通道和后兩個通道分別作為兩個通道組;固態(tài)硬盤通過選擇芯片與主板上的三個通道組連接。
在上述技術(shù)方案中,采用常規(guī)的主板和通用的選擇芯片組成的測試裝置只需導通選擇芯片不同的連接關(guān)系即可實現(xiàn)固態(tài)硬盤不同模式時PCIE通道的需求,切換時無需重新更新配置文件,切換時間較短,提高了測試效率;且無需特別零件的定制,成本低廉,易于推廣。
進一步,當所述固態(tài)硬盤為一個時,所述固態(tài)硬盤的一端口連接至第一PCIE x4通道中的一個通道組,所述固態(tài)硬盤的另一端口通過選擇芯片連接至第一PCIE x4通道中的另一個通道組和第二PCIE x4通道中的一個通道組。
在上述技術(shù)方案中,僅采用了一個二選一功能的選擇芯片即可在常規(guī)主板上實現(xiàn)對固態(tài)硬盤的不同模式的測試,成本低廉,切換靈活,執(zhí)行效率高。
進一步,所述選擇芯片具有一個非選擇端口和可二選一的第一選擇端口、第二選擇端口;所述固態(tài)硬盤的另一端口連接至所述選擇芯片的非選擇端口,所述選擇芯片的第一選擇端口連接至第一PCIE x4通道中的另一個通道組,所述選擇芯片的第二選擇端口連接至第二PCIE x4通道中的一個通道組。
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