[發(fā)明專利]一種固態(tài)硬盤的測試裝置及方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910291329.0 | 申請日： | 2019-04-11 |
| 公開（公告）號： | CN109994147B | 公開（公告）日： | 2021-02-02 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 王紹奎 | 申請（專利權(quán)）人： | 環(huán)旭電子股份有限公司 |
| 主分類號： | G11C29/56 | 分類號： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 上海碩力知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31251 | 代理人： | 郭桂峰 |
| 地址： | 201210 上海市浦東新區(qū)張*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 固態(tài) 硬盤 測試 裝置 方法 | ||
1.一種固態(tài)硬盤的測試裝置，其特征在于，包括：
主板，所述主板上具有至少兩個PCIE x4通道，每個PCIE x4通道中前兩個通道和后兩個通道分別作為兩個通道組；
固態(tài)硬盤通過選擇芯片與主板上的三個通道組連接；
所述固態(tài)硬盤通過選擇芯片與主板上的三個通道組連接包括：
所述選擇芯片具有一個非選擇端口和可二選一的第一選擇端口、第二選擇端口；
當(dāng)所述固態(tài)硬盤為一個時，所述固態(tài)硬盤的一端口連接至第一PCIE x4通道中的一個通道組，所述固態(tài)硬盤的另一端口連接至所述選擇芯片的非選擇端口，所述選擇芯片的第一選擇端口連接至第一PCIE x4通道中的另一個通道組，所述選擇芯片的第二選擇端口連接至第二PCIE x4通道中的一個通道組。
2.如權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤的測試裝置，其特征在于，當(dāng)所述固態(tài)硬盤為兩個時，兩個所述固態(tài)硬盤通過多個所述選擇芯片分別與主板上的三個通道組連接。
3.如權(quán)利要求2所述的固態(tài)硬盤的測試裝置，其特征在于：
第一固態(tài)硬盤的一端口通過第一選擇芯片連接至第一PCIE x4通道中的一個通道組；第一固態(tài)硬盤的另一端口通過第二選擇芯片連接至第一PCIE x4通道中的另一個通道組，以及，依次通過第二選擇芯片和第三選擇芯片連接至第二PCIE x4通道中的一個通道組；
第二固態(tài)硬盤的一端口通過第三選擇芯片連接至第二PCIE x4通道中的一個通道組；第二固態(tài)硬盤的另一端口通過第四選擇芯片連接至第二PCIE x4通道中的另一個通道組，以及，依次通過第四選擇芯片和第一選擇芯片連接至第一PCIE x4通道中的一個通道組。
4.如權(quán)利要求3所述的固態(tài)硬盤的測試裝置，其特征在于：
第一固態(tài)硬盤的一端口連接至第一選擇芯片的第一選擇端口，第一選擇芯片的非選擇端口連接至第一PCIE x4通道中的一個通道組；
第一固態(tài)硬盤的另一端口連接至第二選擇芯片的非選擇端口，第二選擇芯片的第一選擇端口連接至第一PCIE x4通道中的另一個通道組；第二選擇芯片的第二選擇端口連接至第三選擇芯片的第一選擇端口，第三選擇芯片的非選擇端口連接至第二PCIE x4通道中的一個通道組。
5.如權(quán)利要求3所述的固態(tài)硬盤的測試裝置，其特征在于：
第二固態(tài)硬盤的一端口連接至第三選擇芯片的第二選擇端口，第三選擇芯片的非選擇端口連接至第二PCIE x4通道中的一個通道組；
第二固態(tài)硬盤的另一端口連接至第四選擇芯片的非選擇端口，第四選擇芯片的第一選擇端口連接至第二PCIE x4通道中的另一個通道組；第四選擇芯片的第二選擇端口連接至第一選擇芯片的第二選擇端口，第一選擇芯片的非選擇端口連接至第一PCIE x4通道中的一個通道組。
6.一種應(yīng)用于權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤的測試裝置的測試方法，其特征在于，包括：
當(dāng)測試固態(tài)硬盤的單端口模式時，導(dǎo)通選擇芯片連接至第一PCIE x4通道中的另一個通道組的端口；
當(dāng)測試固態(tài)硬盤的雙端口模式時，導(dǎo)通選擇芯片連接至第二PCIE x4通道中的一個通道組的端口。
7.一種應(yīng)用于權(quán)利要求4所述的固態(tài)硬盤的測試裝置的測試方法，其特征在于，包括：
當(dāng)測試第一固態(tài)硬盤的單端口模式時，導(dǎo)通第一選擇芯片的第一選擇端口和第二選擇芯片的第一選擇端口；
當(dāng)測試第一固態(tài)硬盤的雙端口模式時，導(dǎo)通第一選擇芯片的第一選擇端口、第二選擇芯片的第二選擇端口和第三選擇芯片的第一選擇端口。
8.一種應(yīng)用于權(quán)利要求5所述的固態(tài)硬盤的測試裝置的測試方法，其特征在于，包括：
當(dāng)測試第二固態(tài)硬盤的單端口模式時，導(dǎo)通第三選擇芯片的第二選擇端口和第四選擇芯片的第一選擇端口；
當(dāng)測試第二固態(tài)硬盤的雙端口模式時，導(dǎo)通第三選擇芯片的第二選擇端口、第四選擇芯片的第二選擇端口和第一選擇芯片的第二選擇端口。
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