[發(fā)明專利]改善光阻附著力的方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910275747.0 | 申請(qǐng)日: | 2019-04-08 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110083015A | 公開(公告)日: | 2019-08-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 彭釗 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市華星光電技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G03F7/16 | 分類號(hào): | G03F7/16 |
| 代理公司: | 深圳翼盛智成知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙) 44300 | 代理人: | 黃威 |
| 地址: | 518132 廣東*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 附著力 玻璃基板 光阻 烷氧基硅烷 基板 化學(xué)反應(yīng) 玻璃玻璃 回收利用 疏水基團(tuán) 水解產(chǎn)物 吸附 | ||
本發(fā)明公開一種改善光阻附著力的方法,包括以下步驟:S10提供一玻璃基板;以及S20提供一烷氧基硅烷至所述玻璃基板,使所述烷氧基硅烷與所述玻璃玻璃基板進(jìn)行化學(xué)反應(yīng),得到一表面帶有疏水基團(tuán)的玻璃基板以及一水解產(chǎn)物。利用本發(fā)明之改善光阻附著力的方法,使基板能有效吸附有機(jī)光阻,且過(guò)程中產(chǎn)物易于回收利用。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明是有關(guān)于一種光阻制程工藝,特別是有關(guān)于一種改善光阻附著力的方法。
背景技術(shù)
有機(jī)光阻在整個(gè)光阻(PR)工藝(PR涂布,PR顯影,PR剝離)中具備很好的掩膜特性,在后期的曝光顯影及蝕刻后能夠得到理想的膜層形狀,其中光阻涂布過(guò)程中有機(jī)光阻和基板的附著力尤其重要。目前基板在進(jìn)入光阻涂布機(jī)前,會(huì)先進(jìn)入六甲基二硅氮烷(HMDS)的處理裝置,對(duì)基板表面進(jìn)行疏水化修飾,從而增加基板對(duì)有機(jī)光阻的附著力。
圖1為現(xiàn)有光刻工藝中六甲基二硅氮烷(HMDS)的作用機(jī)制示意圖。在現(xiàn)有光刻工藝中,六甲基二硅氮烷(HMDS)首先得去水干燥(100℃-120℃),此時(shí)會(huì)產(chǎn)生過(guò)大的能耗;其次將六甲基二硅氮烷(HMDS)涂覆于基板表面來(lái)增加光阻(PR)與基板之間的緊密性,此過(guò)程會(huì)產(chǎn)生NH3,進(jìn)而增加尾氣處理的成本。
因此,基于上述種種弊端,亟需一種改善光阻附著力的方法,使基板能有效吸附有機(jī)光阻,且過(guò)程中產(chǎn)物易于回收利用;提供一種能取代六甲基二硅氮烷(HMDS)的材料,進(jìn)一步降低能耗,減少整個(gè)光阻制程的成本。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本發(fā)明提供一種改善光阻附著力的方法,利用含大量疏水基團(tuán)的烷氧基硅烷(烷氧基的化性活潑且易水解或醇解)取代常規(guī)的六甲基二硅氮烷(HMDS),涂布在基板上,利用烷氧基與水的水解縮合作用,在基板上生成大量的疏水基團(tuán),達(dá)到有效吸附有機(jī)光阻的作用,且過(guò)程中產(chǎn)物為對(duì)應(yīng)的醇類,產(chǎn)物易回收利用;其次,由于烷氧基硅烷取代了常規(guī)的六甲基二硅氮烷(HMDS),可進(jìn)一步降低在涂布光阻材料的前段制程的能耗,減少整個(gè)光阻制程的成本。
據(jù)此,依據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例,提供一種改善光阻附著力的方法,包括以下步驟:S10提供一玻璃基板;以及S20提供一烷氧基硅烷至所述玻璃基板,使所述烷氧基硅烷與所述玻璃玻璃基板進(jìn)行化學(xué)反應(yīng),得到一表面帶有疏水基團(tuán)的玻璃基板以及一水解產(chǎn)物。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中,所述烷氧基硅烷具有以下化學(xué)式1:
(R1)n(R2)mSi-(OR3)y,
在化學(xué)式1中,R1、R2及R3各自獨(dú)立地為含碳數(shù)1-5之直鏈或支鏈烷基,
其中n為1至3的正整數(shù);m為0至2的正整數(shù);y為1至3的正整數(shù);
且n+m+y=4。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中,所述烷氧基硅烷包括以下至少一者:三甲基甲氧基硅烷、叔丁基二甲基甲氧基硅烷、二甲基二甲氧基硅烷、及其組合。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中,所述疏水基團(tuán)具有以下化學(xué)式2:
(R1)n(R2)mSi-O-,
在化學(xué)式2中,R1及R2各自獨(dú)立地為含碳數(shù)1-5之直鏈或支鏈烷基,
其中n為1至3的正整數(shù);m為0至2的正整數(shù);且n+m=3。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中,所述化學(xué)反應(yīng)的溫度為20℃-100℃。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中,所述化學(xué)反應(yīng)的時(shí)間為10秒-100秒。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中,所述的改善光阻附著力的方法更包括步驟S30收集所述水解產(chǎn)物。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中,所述水解產(chǎn)物為一醇類。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于深圳市華星光電技術(shù)有限公司,未經(jīng)深圳市華星光電技術(shù)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910275747.0/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G03F 圖紋面的照相制版工藝,例如,印刷工藝、半導(dǎo)體器件的加工工藝;其所用材料;其所用原版;其所用專用設(shè)備
G03F7-00 圖紋面,例如,印刷表面的照相制版如光刻工藝;圖紋面照相制版用的材料,如:含光致抗蝕劑的材料;圖紋面照相制版的專用設(shè)備
G03F7-004 .感光材料
G03F7-12 .網(wǎng)屏印刷模或類似印刷模的制作,例如,鏤花模版的制作
G03F7-14 .珂羅版印刷模的制作
G03F7-16 .涂層處理及其設(shè)備
G03F7-20 .曝光及其設(shè)備





