[發(fā)明專利]光學(xué)校正裝置及方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910253313.0 | 申請日: | 2019-03-29 |
| 公開(公告)號: | CN110044907B | 公開(公告)日: | 2022-03-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 李豪 | 申請(專利權(quán))人: | 昆山國顯光電有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88;G01N21/93;G02B5/00;G02F1/13;G02F1/1343 |
| 代理公司: | 北京三聚陽光知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11250 | 代理人: | 李博洋 |
| 地址: | 215300 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光學(xué) 校正 裝置 方法 | ||
本申請公開了一種光學(xué)校正裝置及方法,屬于自動光學(xué)檢測技術(shù)領(lǐng)域。所述光學(xué)校正裝置包括:用于向目標檢測物照射檢測光的檢測光源,用于根據(jù)檢測光照射到目標檢測物后的反射光生成控制信號的控制模塊,設(shè)置在檢測光源與目標檢測物之間,用于根據(jù)控制信號控制檢測光的進光量的控光裝置。本申請通過在自動光學(xué)檢測設(shè)備AOI中設(shè)置光學(xué)校正裝置,該光學(xué)校正裝置可通過控制模塊向控光裝置發(fā)送回控制信號,該控制信號可使控光裝置控制檢測光的進光量,因此能夠通過控制信號使反射光的光強處于預(yù)設(shè)范圍內(nèi),從而解決了相關(guān)技術(shù)中AOI的光學(xué)校正容易造成漏檢的問題,提高了AOI的檢測準確度。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請涉及自動光學(xué)檢測技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種光學(xué)校正裝置及方法。
背景技術(shù)
自動光學(xué)檢測設(shè)備(Automated Optical Inspection,AOI)是基于光學(xué)原理來對焊接生產(chǎn)中遇到的常見缺陷進行檢測的設(shè)備。為了保證檢測的準確性,AOI需要不定期進行光學(xué)校正(Glue)。
相關(guān)技術(shù)中,AOI的光學(xué)校正方法為:通過光纖傳導(dǎo)檢測光源的檢測光并使之垂直入射在玻璃基板上,得到反射光,圖像傳感器根據(jù)反射光的光強產(chǎn)生電信號傳輸至控制模塊,控制模塊根據(jù)電信號的灰階值,通過預(yù)設(shè)的對比算法檢測是否具有缺陷。
通常,AOI中的每個光纖對應(yīng)一個圖像傳感器,每兩個光纖對應(yīng)一個檢測光源,由于每個光纖的光傳導(dǎo)能力具有差異,因此在相同的光強的情況下,兩個光纖傳導(dǎo)至圖像傳感器的光強不同。例如,檢測光源分別與光纖1和光纖2連接,光纖1對應(yīng)圖像傳感器1,光纖2對應(yīng)圖像傳感器2,當圖像傳感器1處于正常光強的工作狀態(tài)中,圖像傳感器2處于偏低光強的工作狀態(tài)時,工作人員需要將檢測光源的光強調(diào)高,從而使圖像傳感器2處于正常光強的工作狀態(tài)中,然而由于檢測光源的光強被調(diào)高,從而導(dǎo)致原先處于正常光強的工作狀態(tài)的圖像傳感器1處于偏高光強的工作狀態(tài),因此圖像傳感器1傳輸至控制模塊的電信號并不準確,進而導(dǎo)致AOI的漏檢。
發(fā)明內(nèi)容
因此,本申請要解決的技術(shù)問題在于克服相關(guān)技術(shù)中AOI的光學(xué)校正方法容易造成漏檢的缺陷,從而提供一種光學(xué)校正裝置及方法。
一方面,本申請實施例提供了一種光學(xué)校正裝置,包括:
檢測光源,用于向目標檢測物照射檢測光;
控制模塊,用于根據(jù)所述檢測光照射到所述目標檢測物后的反射光生成控制信號;
控光裝置,設(shè)置在所述檢測光源與所述目標檢測物之間,用于根據(jù)所述控制信號控制所述檢測光的進光量。
在一個可選的實施例中,所述控光裝置用于當所述反射光的光強大于第一信號閾值時,減小所述檢測光的進光量以使得所述反射光的光強處于預(yù)設(shè)范圍內(nèi);或者
當所述反射光的光強小于第二信號閾值時,增大所述檢測光的進光量以使得所述反射光的光強處于預(yù)設(shè)范圍內(nèi),所述第二信號閾值小于所述第一信號閾值。
在一個可選的實施例中,所述控制模塊包括圖像傳感器,所述圖像傳感器用于根據(jù)接收到的所述反射光的光強產(chǎn)生電信號,使得所述控制模塊根據(jù)所述電信號產(chǎn)生所述控制信號。
在一個可選的實施例中,所述控光裝置包括透射率可變的電光層。
在一個可選的實施例中,所述電光層為液晶層,所述控光裝置還包括:
第一透明基板和第二透明基板,所述液晶層設(shè)置于所述第一透明基板和所述第二透明基板之間;
所述控光裝置的控制端口包括第一導(dǎo)電膜和第二導(dǎo)電膜,所述控制模塊的控制端口包括第一電極與第二電極,所述第一電極與所述第一導(dǎo)電膜連接,所述第二電極和所述第二導(dǎo)電膜連接;
所述控光裝置,還用于根據(jù)控制模塊通過所述第一電極和所述第二電極輸出的電信號控制所述液晶層中液晶分子旋轉(zhuǎn)。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
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