[發明專利]光學校正裝置及方法

有效

• 申請號: 201910253313.0
• 申請日: 2019-03-29
• 公開（公告）號: CN110044907B
• 公開（公告）日: 2022-03-01
• 發明（設計）人: 李豪
• 申請（專利權）人: 昆山國顯光電有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01N21/93;G02B5/00;G02F1/13;G02F1/1343
• 代理公司: 北京三聚陽光知識產權代理有限公司 11250
• 代理人: 李博洋

1.一種用于自動光學檢測設備的光學校正裝置，其特征在于，包括：

檢測光源，用于向目標檢測物照射檢測光；

控制模塊，用于根據所述檢測光照射到所述目標檢測物后的反射光生成控制信號；

控光裝置，設置在所述檢測光源與所述目標檢測物之間，用于根據所述控制信號控制所述檢測光的進光量；

所述控光裝置用于當所述反射光的光強大于第一信號閾值時，減小所述檢測光的進光量以使得所述反射光的光強處于預設范圍內；或者

當所述反射光的光強小于第二信號閾值時，增大所述檢測光的進光量以使得所述反射光的光強處于預設范圍內，所述第二信號閾值小于所述第一信號閾值；

所述第一信號閾值和第二信號閾值根據所述控制模塊的正常工作范圍確定。

2.根據權利要求1所述的用于自動光學檢測設備的光學校正裝置，其特征在于，所述控制模塊包括圖像傳感器，所述圖像傳感器用于根據接收到的所述反射光的光強產生電信號，使得所述控制模塊根據所述電信號產生所述控制信號。

3.根據權利要求1所述的用于自動光學檢測設備的光學校正裝置，其特征在于，所述控光裝置包括透射率可變的電光層。

4.根據權利要求3所述的用于自動光學檢測設備的光學校正裝置，其特征在于，所述電光層為液晶層，所述控光裝置還包括：

第一透明基板和第二透明基板，所述液晶層設置于所述第一透明基板和所述第二透明基板之間；

所述控光裝置的控制端口包括第一導電膜和第二導電膜，所述控制模塊的控制端口包括第一電極與第二電極，所述第一電極與所述第一導電膜連接，所述第二電極和所述第二導電膜連接；

所述控光裝置，還用于根據控制模塊通過所述第一電極和所述第二電極輸出的電信號控制所述液晶層中液晶分子旋轉。

5.根據權利要求1所述的用于自動光學檢測設備的光學校正裝置，其特征在于，所述控光裝置包括通光光圈的面積可調節的光圈裝置。

6.根據權利要求5所述的用于自動光學檢測設備的光學校正裝置，其特征在于，所述光圈裝置包括多個光圈葉片以及第一驅動部件，所述多個光圈葉片形成所述通光光圈，所述第一驅動部件的控制端口與所述控制模塊的控制端口連接；

所述控制模塊，還用于向所述第一驅動部件發送光圈控制信號；

所述第一驅動部件，用于根據所述光圈控制信號產生運動，通過所述運動驅動所述多個光圈葉片沿所述光圈裝置的半徑方向運動。

7.根據權利要求1所述的用于自動光學檢測設備的光學校正裝置，其特征在于，所述控光裝置包括可調節通光孔的通光部件。

8.根據權利要求7所述的用于自動光學檢測設備的光學校正裝置，其特征在于，所述控光裝置包括所述通光部件、第二驅動部件以及遮擋部件，所述第二驅動部件的控制端口與所述控制模塊的控制端口連接；

所述通光部件沿周長方向設置有至少兩個不同面積的孔，所述遮擋部件遮擋所述至少兩個孔中除所述通光孔以外的其它孔；

所述控制模塊，還用于向所述第二驅動部件發送通光孔控制信號；

所述第二驅動部件，用于根據所述通光孔控制信號產生運動，通過所述運動驅動所述通光部件沿所述周長方向運動；或者，

用于通過所述運動驅動所述遮擋部件沿所述周長方向運動。

9.一種用于自動光學檢測設備的光學校正方法，其特征在于，所述光學校正方法應用于權利要求1-8任一項所述的用于自動光學檢測設備的光學校正裝置，所述光學校正方法包括：

向目標檢測物照射檢測光；

接收根據所述檢測光照射到所述目標檢測物后的反射光；

根據所述反射光控制所述檢測光的進光量，當所述反射光的光強大于第一信號閾值時，減小所述檢測光的進光量以使得所述反射光的光強處于預設范圍內；或者

當所述反射光的光強小于第二信號閾值時，增大所述檢測光的進光量以使得所述反射光的光強處于預設范圍內，所述第二信號閾值小于所述第一信號閾值。