[發明專利]一種3D NAND存儲器件及其制造方法在審
| 申請號: | 201910252214.0 | 申請日: | 2019-03-29 |
| 公開(公告)號: | CN109935595A | 公開(公告)日: | 2019-06-25 |
| 發明(設計)人: | 肖莉紅;周玉婷;李思晢;湯召輝;許健 | 申請(專利權)人: | 長江存儲科技有限責任公司 |
| 主分類號: | H01L27/11556 | 分類號: | H01L27/11556;H01L27/11582 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 黨麗;王寶筠 |
| 地址: | 430074 湖北省武漢市洪山區東*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 核心存儲 堆疊層 臺階區 分區 存儲單元串 漸進變化 接觸塞 襯底 柵線 制造 延伸 保證 | ||
1.一種3D NAND存儲器件,其特征在于,包括:
襯底;
所述襯底上由柵極層和柵極間介電層交替層疊的堆疊層,所述堆疊層包括核心存儲區以及臺階區,所述第一軸為所述襯底表面所在平面內沿所述核心存儲區延伸的軸;
所述核心存儲區中的溝道孔,所述溝道孔中形成有存儲單元串;
所述臺階區的分區臺階,沿第一軸方向所述分區臺階中臺階的長度呈漸進變化。
2.根據權利要求2所述的存儲器件,其特征在于,沿第一軸方向所述分區臺階中臺階的長度呈漸進變化為:沿第一軸方向所述分區臺階中各臺階的長度逐級呈漸進變化。
3.根據權利要求1所述的存儲器件,其特征在于,沿第一軸方向所述分區臺階劃分為多個區域,每個區域中的臺階具有基本相同的長度,沿第一軸方向所述分區臺階中臺階的長度呈漸進變化為:沿第一軸方向所述分區臺階中各區域間臺階的長度呈漸進變化。
4.根據權利要求3所述的存儲器件,其特征在于,所述多個區域分別為頂部區域、中部區域和底部區域。
5.根據權利要求1-4中任一項所述的存儲器件,其特征在于,所述漸進變化為從頂層臺階至底層臺階長度依次遞增。
6.根據權利要求1-4中任一項所述的存儲器件,其特征在于,所述漸進變化為從頂層臺階至底層臺階長度依次遞減。
7.根據權利要求1所述的存儲器件,其特征在于,所述分區臺階包括的n個分區,第1分區位于中心,第2分區至第n分區沿第二軸的兩個方向依次排布,且沿所述第一軸朝向所述核心存儲區方向,各分區的臺階依次遞增n級,沿所述第二軸的兩個方向,每一層的臺階從第n分區至第1分區依次遞增1級,n為大于1的自然數,所述第二軸為所述襯底表面所在平面內與所述第一軸正交的軸。
8.根據權利要求1所述的存儲器件,還包括:所述分區臺階的臺階上的接觸結構。
9.一種3D NAND存儲器件的制造方法,其特征在于,包括:
提供襯底,所述襯底上形成有堆疊層,所述堆疊層包括核心存儲區以及臺階區;
在所述臺階區形成分區臺階,沿第一軸方向所述分區臺階中臺階的長度呈漸進變化,所述第一軸為所述襯底表面所在平面內沿所述核心存儲區延伸的軸;
在所述核心存儲區中形成存儲單元串。
10.根據權利要求9所述的制造方法,其特征在于,所述分區臺階包括的n個分區,第1分區位于中心,第2分區至第n分區沿第二軸的兩個方向依次排布,且沿所述第一軸朝向所述核心存儲區方向,各分區的臺階依次遞增n級,沿所述第二軸的兩個方向,每一層的臺階從第n分區至第1分區依次遞增1級,n為大于1的自然數,所述第二軸為所述襯底表面所在平面內與所述第一軸正交的軸。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





