[發明專利]集成電路光學芯片光圈測試方法

有效

• 申請號: 201910251137.7
• 申請日: 2019-03-29
• 公開（公告）號: CN110031188B
• 公開（公告）日: 2021-08-27
• 發明（設計）人: 王華;張志勇;鄧維維;余琨;季海英;羅斌
• 申請（專利權）人: 上海華嶺集成電路技術股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01R31/303;G01N21/95
• 代理公司: 上海海貝律師事務所 31301
• 代理人: 范海燕

本發明公開了一種集成電路光學芯片光圈測試方法，對抓取到的圖像陣列按照圓的概念進行處理，處理的方法即是通過半徑來劃分，得到一個一個的圓形圖案，按照坐標進行重構為另外的一個二維數組，然后對得到的數組進行相應的運算，最終得到需要的值；本發明提供的集成電路光學芯片光圈測試方法，在不增加任何的額外硬件成本，使用原有的測試條件下，本發明解決目前行業內無成熟覆蓋屏幕指紋芯片光圈故障的測試方法和算法的技術問題。

技術領域

本技術方案應用于屏下指紋芯片測試，具體是一種集成電路光學芯片光圈測試方法。

背景技術

現有技術中，對于集成電路光學芯片光圈測試，通常情況下采用垂直的均勻光照射芯片感光陣列，每個像素輸出是均勻分布，因為芯片本身特性，中間像素感光照度較高，邊緣較低，圖1為一款208*160陣列屏下指紋識別芯片通過抓取到的數據還原的圖像。常規的測試算法是將陣列的數據抓取到以后，通過目前成熟的算法計算圖像均值、行/列均值找出壞行壞列、圖像中壞點、Shading(亮度差異較大的部分)等參數，這些檢測方法或者說算法都是基于陣列的行、列、點、塊進行測試。屏下指紋芯片在某些特定故障或者條件下會出現光圈的現象，出現光圈的像素單元本身在行、列、或者固定區域內都不是最大或者最小值，從而通過以上的算法無法檢測出光圈的失效，本申請方案提供的集成電路光學芯片光圈測試方法，即是解決光圈測試中的上述問題。

發明內容

本發明為解決上述技術問題而采用的技術方案是提供一種集成電路光學芯片光圈測試方法，屏下指紋芯片測試中通過使用光源照射待測芯片感光陣列(比如208*160，共計33280個像素)，感光陣列每個像素根據不同的光照度產生微弱電流，電流經過內部AD轉換器輸出，測試通過ATE設備抓取AD轉換器輸出的數據，通過對所有像素數據進行運算，從而得到相應的芯片技術參數其中。

為實現上述技術效果，本發明采用的具體技術方案為：

對抓取到的圖像陣列按照圓的概念進行處理，處理的方法即是通過半徑來劃分，得到一個一個的圓形圖案，按照坐標進行重構為另外的一個二維數組，然后對得到的數組進行相應的運算，最終得到需要的值；

具體如下步驟進行：

1)抓取到圖像，將圖像按照X、Y坐標排列成二維陣列；

2)根據待測陣列的尺寸，以陣列的行Y、列X值小的一半為光圈的最大半徑R；

3)以原圖像中心坐標為圓心，坐標0 0，將原圖像進行轉換；

4)從圓心為坐標中心，半徑為1開始，查找在圓半徑上的坐標；

5)根據選取的坐標以R為半徑重新構成一個二維數組；

6)按照行數組求取每個數組中所有坐標對應像素的均值；

7)將得到的均值轉換為一維數組，M[]＝[M1,M2,M3……MN]；

8)將一維數組M中元素按照相鄰相減的原則進行運算；

X1＝M2-M1；

X2＝M3-M2；

XN-1＝MN-MN-1

通過運算后得到一維數組X[]＝[X1,X2……XN-1]；

9)求取數組X絕對值最大值；

將絕對值最大值與需要進行光圈判斷的標準進行比較，超過標準值即判斷為光圈測試失效，否則即為合格。

上述的集成電路光學芯片光圈測試方法，其中：1)步驟，通常情況下陣列中每個坐標可以表示為X、Y，該坐標對應的值即為該點的像素值。