[發明專利]一種陣列式發光元件質量檢測系統及其使用方法

在審

• 申請號: 201910249324.1
• 申請日: 2019-03-29
• 公開（公告）號: CN109959498A
• 公開（公告）日: 2019-07-02
• 發明（設計）人: 林威添;胡莎
• 申請（專利權）人: 珠海達明科技有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 廣州市紅荔專利代理有限公司 44214
• 代理人: 王賢義

本發明旨在提供一種陣列式發光元件質量檢測系統及其使用方法，可實現對陣列式發光元件進行點亮并自動計算合格光源數量，發光點尺寸及壞點數量，同時將壞點位置能在測試界面上顯示出來。本發明包括底板、工控機、旋轉機構、載具、光學處理儀器及點亮裝置，所述工控機藏于所述底板的底部，所述載具可對稱固定放置在所述旋轉機構的兩端，所述光學處理儀器設置在所述旋轉機構的上方，所述點亮裝置配合設置在所述光學處理儀器的下方，所述旋轉機構、所述載具、所述光學處理儀器及所述點亮裝置均與所述工控機電信號連接。本發明應用于光學元件測試的技術領域。

技術領域

本發明涉及一種光學元件測試領域，特別涉及一種陣列式發光元件質量檢測系統及其使用方法。

背景技術

隨著發光元件應用場合的不斷擴大，對其需求量日益增多，以至于對其質量測試需求不斷增加，目前國內較多的是對于單個發光元件的檢測，并且一般為手動或半自動測試，無法滿足大批量的發光元件測試，而且對于用眾多芯片排布成的陣列式元件發光沒有統一性，發光角度不大，因此是無法進行測試的，其缺陷包括以下幾點：1、目前對光源檢測的設備主要為單次單個元件進行檢測，無法同時對多光源進行檢測，并自動計算出符合要求的光源數量及壞點位置；2、利用檢測通過發光元件的電流大小在不在預定范圍內來判斷多個光源中是否有發光元件損壞是目前較多的檢測方式，但此種方式檢測結果不夠直觀，同時可擴展性較小；3、現有發光元件測試設備具有結構復雜，自動化程度較低，不適用于大批量的光學元件測試的缺點。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是克服現有技術的不足，提供了一種陣列式發光元件質量檢測系統，可實現對陣列式發光元件進行點亮并自動計算合格光源數量，發光點尺寸及壞點數量，同時將壞點位置能在測試界面上顯示出來。

本發明所采用的技術方案是：本發明包括底板、工控機、旋轉機構、載具、光學處理儀器及點亮裝置，所述工控機藏于所述底板的底部，所述載具可對稱固定放置在所述旋轉機構的兩端，所述光學處理儀器設置在所述旋轉機構的上方，所述點亮裝置配合設置在所述光學處理儀器的下方，所述旋轉機構、所述載具、所述光學處理儀器及所述點亮裝置均與所述工控機電信號連接。

由上述方案可見，待測元件放置在所述載具上，由所述旋轉機構實現將所述載具旋轉至所述光學處理儀器的下方，所述點亮裝置上升與所述載具上的待測元件相接觸并點亮待測元件，由所述光學處理儀器所記錄拍攝，最終將相關數據傳輸到所述工控機上，所以，本發明可通過點亮待測元件并自動計算合格光源數量，發光點尺寸及壞點數量，同時將壞點位置能在測試界面上顯示出來，其檢測效率高且檢測效果好。

一個優選方案是，所述工控機通過驅動板與所述點亮裝置電信號連接，所述工控機通過TEC驅動板與所述載具電信號連接，所述工控機通過源表與所述光學處理儀器電信號連接。

一個優選方案是，所述旋轉機構包括旋轉動力組件及與所述旋轉動力組件傳動連接的承載板，所述承載板的兩端均設有凹槽和定位機構，所述定位機構和所述凹槽均與所述載具相配合設置。

由上述方案可見，所述旋轉機構具有兩個工位，即兩端設置的凹槽，用于放置所述載具；所述定位機構具有所述載具放置后的定位功能及旋轉到位定位功能；當放置完第一個所述載具并將其旋轉到位后，此時在另一個工位可放置一個新的所述載具，可實現待測元件的快速交替，保證測試連續性，提高測試效率；同時，先將待測元件放置于所述載具上，再將其放置在所述旋轉機構上，對成像區域來說有雙重的定位保證，確保批量測試產品的一致性。

一個優選方案是，所述旋轉動力組件采用氣缸、步進電機或伺服電機中的一種或多種組合。

一個優選方案是，所述載具上設有放置槽及配合設置在所述放置槽上的定位組件。

由上述方案可見，待測元件放在所述放置槽上，所述定位組件可保證每次放置的待測元件位置準確性。