[發明專利]一種陣列式發光元件質量檢測系統及其使用方法

在審

• 申請號: 201910249324.1
• 申請日: 2019-03-29
• 公開（公告）號: CN109959498A
• 公開（公告）日: 2019-07-02
• 發明（設計）人: 林威添;胡莎
• 申請（專利權）人: 珠海達明科技有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 廣州市紅荔專利代理有限公司 44214
• 代理人: 王賢義

1.一種陣列式發光元件質量檢測系統，其特征在于：它包括底板（1）、工控機（6）、旋轉機構（2）、載具（3）、光學處理儀器（4）及點亮裝置（5），所述工控機（6）藏于所述底板（1）的底部，所述載具（3）可對稱固定放置在所述旋轉機構（2）的兩端，所述光學處理儀器（4）設置在所述旋轉機構（2）的上方，所述點亮裝置（5）配合設置在所述光學處理儀器（4）的下方，所述旋轉機構（2）、所述載具（3）、所述光學處理儀器（4）及所述點亮裝置（5）均與所述工控機（6）電信號連接。

2.根據權利要求1所述的一種陣列式發光元件質量檢測系統，其特征在于：所述工控機（6）通過驅動板（7）與所述點亮裝置（5）電信號連接，所述工控機（6）通過TEC驅動板（8）與所述載具（3）電信號連接，所述工控機（6）通過源表（9）與所述光學處理儀器（4）電信號連接。

3.根據權利要求1所述的一種陣列式發光元件質量檢測系統，其特征在于：所述旋轉機構（2）包括旋轉動力組件及與所述旋轉動力組件傳動連接的承載板（10），所述承載板（10）的兩端均設有凹槽（11）和定位機構，所述定位機構和所述凹槽（11）均與所述載具（3）相配合設置。

4.根據權利要求3所述的一種陣列式發光元件質量檢測系統，其特征在于：所述旋轉動力組件采用氣缸、步進電機或伺服電機中的一種或多種組合。

5.根據權利要求1所述的一種陣列式發光元件質量檢測系統，其特征在于：所述載具（3）上設有放置槽及配合設置在所述放置槽上的定位組件。

6.根據權利要求1所述的一種陣列式發光元件質量檢測系統，其特征在于：所述光學處理儀器（4）包括工業相機及依次設置在所述工業相機下方的鏡筒透鏡、中性濾光片和物鏡。

7.根據權利要求1所述的一種陣列式發光元件質量檢測系統，其特征在于：所述點亮裝置（5）包括點亮氣缸（12）及與所述點亮氣缸（12）傳動連接的探針。

8.一種如權利要求1所述的一種陣列式發光元件質量檢測系統的測試方法，其特征在于，該測試方法包括以下步驟：

a、當待測元件置隨著所述載具（3）旋轉至光學測試區域且所述點亮裝置（5）上的探針與待測元件接觸時，所述工控機（6）輸出信號至驅動板（7），所述驅動板（7）供給所述探針電壓，此時形成回路，將待測元件點亮；

b、所述工控機（6）輸出信號至TEC驅動板（8），對待測元件進行溫度控制保護，避免損壞；

c、所述工控機（6）輸出信號至源表（9），觸發工業相機對待測元件進行拍照；

d、所述工業相機通過鏡筒透鏡和物鏡對待測元件顯微成像，放大倍率為7倍；

e、所述工業相機采集待測元件圖像，并傳輸至所述工控機（6），由軟件對圖像進行處理。

9.根據權利要求8所述的一種測試方法，其特征在于，所述軟件對圖像進行處理過程為：

S1、在采集的圖像中選取待測試區域；

S2、通過閾值分割獲取一個確定閾值，將背景與待測圖像區分開；

S3、人工設定待測圖像灰度閾值，對于灰度小于該灰度閾值的單個發光元件，則判斷其為壞點，通過統計符合灰度閾值的區域便可自動計算出符合要求的發光元件數量；

S4、統計單個發光元件區域包含的像素數量便可自動獲得單個發光點尺寸；

S5、以起始陣列點為原點，根據各發光點的相對位置可獲得每一個發光點的坐標，從而得出產品發光陣列位置，同時便可獲取壞點位置，并將結果在測試界面顯示出來。