[發(fā)明專利]一種微型片式陶瓷電容批量老化及測試方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910242261.7 | 申請日: | 2019-03-28 |
| 公開(公告)號: | CN109946488A | 公開(公告)日: | 2019-06-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 熊焰明;高敬一 | 申請(專利權(quán))人: | 江蘇伊施德創(chuàng)新科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/04 | 分類號: | G01R1/04;G01R31/00 |
| 代理公司: | 無錫盛陽專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 32227 | 代理人: | 顧吉云 |
| 地址: | 214028 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 夾具 電容 老化 測試 老化板 片式陶瓷 電容封裝 測試機(jī) 老化機(jī) 插裝 裝載 | ||
本發(fā)明提供了一種微型片式陶瓷電容批量老化及測試方法,能夠使電容在連續(xù)進(jìn)行老化和測試時(shí)效率高。先將電容封裝在封閉式夾具中,當(dāng)要進(jìn)行測試時(shí),將其插入測試機(jī)中進(jìn)行測試,其特征在于:當(dāng)需要進(jìn)行老化時(shí),先將裝有電容的封閉式夾具插裝在老化板上,每個老化板上的封閉式夾具數(shù)量大于等于2個,再將裝載有封閉式夾具的老化板插入老化機(jī)進(jìn)行老化。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電容檢測技術(shù)領(lǐng)域,具體為一種微型片式陶瓷電容批量老化及測試方法。
背景技術(shù)
微型片式陶瓷電容MLCC已向0402及0201甚至更小的方向發(fā)展,在高可靠級別篩選所需的測試及老化工序操作時(shí)不能丟失電容。而另一種單層陶瓷電容SLCC采用精密的金層電極用于金線焊接工藝,不允許電極表面受到任何損傷。為滿足上述情況,現(xiàn)有技術(shù)已發(fā)展出封閉的工裝夾具例如申請?zhí)枮镃N201520419225.0的一種用于單層電容的測試夾具,采用這種夾具進(jìn)行測試既不損傷電容電極,也不會在操作中丟失電容,雖然該申請中也提到了可以將夾具直接用于老化,由于老化時(shí)間非常長,直接用夾具插在老化機(jī)上進(jìn)行老化,效率低,難以實(shí)現(xiàn)大批量的老化,并且由于老化機(jī)成本較高,不能有效利用老化機(jī)。
現(xiàn)有技術(shù)也有采用獨(dú)立老化座的方式,每個老化座內(nèi)部可以裝載一顆電容,也可以裝載多個電容,以全并聯(lián)方式進(jìn)行加電老化,但是雖然能夠提升老化效率,但是由于每個電容不能有獨(dú)立電連接線引出,所以采用獨(dú)立老化座的方式不能用于測量,也不能測量每個電容的電接觸狀態(tài)。而由于夾具裝料及卸料需要一定的操作時(shí)間,所以如果采用老化座的方式進(jìn)行老化,再拆卸老化座,用上述測試夾具進(jìn)行測試,同樣效率較低,還可能因更換夾具導(dǎo)致電容遺失,同時(shí)也不利于電容的追蹤。
發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有電容在連續(xù)進(jìn)行老化和測試效率低的問題,本發(fā)明提供了一種微型片式陶瓷電容批量老化及測試方法,能夠使電容在連續(xù)進(jìn)行老化和測試時(shí)效率高。
其技術(shù)方案是這樣的:一種微型片式陶瓷電容批量老化及測試方法,先將電容封裝在封閉式夾具中,當(dāng)要進(jìn)行測試時(shí),將裝有電容的封閉式夾具插入測試機(jī)中進(jìn)行測試,其特征在于:當(dāng)需要進(jìn)行老化時(shí),先將裝有電容的封閉式夾具插裝在老化板上,每個老化板上的封閉式夾具數(shù)量大于等于2個,再將裝載有封閉式夾具的老化板插入老化機(jī)進(jìn)行老化。
其進(jìn)一步特征在于:
所述封閉式夾具通過夾具插座插裝到老化板上后,每個電容的一端通過老化板上的夾具插口與老化板上的一個限流電阻相連,電阻另一端與夾具上的其它所有電容所串接電阻的另一端并接在一起,形成老化加電的一端;電容的另一端通過老化板上的插口接至老化板上,與其它電容的同一端串接在一起,構(gòu)成老化加電的另一端;
在將裝載有封閉式夾具的老化板插入老化機(jī)進(jìn)行老化前,先將其插入接觸測試裝置確定夾具內(nèi)電容接觸是否良好;
所述測試機(jī)上設(shè)有兩個測試插口,所述測試插口與控制器電控連接,分別用于容量、損耗測試和絕緣電阻、耐壓測試;
所述測試機(jī)連接有加熱箱,所述加熱箱內(nèi)設(shè)有測試插口用于在高溫下測量絕緣電阻。
采用了這樣的方法后,在將電容封裝于封閉式夾具中后,如果需要進(jìn)行測試,直接將封閉式夾具插入測試機(jī)中進(jìn)行測試即可,如果要進(jìn)行老化,通過將封閉式夾具插裝在老化板上,再將插裝有多個封閉式夾具的老化板插裝在老化機(jī)的一個插口上進(jìn)行老化,實(shí)現(xiàn)大批量老化,大大提升了老化效率。
附圖說明
圖1為封閉式夾具安裝于老化板上后的結(jié)構(gòu)圖;
圖2為測試機(jī)結(jié)構(gòu)圖;
圖3為老化機(jī)結(jié)構(gòu)圖;
圖4為電容安裝于老化板上后的電路圖。
具體實(shí)施方式
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G01R 測量電變量;測量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
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G01R1-36 .電測量儀器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路





