[發明專利]一種微型片式陶瓷電容批量老化及測試方法

在審

• 申請號: 201910242261.7
• 申請日: 2019-03-28
• 公開（公告）號: CN109946488A
• 公開（公告）日: 2019-06-28
• 發明（設計）人: 熊焰明;高敬一
• 申請（專利權）人: 江蘇伊施德創新科技有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/00
• 代理公司: 無錫盛陽專利商標事務所(普通合伙) 32227
• 代理人: 顧吉云

1.一種微型片式陶瓷電容批量老化及測試方法，先將電容封裝在封閉式夾具中，當要進行測試時，將裝有電容的封閉式夾具插入測試機中進行測試，其特征在于：當需要進行老化時，先將裝有電容的封閉式夾具插裝在老化板上，每個老化板上的封閉式夾具數量大于等于2個，再將裝載有封閉式夾具的老化板插入老化機進行老化。

2.根據權利要求1所述的一種微型片式陶瓷電容批量老化及測試方法，其特征在于：所述封閉式夾具通過夾具插座插裝到老化板上后，每個電容的一端通過老化板上的夾具插口與老化板上的一個限流電阻相連，電阻另一端與夾具上的其它所有電容所串接電阻的另一端并接在一起，形成老化加電的一端；電容的另一端通過老化板上的插口接至老化板上，與其它電容的同一端串接在一起，構成老化加電的另一端。

3.根據權利要求1所述的一種微型片式陶瓷電容批量老化及測試方法，其特征在于：在將裝載有封閉式夾具的老化板插入老化機進行老化前，先將其插入接觸測試裝置確定夾具內電容接觸是否良好。

4.根據權利要求1所述的一種微型片式陶瓷電容批量老化及測試方法，其特征在于：所述測試機上設有兩個測試插口，所述測試插口與控制器電控連接，分別用于容量、損耗測試和絕緣電阻、耐壓測試。

5.根據權利要求1或4所述的一種微型片式陶瓷電容批量老化及測試方法，其特征在于：所述測試機連接有加熱箱，所述加熱箱內設有測試插口用于在高溫下測量絕緣電阻。