[發明專利]數據點模型處理方法及系統、檢測方法及系統、可讀介質

在審

• 申請號: 201910234448.2
• 申請日: 2019-03-26
• 公開（公告）號: CN111754385A
• 公開（公告）日: 2020-10-09
• 發明（設計）人: 陳魯;呂肅;李青格樂;張嵩
• 申請（專利權）人: 深圳中科飛測科技有限公司
• 主分類號: G06T3/00
• 分類號: G06T3/00;G06T17/20
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明提供一種數據點模型處理方法及其系統、檢測方法及系統、可讀介質，其中，所述數據點模型處理方法包括：將待處理模型劃分為若干個網格；對各個網格進行標記處理，將所述待處理模型標記為二值圖像形成網格圖像；對所述網格圖像進行連通域判斷，當網格圖像包括分離的主網格圖像和附加網格圖像時，獲取所述附加網格圖像；從所述初始模型中去除所述附加網格圖像中數據點對應的初始數據點。所述數據點模型處理方法能夠加快處理速度，從而增加檢測速度。

技術領域

本發明涉及數據點模型處理領域，特別涉及一種數據點模型處理方法及其系統、檢測方法及其系統、可讀介質。

背景技術

隨著現代工業的發展，精密加工被用到越來越多的領域；同時，對于加工精度也有越來越高的要求。為了滿足加工精度的需求，提高加工樣品的合格率，需要經常對加工過程及加工的產品進行關于形貌畸變的測試，以確保畸變在可容忍范圍內。

現有的畸變檢測方法可以分為接觸式檢測方法和非接觸式檢測方法。接觸式檢測方法，例如三坐標檢測，在檢測時探頭需要與待測物接觸，從而容易對待測物產生損傷。非接觸式檢測方法，包括光學檢測方法，例如雙目視覺、色散共聚焦及結構光檢測，不與待測物接觸，能夠減少待測物的損傷和畸變，其應用越來越廣泛。

在通過光學檢測方法檢測待測物畸變的過程中，需要對待測物表面進行掃描，生產三維點云。在掃描過程中，容易檢測到待測物周圍物體，從而所獲取的三維點云既包括待測物的檢測信息也包括待測物周圍物體的附加檢測信息。所述附加檢測信息容易被當做待測物體的一部分，從而導致出現誤檢。

現有技術中去除所述附加檢測信息的方法較復雜，導致檢測效率較低。

發明內容

本發明解決的問題是提供一種數據點模型處理方法，能夠提高數據點模型處理的速度，從而提高檢測速度，減少誤檢率。

為解決上述問題，本發明提供一種數據點模型處理方法，包括：提供初始模型，所述初始模型包括相互分離的主模型和附加模型，所述主模型和附加模型均包括初始數據點；根據初始模型形成待處理模型，所述初始數據點形成待處理模型中的數據點；將待處理模型劃分為若干個網格；對各個網格進行標記處理，將所述待處理模型標記為二值圖像形成網格圖像；對所述網格圖像進行連通域判斷，當網格圖像包括分離的主網格圖像和附加網格圖像時，獲取所述附加網格圖像；從所述初始模型中去除所述附加網格圖像中數據點對應的初始數據點，形成目標模型。

可選的，所述初始模型為三維點云；所述待處理模型為二維圖像；根據初始模型形成待處理模型的步驟包括：提供投影方向；沿投影方向對所述初始模型進行投影處理，形成所述待處理模型。

可選的，所述投影方向的個數為多個，所述數據點模型處理方法還包括：重復循環操作處理直至獲取所有附加模型的附加網格圖像，所述循環操作處理包括所述投影處理至連通域判斷的步驟。

可選的，所述附加模型的個數為多個，所述重復循環操作處理還包括：從所述初始模型中去除所述附加網格圖像中數據點對應的初始數據點；或者，重復循環操作處理直至獲取所有附加模型的附加網格圖像之后，從所述初始模型中去除所有附加網格圖像中數據點對應的初始數據點。

可選的，根據初始模型形成待處理模型的步驟包括：使所述待處理模型與初始模型相同，所述數據點與所述初始數據點相同。

可選的，所述標記處理的步驟包括：設置第一數量閾值；使網格中數據點的個數與所述第一數量閾值進行比較，當所述網格中數據點的個數大于或大于等于所述第一數量閾值時，將所述網格標記為像點；否則，將網格標記為空白點。