[發(fā)明專利]基板修復(fù)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910219438.1 | 申請(qǐng)日: | 2019-03-21 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109814289A | 公開(公告)日: | 2019-05-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鄭佩莎;何人杰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市華星光電技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G02F1/13 | 分類號(hào): | G02F1/13;G02F1/1362;H01L21/66;H01L21/67 |
| 代理公司: | 深圳市德力知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 44265 | 代理人: | 林才桂;王中華 |
| 地址: | 518132 廣東*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基板 機(jī)臺(tái) 電性 修復(fù) 不良檢測(cè) 不良代碼 電性檢測(cè) 基板修復(fù) 產(chǎn)品良率 信息提供 自動(dòng)判斷 準(zhǔn)確率 篩選 | ||
本發(fā)明提供一種基板修復(fù)方法,包括如下步驟:提供一電性檢測(cè)機(jī)臺(tái),通過(guò)所述電性檢測(cè)機(jī)臺(tái)對(duì)各個(gè)基板進(jìn)行電性檢測(cè),獲得各個(gè)基板的電性不良檢測(cè)信息;提供一修復(fù)機(jī)臺(tái),將各個(gè)基板的電性不良檢測(cè)信息提供至修復(fù)機(jī)臺(tái);所述修復(fù)機(jī)臺(tái)根據(jù)所述各個(gè)基板的電性不良檢測(cè)信息對(duì)各個(gè)基板進(jìn)行修復(fù);根據(jù)各個(gè)基板的電性不良檢測(cè)信息及修復(fù)情況,確定各個(gè)基板的電性不良代碼,并將各個(gè)基板的電性不良代碼輸入修復(fù)機(jī)臺(tái);所述修復(fù)機(jī)臺(tái)根據(jù)各個(gè)基板的電性不良代碼,自動(dòng)判斷各個(gè)基板是否需要重修,并為需要重修的基板添加重修標(biāo)記,篩選出帶有重修標(biāo)記的基板,并對(duì)帶有重修標(biāo)記的基板進(jìn)行重修,能夠提升重修的效率和準(zhǔn)確率,改善產(chǎn)品良率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種基板修復(fù)方法。
背景技術(shù)
隨著顯示技術(shù)的發(fā)展,液晶顯示器(Liquid Crystal Display,LCD)等平面顯示裝置因具有高畫質(zhì)、省電、機(jī)身薄及應(yīng)用范圍廣等優(yōu)點(diǎn),而被廣泛的應(yīng)用于手機(jī)、電視、個(gè)人數(shù)字助理、數(shù)字相機(jī)、筆記本電腦、臺(tái)式計(jì)算機(jī)等各種消費(fèi)性電子產(chǎn)品,成為顯示裝置中的主流。
現(xiàn)有市場(chǎng)上的液晶顯示裝置大部分為背光型液晶顯示器,其包括液晶顯示面板及背光模組(backlight module)。液晶顯示面板的工作原理是在兩片平行的玻璃基板當(dāng)中放置液晶分子,兩片玻璃基板中間有許多垂直和水平的細(xì)小電線,通過(guò)通電與否來(lái)控制液晶分子改變方向,將背光模組的光線折射出來(lái)產(chǎn)生畫面。
通常液晶顯示面板由彩膜基板(CF,Color Filter)、薄膜晶體管基板(TFT,ThinFilm Transistor)、夾于彩膜基板與薄膜晶體管基板之間的液晶(LC,Liquid Crystal)及密封膠框(Sealant)組成,其成型工藝一般包括:前段陣列(Array)制程(薄膜、黃光、蝕刻及剝膜)、中段成盒(Cell)制程(TFT基板與CF基板貼合)及后段模組組裝制程(驅(qū)動(dòng)IC與印刷電路板壓合)。其中,前段Array制程主要是形成TFT基板,以便于控制液晶分子的運(yùn)動(dòng);中段Cell制程主要是在TFT基板與CF基板之間添加液晶;后段模組組裝制程主要是驅(qū)動(dòng)IC壓合與印刷電路板的整合,進(jìn)而驅(qū)動(dòng)液晶分子轉(zhuǎn)動(dòng),顯示圖像。
在陣列基板制作過(guò)程中,由于各種因素的影響,可能導(dǎo)致金屬導(dǎo)線包括掃描線和數(shù)據(jù)線存在斷路或短路等線不良的情況。為了修補(bǔ)此類陣列基板的線不良,現(xiàn)有技術(shù)一般是先對(duì)基板進(jìn)行電性檢測(cè),然后根據(jù)檢測(cè)信息對(duì)基板進(jìn)行修復(fù),接著再根據(jù)修復(fù)情況判定是否需要重修(例如本次修復(fù)未找到不良位置而未能進(jìn)行修復(fù)或本次修復(fù)雖然已經(jīng)進(jìn)行了修復(fù)但不能確定是否修復(fù)成功時(shí)均需要進(jìn)行重修),再由操作人員手動(dòng)在系統(tǒng)中為需要重修的基板添加重修標(biāo)記(Flag),重修標(biāo)記一般包括標(biāo)記為斷路不良的第一重修標(biāo)記(Flag1)及標(biāo)記為短路不良的第二重修標(biāo)記,最后對(duì)帶有重修標(biāo)記的基板進(jìn)行重修,其中,添加重修標(biāo)記的過(guò)程中為操作員手動(dòng)記錄對(duì)應(yīng)基板ID(Identification,身份編碼),然后再到生產(chǎn)系統(tǒng)中找到對(duì)應(yīng)的基板ID,手動(dòng)在對(duì)應(yīng)的基板ID后面輸入對(duì)應(yīng)的重修標(biāo)記,該過(guò)程全程有操作員手動(dòng)完成,在實(shí)際操作時(shí),效率低下,且容易出現(xiàn)漏設(shè)重修標(biāo)記、第一重修標(biāo)記及第二重修標(biāo)記混淆、重修標(biāo)記與基板ID對(duì)應(yīng)錯(cuò)誤等問(wèn)題;進(jìn)一步地,現(xiàn)有技術(shù),在基板修復(fù)之后,操作人員還會(huì)在修復(fù)機(jī)臺(tái)中輸入基板的等級(jí)代碼,用于判斷基板的質(zhì)量等級(jí)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種基板修復(fù)方法,能夠根據(jù)基板的電性不良代碼,自動(dòng)為基板添加重修標(biāo)記,提升重修的效率和準(zhǔn)確率,改善產(chǎn)品良率。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供了一種基板修復(fù)方法,包括如下步驟:
步驟S1、提供一電性檢測(cè)機(jī)臺(tái),通過(guò)所述電性檢測(cè)機(jī)臺(tái)對(duì)各個(gè)基板進(jìn)行電性檢測(cè),獲得各個(gè)基板的電性不良檢測(cè)信息;
步驟S2、提供一修復(fù)機(jī)臺(tái),將各個(gè)基板的電性不良檢測(cè)信息提供至修復(fù)機(jī)臺(tái);
步驟S3、所述修復(fù)機(jī)臺(tái)根據(jù)所述各個(gè)基板的電性不良檢測(cè)信息對(duì)各個(gè)基板進(jìn)行修復(fù);
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于深圳市華星光電技術(shù)有限公司,未經(jīng)深圳市華星光電技術(shù)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910219438.1/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G02F 用于控制光的強(qiáng)度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如轉(zhuǎn)換、選通、調(diào)制或解調(diào),上述器件或裝置的光學(xué)操作是通過(guò)改變器件或裝置的介質(zhì)的光學(xué)性質(zhì)來(lái)修改的;用于上述操作的技術(shù)或工藝;變頻;非線性光學(xué);光學(xué)
G02F1-00 控制來(lái)自獨(dú)立光源的光的強(qiáng)度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如,轉(zhuǎn)換、選通或調(diào)制;非線性光學(xué)
G02F1-01 .對(duì)強(qiáng)度、相位、偏振或顏色的控制
G02F1-29 .用于光束的位置或方向的控制,即偏轉(zhuǎn)
G02F1-35 .非線性光學(xué)
G02F1-355 ..以所用材料為特征的
G02F1-365 ..在光波導(dǎo)結(jié)構(gòu)中的





