[發(fā)明專利]外觀檢測設(shè)備及方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910171963.0 | 申請日: | 2019-03-07 |
| 公開(公告)號: | CN111665250A | 公開(公告)日: | 2020-09-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 韋桂明;丁亮;陳永明;汪良良;劉剛;王一琪;孟祥吉;宋道磊;柯光磊;孫孝央;陳璐;徐陳聰;郭春玲;倪錫榮 | 申請(專利權(quán))人: | 寧波舜宇光電信息有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88 |
| 代理公司: | 北京英賽嘉華知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11204 | 代理人: | 王達(dá)佐;王艷春 |
| 地址: | 315400 浙江*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 外觀 檢測 設(shè)備 方法 | ||
1.一種外觀檢測設(shè)備,其特征在于,所述外觀檢測設(shè)備包括:
機(jī)架;
模組拾取裝置,設(shè)置在所述機(jī)架的第一端部以拾取待測試模組;以及
視覺拍攝裝置,設(shè)置在所述機(jī)架的與所述第一端部相對的第二端部處,所述視覺拍攝裝置包括:
驅(qū)動裝置,具有沿X軸方向驅(qū)動的第一驅(qū)動機(jī)構(gòu)和沿Y軸方向驅(qū)動的第二驅(qū)動機(jī)構(gòu);
相機(jī),在朝向所述模組拾取裝置的一側(cè)固定在所述驅(qū)動裝置上,以通過所述第一驅(qū)動機(jī)構(gòu)和所述第二驅(qū)動機(jī)構(gòu)的驅(qū)動而在所述X軸方向和所述Y軸方向上移動,從而能夠?qū)λ龃郎y試模組的不同位置進(jìn)行拍攝;以及
組合光源,包括多種光源,所述多種光源可控制為根據(jù)所述待測試模組的不同位置的材質(zhì)切換為與所述材質(zhì)對應(yīng)的光源。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的外觀檢測設(shè)備,其特征在于,
所述外觀檢測設(shè)備還包括控制器,當(dāng)所述相機(jī)與所述待測試模組的不同位置對準(zhǔn)時,所述控制器根據(jù)預(yù)先設(shè)置的所述待測試模組的不同位置的材質(zhì)控制所述多種光源自動切換為與所述材質(zhì)相對應(yīng)的光源。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的外觀檢測設(shè)備,其特征在于,
所述外觀檢測設(shè)備還包括控制器,所述控制器配置成控制所述多種光源中的一種光源和所述相機(jī)實時檢測所述待測試模組的不同位置的材質(zhì),并根據(jù)檢測結(jié)果控制所述多種光源自動切換為與所述材質(zhì)相對應(yīng)的光源。
4.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的外觀檢測設(shè)備,其特征在于,
所述多種光源設(shè)置在所述相機(jī)上且其出射光的方向設(shè)置為朝向所述模組拾取裝置的一側(cè),所述多種光源根據(jù)所述待測試模組的不同位置的材質(zhì)自動切換成用于拍攝所述位置的對應(yīng)光源。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的外觀檢測設(shè)備,其特征在于,
所述外觀檢測設(shè)備還包括位置檢測傳感器,用于檢測所述待測試模組的不同位置,以使得所述控制器根據(jù)所檢測到的位置自動切換所述多種光源。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的外觀檢測設(shè)備,其特征在于,
所述模組拾取裝置包括Z軸驅(qū)動機(jī)構(gòu),以驅(qū)動所述待測試模組沿Z軸方向移動,從而調(diào)整待測試模組與所述視覺拍攝裝置之間的距離。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的外觀檢測設(shè)備,其特征在于,
所述模組拾取裝置包括旋轉(zhuǎn)驅(qū)動機(jī)構(gòu)和至少兩個夾取機(jī)構(gòu)以用于交換所述待測試模組。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的外觀檢測設(shè)備,其特征在于,
所述驅(qū)動裝置包括第三軸驅(qū)動機(jī)構(gòu),以驅(qū)動所述相機(jī)和所述組合光源沿Z軸方向移動,從而調(diào)整待測試模組與所述視覺拍攝裝置之間的距離。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的外觀檢測設(shè)備,其特征在于,
所述模組拾取裝置設(shè)置在所述視覺拍攝裝置的上部,以對所述待測試模組進(jìn)行下視覺測試,其中,在所述下視覺測試中,檢測的關(guān)鍵面為所述待測試模組的沿光軸方向的下表面的不同位置。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的外觀檢測設(shè)備,其特征在于,
所述模組拾取裝置設(shè)置在所述視覺拍攝裝置的下部,以對所述待測試模組進(jìn)行上視覺測試,其中,在所述上視覺測試中,檢測的關(guān)鍵面為所述待測試模組的沿光軸方向的上表面的不同位置。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的外觀檢測設(shè)備,其特征在于,
所述模組拾取裝置包括傳輸部件和設(shè)置在所述傳輸部件上的夾持部件,所述傳輸部件能夠沿所述X軸方向和所述Y軸方向移動以更換由所述夾持部件固定的所述待測試模組。
12.根據(jù)前述權(quán)利要求任一項所述的外觀檢測設(shè)備,所述待測試模組為攝像模組。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于寧波舜宇光電信息有限公司,未經(jīng)寧波舜宇光電信息有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910171963.0/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 傳感設(shè)備、檢索設(shè)備和中繼設(shè)備
- 簽名設(shè)備、檢驗設(shè)備、驗證設(shè)備、加密設(shè)備及解密設(shè)備
- 色彩調(diào)整設(shè)備、顯示設(shè)備、打印設(shè)備、圖像處理設(shè)備
- 驅(qū)動設(shè)備、定影設(shè)備和成像設(shè)備
- 發(fā)送設(shè)備、中繼設(shè)備和接收設(shè)備
- 定點設(shè)備、接口設(shè)備和顯示設(shè)備
- 傳輸設(shè)備、DP源設(shè)備、接收設(shè)備以及DP接受設(shè)備
- 設(shè)備綁定方法、設(shè)備、終端設(shè)備以及網(wǎng)絡(luò)側(cè)設(shè)備
- 設(shè)備、主設(shè)備及從設(shè)備
- 設(shè)備向設(shè)備轉(zhuǎn)發(fā)





