[發(fā)明專利]半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910163031.1 | 申請(qǐng)日: | 2019-03-05 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110400755B | 公開(公告)日: | 2022-02-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 韓偉國;張景堯;徐世豐 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 財(cái)團(tuán)法人工業(yè)技術(shù)研究院 |
| 主分類號(hào): | H01L21/48 | 分類號(hào): | H01L21/48;H01L23/52 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105 | 代理人: | 陳小雯 |
| 地址: | 中國臺(tái)*** | 國省代碼: | 臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 封裝 結(jié)構(gòu) | ||
本發(fā)明公開一種半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu),其包括第一導(dǎo)體、第一接合層、第一導(dǎo)電片以及第二導(dǎo)電片。第一接合層設(shè)置于第一導(dǎo)體。第一導(dǎo)電片包括彼此相連的第一接合部與第一延伸部。第一接合部接合于第一接合層,其中第一導(dǎo)電片具有第一溝槽,且第一溝槽將第一接合部劃分為并列的兩個(gè)第一接合分支。第二導(dǎo)電片包括彼此相連的第二接合部與第二延伸部。第二接合部接合于第一接合層,其中第二導(dǎo)電片具有第二溝槽,且第二溝槽將第二接合部劃分為并列的兩個(gè)第二接合分支。第二延伸部并列于第一延伸部,其中第二接合部反向于第一接合部,且第二延伸部位于第一延伸部與第二接合部之間。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)
常見的功率模塊是由導(dǎo)電載體(例如線路板或?qū)Ь€架)承載功率芯片,而功率芯片可采用導(dǎo)線電連接其他電子元件或?qū)щ娸d體的電性接點(diǎn),或者是采用導(dǎo)電扣片電連接其他電子元件或?qū)щ娸d體的電性接點(diǎn)。就采用導(dǎo)線電連接功率芯片與其他電子元件或?qū)щ娸d體的電性接點(diǎn)的實(shí)施方式而言,若為滿足大電流量的操作需求,則導(dǎo)線的數(shù)量需相對(duì)應(yīng)地增加以分?jǐn)傠娏鳎苊鈱?dǎo)線過熱而燒斷。進(jìn)一步來說,此作法較難提高制作工藝效率,且散熱效果也不佳。
就采用導(dǎo)電扣片電連接功率芯片與其他電子元件或?qū)щ娸d體的電性接點(diǎn)的實(shí)施方式而言,導(dǎo)電扣片不僅可用以供大電流量通過,同時(shí)具有較佳的散熱效果。然而,導(dǎo)電扣片大多通過焊料層接合于功率芯片,且導(dǎo)電載體、功率芯片、焊料層以及導(dǎo)電扣片之間的熱膨脹系數(shù)存在著明顯差異,因此,在功率模塊運(yùn)作的過程中,基于電流的周期性變化或電流量的變化,受到冷熱交替作用的焊料層據(jù)此而產(chǎn)生周期性熱應(yīng)力(cyclic thermalstress),并相應(yīng)產(chǎn)生周期性熱應(yīng)變(cyclic thermal strain)。此熱應(yīng)力與熱應(yīng)變的交替變化下,焊料層會(huì)產(chǎn)生疲勞(fatigue),因而產(chǎn)生塑性變形導(dǎo)致脫層。進(jìn)一步來說,現(xiàn)有的導(dǎo)電扣片的設(shè)計(jì)較難顯著改善功率模塊的可靠度與使用壽命。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu),具有良好的可靠度與較長的使用壽命。
本發(fā)明一實(shí)施例的半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu),其包括第一導(dǎo)體、第一接合層、第一導(dǎo)電片以及第二導(dǎo)電片。第一接合層設(shè)置于第一導(dǎo)體。第一導(dǎo)電片包括彼此相連的第一接合部與第一延伸部。第一接合部接合于第一接合層,其中第一導(dǎo)電片具有第一溝槽,且第一溝槽將第一接合部劃分為并列的兩個(gè)第一接合分支。第二導(dǎo)電片包括彼此相連的第二接合部與第二延伸部。第二接合部接合于第一接合層,其中第二導(dǎo)電片具有第二溝槽,且第二溝槽將第二接合部劃分為并列的兩個(gè)第二接合分支。第二延伸部并列于第一延伸部,其中第二接合部反向于第一接合部,且第二延伸部位于第一延伸部與第二接合部之間。
本發(fā)明另一實(shí)施例的半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu),其包括第一導(dǎo)體、第一接合層以及導(dǎo)電片。第一接合層設(shè)置于第一導(dǎo)體。導(dǎo)電片包括彼此相連的第一接合部與延伸部,且第一接合部接合于接合層,其中導(dǎo)電片具有溝槽,且溝槽將第一接合部劃分為并列的兩個(gè)接合分支。
基于上述,在本發(fā)明的半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu)中,包括至少一導(dǎo)電片,導(dǎo)電片包括彼此相連的第一接合部與延伸部并具有溝槽,第一接合部接合于接合層,且溝槽將第一接合部劃分為并列的兩個(gè)接合分支。據(jù)此,半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu)能獲致電流分?jǐn)偟男Ч⒋_保通過二接合分支的電流密度小于一個(gè)定值,避免產(chǎn)生過大的電遷移效應(yīng)。此外,接合部與接合層相接合的位置的分布更為平均,可獲致分散作用于第一接合層的熱應(yīng)力的效果,并使接合層的熱應(yīng)變的分布更為均勻,同時(shí)降低接合層的熱應(yīng)變量,有助于改善半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu)的可靠度與使用壽命。
為讓本發(fā)明的上述特征能更明顯易懂,下文特舉實(shí)施例,并配合所附的附圖作詳細(xì)說明如下。
附圖說明
圖1是本發(fā)明第一實(shí)施例的半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu)的示意圖;
圖2是本發(fā)明第二實(shí)施例的半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu)的示意圖;
圖3是本發(fā)明第三實(shí)施例的半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu)的示意圖;
圖4是本發(fā)明第四實(shí)施例的半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu)的示意圖;
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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