[發明專利]地震層位解釋方法及裝置

有效

• 申請號: 201910161351.3
• 申請日: 2019-03-04
• 公開（公告）號: CN111650637B
• 公開（公告）日: 2022-12-02
• 發明（設計）人: 姜巖;李紅星;宋保全;齊金成;楊會東;周華建;龐春紅;焦艷麗
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣股份有限公司;大慶油田有限責任公司
• 主分類號: G01V1/28
• 分類號: G01V1/28
• 代理公司: 北京三高永信知識產權代理有限責任公司 11138
• 代理人: 賈敏

本申請公開了一種地震層位解釋方法及裝置，屬于地震數據處理技術領域。該方法包括：從待研究區域的多套地震數據體中選取一套地震數據體作為基準數據體，且各套地震數據體中的多個地震剖面一一對應；對基準數據體的第一地震剖面的第一同相軸和第二同相軸進行追蹤，分別得到第一地震剖面的目的層層位和標準層層位；根據第一地震剖面的目的層層位和標準層層位，確定目標數據體的第二地震剖面的目的層層位，目標數據體為該多套地震數據體中除基準數據體之外任一地震數據體，第二地震剖面為目標數據體的該多個地震剖面中與第一地震剖面相對應的地震剖面。本申請可以提高地震層位解釋效率和解釋精度。

技術領域

本申請涉及地震數據處理技術領域，特別涉及一種地震層位解釋方法及裝置。

背景技術

通過OVT(Offset Vector Tile，炮檢距向量片)域疊前地震儲層預測技術可以采集地層待研究區域反射回地面的地震波信號，對采集到的這些地震波信號進行處理后可以得到多套地震數據體。為了清楚地了解待研究區域中待研究層也即目的層的儲層物性和巖性變化，就需要依次對這多套地震數據體中每一套地震數據體的目的層進行層位解釋。

目前，常通過兩種方式來對這多套地震數據體的目的層進行層位解釋。第一種方式：按照常規的地震層位解釋方法逐一對多套地震數據體中每一套地震數據體進行目的層層位解釋，以此得到多套地震數據體的目的層層位解釋結果。第二種方式：按照常規的地震層位解釋方法對多套地震數據體中的一套地震數據體進行目的層層位解釋，并將這一套地震數據體的目的層層位解釋結果作為多套地震數據體中其余地震數據體的目的層層位解釋結果。

然而，采用上述第一種方式對多套地震數據體進行層位解釋時工作量較大，且需要耗費大量時間。采用上述第二種方式時，由于多套地震數據體之間具有差異性，所以直接將一套地震數據體的層位解釋結果作為其余地震數據體的層位解釋結果時，對于其余地震數據體而言，解釋精度低，甚至會出現局部竄層情況。

發明內容

本申請實施例提供了一種地震層位解釋方法及裝置，可以解決相關技術中地震層位解釋效率低和解釋精度低的問題。所述技術方案如下：

第一方面，提供了一種地震層位解釋方法，所述方法包括：

從待研究區域的多套地震數據體中選取一套地震數據體作為基準數據體，所述多套地震數據體中每套地震數據體均包括多個地震剖面，且各套地震數據體中的多個地震剖面一一對應；

對所述基準數據體的第一地震剖面的第一同相軸進行追蹤，得到所述第一地震剖面的目的層層位，對所述第一地震剖面的第二同相軸進行追蹤，得到所述第一地震剖面的標準層層位，所述第一地震剖面為所述基準數據體的多個地震剖面中的任一地震剖面；

根據所述第一地震剖面的目的層層位和標準層層位，確定所述目標數據體的第二地震剖面的目的層層位，所述目標數據體為所述多套地震數據體中除所述基準數據體之外任一地震數據體，所述第二地震剖面為所述目標數據體的多個地震剖面中與所述第一地震剖面相對應的地震剖面。

可選地，所述多個地震剖面中的每個地震剖面均包括多個地震道；

所述對所述第一地震剖面的第一同相軸進行追蹤，得到所述第一地震剖面的目的層層位，包括：

獲取所述第一地震剖面的第一同相軸上的多個第一基準點；

根據所述多個第一基準點，在所述多個地震道上確定每個第一基準點在第一時窗內對應的振幅最大值點；

根據所述每個第一基準點在所述第一時窗內對應的振幅最大值點，確定所述第一地震剖面的目的層層位。

可選地，所述對所述第一地震剖面的第二同相軸進行追蹤，得到所述第一地震剖面的標準層層位，包括：

獲取所述第一地震剖面的第二同相軸上的多個第二基準點；