[發明專利]地震層位解釋方法及裝置

有效

• 申請號: 201910161351.3
• 申請日: 2019-03-04
• 公開（公告）號: CN111650637B
• 公開（公告）日: 2022-12-02
• 發明（設計）人: 姜巖;李紅星;宋保全;齊金成;楊會東;周華建;龐春紅;焦艷麗
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣股份有限公司;大慶油田有限責任公司
• 主分類號: G01V1/28
• 分類號: G01V1/28
• 代理公司: 北京三高永信知識產權代理有限責任公司 11138
• 代理人: 賈敏

1.一種地震層位解釋方法，其特征在于，所述方法包括：

從待研究區域的多套地震數據體中選取一套地震數據體作為基準數據體，所述多套地震數據體中每套地震數據體均包括多個地震剖面，且各套地震數據體中的多個地震剖面一一對應；

對所述基準數據體的第一地震剖面的第一同相軸進行追蹤，得到所述第一地震剖面的目的層層位，對所述第一地震剖面的第二同相軸進行追蹤，得到所述第一地震剖面的標準層層位，所述第一地震剖面為所述基準數據體的多個地震剖面中的任一地震剖面；

根據所述第一地震剖面的目的層層位和標準層層位，確定目標數據體的第二地震剖面的目的層層位，所述目標數據體為所述多套地震數據體中除所述基準數據體之外任一地震數據體，所述第二地震剖面為所述目標數據體的多個地震剖面中與所述第一地震剖面相對應的地震剖面；其中，所述根據所述第一地震剖面的目的層層位和標準層層位，確定所述目標數據體的第二地震剖面的目的層層位，包括：根據所述第一地震剖面的標準層層位，確定所述第二地震剖面的標準層層位；根據所述第一地震剖面的標準層層位和所述第二地震剖面的標準層層位，確定所述第一地震剖面的標準層層位上的每個點與所述第二地震剖面的標準層層位上對應的點之間的差值，并將所述第二地震剖面的標準層層位上的每個點的坐標與確定的相應點對應的差值進行對應存儲，得到坐標與差值的對應關系；根據所述第一地震剖面的目的層層位和所述坐標與差值的對應關系，確定所述第二地震剖面的目的層層位。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述多個地震剖面中的每個地震剖面均包括多個地震道；

所述對所述第一地震剖面的第一同相軸進行追蹤，得到所述第一地震剖面的目的層層位，包括：

獲取所述第一地震剖面的第一同相軸上的多個第一基準點；

根據所述多個第一基準點，在所述多個地震道上確定每個第一基準點在第一時窗內對應的振幅最大值點；

根據所述每個第一基準點在所述第一時窗內對應的振幅最大值點，確定所述第一地震剖面的目的層層位。

3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述對所述第一地震剖面的第二同相軸進行追蹤，得到所述第一地震剖面的標準層層位，包括：

獲取所述第一地震剖面的第二同相軸上的多個第二基準點；

根據所述多個第二基準點，在所述多個地震道上確定每個第二基準點在第二時窗內對應的振幅最大值點；

根據所述每個第二基準點在所述第二時窗內對應的振幅最大值點，確定所述第一地震剖面的標準層層位。

4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述第一地震剖面的標準層層位，確定所述第二地震剖面的標準層層位，包括：

將所述第一地震剖面的標準層層位上的多個點作為多個第三基準點；

根據所述多個第三基準點，在所述第二地震剖面的多個地震道上確定每個第三基準點在第三時窗內對應的振幅最大值點；

根據所述每個第三基準點在所述第三時窗內對應的振幅最大值點，確定所述第二地震剖面的標準層層位。

5.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述第一地震剖面的標準層層位和所述第二地震剖面的標準層層位，確定所述第一地震剖面的標準層上的每個點與所述第二地震剖面的標準層層位上對應的點之間的差值，包括：

獲取所述第一地震剖面的標準層層位上的第一目標點的坐標，所述第一目標點的坐標包括第一橫坐標、第一縱坐標和第一時間，所述第一目標點為所述第一地震剖面的標準層層位上的任一點；

根據所述第一橫坐標和所述第一縱坐標，確定所述第二地震剖面的標準層層位上的第二目標點，所述第二目標點的第二橫坐標與所述第一橫坐標相等，所述第二目標點的第二縱坐標與所述第一縱坐標相等；

確定所述第一目標點的第一時間與所述第二目標點的第二時間之間的時間差，并將所述時間差確定為所述第一目標點與所述第二目標點之間的差值。