[發(fā)明專利]發(fā)光二極管芯片分檔色差的檢驗(yàn)方法和裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201910154889.1
• 申請(qǐng)日: 2019-03-01
• 公開（公告）號(hào): CN110095191B
• 公開（公告）日: 2021-02-19
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 林云真;陳建南;馬雙彪;顧小云;吳志浩;王力明;王江波
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 華燦光電（蘇州）有限公司
• 主分類號(hào): G01J3/46
• 分類號(hào): G01J3/46
• 代理公司: 北京三高永信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11138
• 代理人: 徐立

1.一種發(fā)光二極管芯片分檔色差的檢驗(yàn)方法，其特征在于，所述檢驗(yàn)方法包括：

獲取發(fā)光二極管芯片的色坐標(biāo)值、以及所述發(fā)光二極管芯片的色坐標(biāo)值對(duì)應(yīng)的顯示參數(shù)值；

當(dāng)所述發(fā)光二極管芯片的色坐標(biāo)值在為第一檔位設(shè)定的色坐標(biāo)值范圍內(nèi)時(shí)，判定所述發(fā)光二極管芯片屬于所述第一檔位，所述第一檔位為用于發(fā)光二極管芯片分檔的任意一個(gè)檔位；

按照屬于所述第一檔位的各個(gè)發(fā)光二極管芯片的色坐標(biāo)值對(duì)應(yīng)的顯示參數(shù)值分別生成顏色塊，并將屬于所述第一檔位的多個(gè)發(fā)光二極管芯片生成的顏色塊排列形成的圖像輸出，以檢驗(yàn)屬于所述第一檔位的多個(gè)發(fā)光二極管芯片是否存在色差。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢驗(yàn)方法，其特征在于，所述獲取發(fā)光二極管芯片的色坐標(biāo)值、以及所述發(fā)光二極管芯片的色坐標(biāo)值對(duì)應(yīng)的顯示參數(shù)值，包括：

對(duì)所述發(fā)光二極管芯片進(jìn)行光學(xué)測試，得到所述發(fā)光二極管芯片的色坐標(biāo)值；

按照設(shè)定的對(duì)應(yīng)關(guān)系，確定所述發(fā)光二極管芯片的色坐標(biāo)值對(duì)應(yīng)的顯示參數(shù)值。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢驗(yàn)方法，其特征在于，所述對(duì)所述發(fā)光二極管芯片進(jìn)行光學(xué)測試，得到所述發(fā)光二極管芯片的色坐標(biāo)值，包括：

接收所述發(fā)光二極管芯片發(fā)出的光線，得到所述發(fā)光二極管芯片的光譜分布；

基于所述發(fā)光二極管芯片的光譜分布，確定所述發(fā)光二極管芯片的色坐標(biāo)值。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢驗(yàn)方法，其特征在于，所述按照設(shè)定的對(duì)應(yīng)關(guān)系，確定所述發(fā)光二極管芯片的色坐標(biāo)值對(duì)應(yīng)的顯示參數(shù)值，包括：

基于CIE xyY顏色空間與CIE XYZ基色系統(tǒng)之間的轉(zhuǎn)換關(guān)系，將所述發(fā)光二極管芯片的色坐標(biāo)值表示的CIE xyY顏色空間中的三屬性值轉(zhuǎn)換為CIE XYZ基色系統(tǒng)中的三基色值；

基于CIE XYZ基色系統(tǒng)與CIE RGB基色系統(tǒng)之間的轉(zhuǎn)換關(guān)系，將所述CIE XYZ基色系統(tǒng)中的三基色值轉(zhuǎn)換為CIE RGB基色系統(tǒng)中的三基色值；

基于圖像輸出設(shè)備對(duì)三基色值的識(shí)別能力，將所述CIE RGB基色系統(tǒng)中的三基色值轉(zhuǎn)換為顯示參數(shù)值。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的檢驗(yàn)方法，其特征在于，所述基于圖像輸出設(shè)備對(duì)三基色值的識(shí)別能力，將所述CIE RGB基色系統(tǒng)中的三基色值轉(zhuǎn)換為顯示參數(shù)值，包括：

將所述CIE RGB基色系統(tǒng)中的三基色值乘以255，得到顯示參數(shù)值；

當(dāng)所述顯示參數(shù)值大于255時(shí)，將所述顯示參數(shù)值修正為255；

當(dāng)所述顯示參數(shù)值小于0時(shí)，將所述顯示參數(shù)值修正為0。

6.根據(jù)權(quán)利要求1～5任一項(xiàng)所述的檢驗(yàn)方法，其特征在于，所述色坐標(biāo)值范圍在CIE色度圖上的區(qū)域呈多邊形、圓形或者橢圓形。

7.根據(jù)權(quán)利要求1～5任一項(xiàng)所述的檢驗(yàn)方法，其特征在于，所述檢驗(yàn)方法還包括：

接收色差取值范圍。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的檢驗(yàn)方法，其特征在于，所述檢驗(yàn)方法還包括：

在接收所述色差取值范圍之后，重新判斷屬于所述第一檔位的發(fā)光二極管芯片是否仍然屬于所述第一檔位；

按照屬于所述第一檔位的各個(gè)發(fā)光二極管芯片的色坐標(biāo)值對(duì)應(yīng)的顯示參數(shù)值分別生成顏色塊，并將屬于所述第一檔位的多個(gè)發(fā)光二極管芯片生成的顏色塊排列形成的圖像輸出，以檢驗(yàn)屬于所述第一檔位的多個(gè)發(fā)光二極管芯片是否存在色差。

9.根據(jù)權(quán)利要求1～5任一項(xiàng)所述的檢驗(yàn)方法，其特征在于，所述將屬于所述第一檔位的多個(gè)發(fā)光二極管芯片生成的顏色塊排列形成的圖像輸出，包括：

按照屬于所述第一檔位的發(fā)光二極管芯片在顯示屏中的排列方式，將屬于所述第一檔位的多個(gè)發(fā)光二極管芯片生成的顏色塊排列成圖像輸出。

10.一種發(fā)光二極管芯片分檔色差的檢驗(yàn)裝置，其特征在于，所述檢驗(yàn)裝置包括：

獲取模塊，用于獲取發(fā)光二極管芯片的色坐標(biāo)值、以及所述發(fā)光二極管芯片的色坐標(biāo)值對(duì)應(yīng)的顯示參數(shù)值；

判定模塊，用于當(dāng)所述發(fā)光二極管芯片的色坐標(biāo)值在為第一檔位設(shè)定的色坐標(biāo)值范圍內(nèi)時(shí)，判定所述發(fā)光二極管芯片屬于所述第一檔位，所述第一檔位為用于發(fā)光二極管芯片分檔的任意一個(gè)檔位；

輸出模塊，用于按照屬于所述第一檔位的各個(gè)發(fā)光二極管芯片的色坐標(biāo)值對(duì)應(yīng)的顯示參數(shù)值分別生成顏色塊，并將屬于所述第一檔位的多個(gè)發(fā)光二極管芯片生成的顏色塊排列形成的圖像輸出，以檢驗(yàn)屬于所述第一檔位的多個(gè)發(fā)光二極管芯片是否存在色差。