[發明專利]發光二極管芯片分檔色差的檢驗方法和裝置

有效

• 申請號: 201910154889.1
• 申請日: 2019-03-01
• 公開（公告）號: CN110095191B
• 公開（公告）日: 2021-02-19
• 發明（設計）人: 林云真;陳建南;馬雙彪;顧小云;吳志浩;王力明;王江波
• 申請（專利權）人: 華燦光電（蘇州）有限公司
• 主分類號: G01J3/46
• 分類號: G01J3/46
• 代理公司: 北京三高永信知識產權代理有限責任公司 11138
• 代理人: 徐立

本發明公開了一種發光二極管芯片分檔色差的檢驗方法和裝置，屬于半導體技術領域。所述檢驗方法包括：獲取發光二極管芯片的色坐標值、以及所述發光二極管芯片的色坐標值對應的顯示參數值；當所述發光二極管芯片的色坐標值在為第一檔位設定的色坐標值范圍內時，判定所述發光二極管芯片屬于所述第一檔位，所述第一檔位為用于發光二極管芯片分檔的任意一個檔位；按照屬于所述第一檔位的各個發光二極管芯片的色坐標值對應的顯示參數值分別生成顏色塊，并將屬于所述第一檔位的多個發光二極管芯片生成的顏色塊排列形成的圖像輸出，以檢驗屬于所述第一檔位的多個發光二極管芯片是否存在色差。本發明可以實現LED芯片的有效分檔，充分滿足市場的要求。

技術領域

本發明涉及半導體技術領域，特別涉及一種發光二極管芯片分檔色差的檢驗方法和裝置。

背景技術

隨著發光二極管(英文：Light Emitting Diode，簡稱：LED)芯片的應用普及，無論是表面貼裝器件(英文：Surface Mounted Devices，簡稱：SMD)封裝工藝，還是發展迅猛的板上芯片封裝(英文：Chips on Board，簡稱COB)工藝，市場對LED芯片組裝的顯示屏的發光顏色的色差要求越來越嚴苛。

國內LED發光芯片廠通常采用主波長(英文簡稱：WLD)劃分LED芯片的檔位，將主波長相同的LED芯片歸為同一檔，以避免LED芯片組裝的顯示屏的發光顏色出現色差。但是在國際照明委員會(英文：International Commission on illumination，法文簡稱：CIE)色度圖中，主波長為從表示白光的點E向色坐標值(x，y)對應的點作的延伸線與色度圖的邊緣的交點對應的波長值，因此這條延伸線上所有色坐標值對應的主波長都會是同一個，即同一個主波長對應的色坐標值的范圍很寬，導致按照主波長劃分的同一檔LED芯片組裝的顯示屏的發光顏色實際上還是存在色差，并不能滿足市場的要求。

為了滿足市場的要求，目前國內外都在逐步發展采用色坐標值的范圍進行分檔，但是缺乏有效的參考理論設定色坐標值的范圍，同時也缺乏有效的評估手段確定色坐標值的范圍的設定是否合適，存在操作復雜、消耗時間長、實現成本高等諸多問題，還是無法滿足市場的要求。

發明內容

本發明實施例提供了一種發光二極管芯片分檔色差的檢驗方法和裝置，能夠解決現有技術不能有效對LED芯片分檔，無法滿足市場要求的問題。所述技術方案如下：

一方面，本發明實施例提供了一種發光二極管芯片分檔色差的檢驗方法，所述檢驗方法包括：

獲取發光二極管芯片的色坐標值、以及所述發光二極管芯片的色坐標值對應的顯示參數值；

當所述發光二極管芯片的色坐標值在為第一檔位設定的色坐標值范圍內時，判定所述發光二極管芯片屬于所述第一檔位，所述第一檔位為用于發光二極管芯片分檔的任意一個檔位；

按照屬于所述第一檔位的各個發光二極管芯片的色坐標值對應的顯示參數值分別生成顏色塊，并將屬于所述第一檔位的多個發光二極管芯片生成的顏色塊排列形成的圖像輸出，以檢驗屬于所述第一檔位的多個發光二極管芯片是否存在色差。

可選地，所述獲取發光二極管芯片的色坐標值、以及所述發光二極管芯片的色坐標值對應的顯示參數值，包括：

對所述發光二極管芯片進行光學測試，得到所述發光二極管芯片的色坐標值；

按照設定的對應關系，確定所述發光二極管芯片的色坐標值對應的顯示參數值。

進一步地，所述對所述發光二極管芯片進行光學測試，得到所述發光二極管芯片的色坐標值，包括：

接收所述發光二極管芯片發出的光線，得到所述發光二極管芯片的光譜分布；

基于所述發光二極管芯片的光譜分布，確定所述發光二極管芯片的色坐標值。