[發(fā)明專利]一種薄膜晶體管及其制作方法、顯示面板在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910151043.2 | 申請(qǐng)日: | 2019-02-28 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109860109A | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-06-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 胡泉;李松杉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 武漢華星光電半導(dǎo)體顯示技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/77 | 分類號(hào): | H01L21/77;H01L21/336;H01L27/12;H01L29/786 |
| 代理公司: | 深圳翼盛智成知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙) 44300 | 代理人: | 黃威 |
| 地址: | 430079 湖北省武漢市東湖新技術(shù)*** | 國(guó)省代碼: | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 非晶硅層 退火 薄膜晶體管 準(zhǔn)分子鐳射 多晶硅層 緩沖層 顯示面板 均一性 基板 制作 間隔設(shè)置 開(kāi)關(guān)TFT 晶粒 分隔體 圖案化 電性 晶界 良率 驅(qū)動(dòng) 申請(qǐng) | ||
1.一種薄膜晶體管的制作方法,其特征在于,所述方法包括:
提供基板;
在所述基板上形成緩沖層;
在所述緩沖層上形成圖案化的第一非晶硅層,所述第一非晶硅層包括多個(gè)間隔設(shè)置的分隔體;
在形成有所述第一非晶硅層的所述緩沖層上形成第二非晶硅層;
采用準(zhǔn)分子鐳射退火對(duì)所述第一非晶硅層和所述第二非晶硅層進(jìn)行處理,以形成對(duì)應(yīng)的第一多晶硅層和第二多晶硅層。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,在所述采用準(zhǔn)分子鐳射退火對(duì)所述第一非晶硅層和所述第二非晶硅層進(jìn)行處理,以形成對(duì)應(yīng)的第一多晶硅層和第二多晶硅層的步驟之后,還包括:
對(duì)所述第二多晶硅層進(jìn)行摻雜,形成溝道區(qū)和位于所述溝道區(qū)兩側(cè)的摻雜區(qū),其中,所述溝道區(qū)位于所述分隔體上,且所述溝道區(qū)在所述基板上的投影區(qū)域與所述分隔體在所述基板上的投影區(qū)域重疊。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述對(duì)所述第二多晶硅層進(jìn)行摻雜,形成溝道區(qū)和位于所述溝道區(qū)兩側(cè)的摻雜區(qū)的步驟,具體包括:
在所述第二多晶硅層上形成柵絕緣層;
經(jīng)過(guò)所述柵絕緣層對(duì)所述第二多晶硅層進(jìn)行離子注入,形成所述溝道區(qū)和所述摻雜區(qū)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,在所述形成所述溝道區(qū)和所述摻雜區(qū)的步驟之后,還包括:
在所述柵絕緣層上形成柵極,所述柵極位于所述溝道區(qū)的上方,且所述柵極在所述基板上的投影區(qū)域與所述摻雜區(qū)在所述基板上的投影區(qū)域部分重疊;
在形成有所述柵極的所述柵絕緣層上形成介電層;
在所述介電層上形成源漏極層,所述源漏極層包括源極和漏極,所述源極和所述漏極相對(duì)設(shè)置于所述溝道區(qū)兩側(cè)的所述摻雜區(qū)的上方。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述在所述緩沖層上形成圖案化的第一非晶硅層的步驟,具體包括:
在所述緩沖層上沉積第一非晶硅層;
通過(guò)刻蝕將所述第一非晶硅層分割成多個(gè)間隔設(shè)置的所述分隔體。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述分隔體的厚度與所述第二非晶硅層的厚度之比為0.1~0.25。
7.一種薄膜晶體管,其特征在于,包括:
基板;
緩沖層,所述緩沖層設(shè)置于所述基板上;
圖案化的第一多晶硅層,所述第一多晶硅層設(shè)置于所述緩沖層上,所述第一多晶硅層包括多個(gè)間隔設(shè)置的分隔體;
第二多晶硅層,所述第二多晶硅層設(shè)置于所述緩沖層上,且覆蓋所述第一多晶硅層。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的薄膜晶體管,其特征在于,所述第二多晶硅層包括溝道區(qū)和位于所述溝道區(qū)兩側(cè)的摻雜區(qū),其中,所述溝道區(qū)位于所述分隔體上,且所述溝道區(qū)在所述基板上的投影區(qū)域與所述分隔體在所述基板上的投影區(qū)域重疊。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的薄膜晶體管,其特征在于,所述薄膜晶體管還包括:
柵絕緣層,所述柵絕緣層設(shè)置于所述第二多晶硅層上;
柵極,所述柵極設(shè)置于所述柵絕緣層上,所述柵極位于所述溝道區(qū)的上方,且所述柵極在所述基板上的投影區(qū)域與所述摻雜區(qū)在所述基板上的投影區(qū)域部分重疊;
介電層,所述介電層設(shè)置于所述柵絕緣層上且覆蓋所述柵極;
源漏極層,所述源漏極層包括源極和漏極,所述源極和所述漏極相對(duì)設(shè)置于所述溝道區(qū)兩側(cè)的所述摻雜區(qū)的上方。
10.一種顯示面板,其特征在于,包括如權(quán)利要求7-9任一項(xiàng)所述的薄膜晶體管。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門(mén)適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門(mén)適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門(mén)適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門(mén)適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





