[發明專利]一種自動模擬PCIE SSD熱拔插測試的系統及方法

在審

• 申請號: 201910147452.5
• 申請日: 2019-02-27
• 公開（公告）號: CN109918244A
• 公開（公告）日: 2019-06-21
• 發明（設計）人: 梁文俊
• 申請（專利權）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G06F11/26;G06F13/40
• 代理公司: 濟南舜源專利事務所有限公司 37205
• 代理人: 劉雪萍

1.一種自動模擬PCIE SSD熱拔插測試的系統，其特征在于，包括供電轉接板(1)，供電轉接板(1)上設置有主板接口(1.1)、SSD接口(1.2)、控制接口(1.3)和供電通道開關模塊(1.4)；

供電轉接板(1)的供電通道開關模塊(1.4)與主板接口(1.1)、SSD接口(1.2)和控制接口(1.3)均連接，主板接口(1.1)與SSD接口(1.2)連接；

服務器主板(2)上設置有PCIE插槽(2.1)，PCIE插槽(2.1)與供電轉接板(1)的主板接口(1.1)連接；

供電轉接板(1)的SSD接口(1.2)連接有PCIE SSD(3)；

供電轉接板(1)的控制接口(1.3)連接有熱插拔自動控制模塊(4)；

熱插拔自動控制模塊(4)通過控制供電通道開關模塊(1.4)實現PCIE SSD供電通道的閉合及斷開，模擬PCIE SSD(3)插入及拔出PCIE插槽(2.1)。

2.如權利要求1所述的一種自動模擬PCIE SSD熱拔插測試的系統，其特征在于，主板接口(1.1)與SSD接口(1.2)之間通過PCIE數據線連接。

3.如權利要求1所述的一種自動模擬PCIE SSD熱拔插測試的系統，其特征在于，供電通道開關模塊(1.4)包括第一電源通道開關單元(1.4.1)和第二電源通道開關單元(1.4.2)；

第一電源通道開關單元(1.4.1)與主板接口(1.1)、SSD接口(1.2)及控制接口(1.3)均連接；

第二電源通道開關單元(1.4.2)與主板接口(1.1)、SSD接口(1.2)及控制接口(1.3)均連接。

4.如權利要求3所述的一種自動模擬PCIE SSD熱拔插測試的系統，其特征在于，第一電源通道開關單元(1.4.1)包括光耦Q1，光耦Q1包括發光二極管電源端、發光二極管控制端、光電三極管電源端和光電三極管輸出端；

發光二極管電源端連接有第一電阻R1，第一電阻R1另一端與主板接口(1.1)連接，發光二極管控制端與控制接口(1.3)連接，光電三極管電源端與主板接口(1.1)連接，光電三極管輸出端連接有第二電阻R2；

第二電阻R2另一端連接有第三電阻R3和NPN型三極管Q2,第三電阻R3的另一端接地；

NPN型三極管Q2的基極與第二電阻R2連接，NPN型三極管Q2的發射極接地，NPN型三極管Q2的集電極連接有第四電阻R4,NPN型三極管Q2的集電極還與SSD接口(1.2)連接，第四電阻R4的另一端與主板接口(1.1)連接；

第二電源通道開關單元(1.4.2)與第一電源通道開關單元(1.4.1)采用相同的電路結構。

5.如權利要求3所述的一種自動模擬PCIE SSD熱拔插測試的系統，其特征在于，所述第一電源通道開關單元(1.4.1)為1.2V通道開關單元，第二電源通道開關單元(1.4.2)為3.3V通道開關單元。

6.一種自動模擬PCIE SSD熱拔插測試的方法，其特征在于，熱插拔自動控制模塊控制PCIE SSD供電通道的閉合及斷開，模擬PCIE SSD插入及拔出PCIE插槽。

7.如權利要求6所述的一種自動模擬PCIE SSD熱拔插測試的方法，其特征在于，具體步驟如下：

S 1.待測主機運行測試腳本；

S2.測試腳本向熱插拔自動控制模塊發送測試控制信號；

S3.熱插拔自動控制模塊根據測試控制信號控制PCIE SSD供電通道的閉合及斷開，模擬PCIE SSD插入及拔出PCIE插槽，同時，熱插拔自動控制模塊通知測試腳本收集PCIE SSD供電通道的閉合及斷開時PCIE SSD的測試數據；

S4.測試腳本收集PCIE SSD的測試數據，并根據PCIE SSD的測試數據生成測試日志。