[發(fā)明專利]一種激光設(shè)備振鏡標(biāo)記的自動(dòng)校正方法及系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910146477.3 | 申請(qǐng)日: | 2019-02-27 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109974979B | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-04-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 曹洪濤;呂啟濤;楊柯;劉振強(qiáng);高云峰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 大族激光科技產(chǎn)業(yè)集團(tuán)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01M11/04 | 分類號(hào): | G01M11/04 |
| 代理公司: | 深圳市恒申知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙) 44312 | 代理人: | 李倩竹 |
| 地址: | 518000 廣東*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 激光設(shè)備 標(biāo)記 自動(dòng) 校正 方法 系統(tǒng) | ||
本發(fā)明公開(kāi)了一種激光設(shè)備振鏡標(biāo)記的自動(dòng)校正方法及系統(tǒng),屬于涉及激光設(shè)備校正領(lǐng)域,用于自動(dòng)校正標(biāo)記圖形,解決了現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)標(biāo)記的校正使用人工測(cè)量會(huì)導(dǎo)致主觀判斷誤差大,并且會(huì)花費(fèi)大量的時(shí)間及人工成本的問(wèn)題,其包括:校正激光打標(biāo)機(jī)的二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái);校正后的二維控制平臺(tái)上鐳雕出標(biāo)記圖形,并計(jì)算標(biāo)記圖形的畸變數(shù)據(jù);根據(jù)所述畸變數(shù)據(jù)及標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)記圖形的標(biāo)準(zhǔn)尺寸數(shù)據(jù)校正標(biāo)記圖形;從而達(dá)到了省去了人工對(duì)標(biāo)記進(jìn)行測(cè)量的環(huán)節(jié),不僅避免了人工測(cè)量導(dǎo)致主觀的判斷誤差大的情況發(fā)生,而且降低了由于人工對(duì)標(biāo)記進(jìn)行測(cè)量投入的時(shí)間成本及人工成本。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及激光設(shè)備校正領(lǐng)域,尤其涉及一種激光設(shè)備振鏡標(biāo)記的自動(dòng)校正方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)
激光打標(biāo)機(jī)是用激光束在各種不同的物質(zhì)表面打上永久的標(biāo)記,從而刻出精美的圖案、商標(biāo)或文字。
而激光打標(biāo)機(jī)在使用的過(guò)程中,其掃描鏡頭會(huì)在X軸或Y軸方向上產(chǎn)生內(nèi)凹或外凸的情況,或者由于掃描振鏡的安裝位置偏差引起標(biāo)記呈梯形或平行四邊形(標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)記為正方形),或由于掃描鏡頭的不均勻和掃描振鏡的非線性,造成整個(gè)標(biāo)記范圍大小比例不勻稱,從而降低了激光打標(biāo)機(jī)的精度。
現(xiàn)有的校正標(biāo)記的方法,是通過(guò)導(dǎo)入大小為100mm*100mm的正方形圖形,激光鐳雕出圖形后,使用直尺測(cè)量,并人為判斷尺寸及畸變情況,隨后輸入修改校正參數(shù),隨后再次循環(huán)上述步驟,經(jīng)過(guò)反復(fù)調(diào)試后完成對(duì)標(biāo)記的校正;不難看出,上述對(duì)標(biāo)記的校正方法,使用人工測(cè)量,會(huì)導(dǎo)致主觀判斷誤差大,并且會(huì)花費(fèi)大量的時(shí)間及人工成本。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于提供一種激光設(shè)備振鏡標(biāo)記的自動(dòng)校正方法及系統(tǒng),旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)標(biāo)記的校正使用人工測(cè)量會(huì)導(dǎo)致主觀判斷誤差大,并且會(huì)花費(fèi)大量的時(shí)間及人工成本的技術(shù)問(wèn)題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明第一方面提供一種激光設(shè)備振鏡標(biāo)記的自動(dòng)校正方法,包括:校正激光打標(biāo)機(jī)的二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái);校正后的二維控制平臺(tái)上鐳雕出標(biāo)記圖形,并計(jì)算標(biāo)記圖形的畸變數(shù)據(jù);根據(jù)所述畸變數(shù)據(jù)及標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)記圖形的標(biāo)準(zhǔn)尺寸數(shù)據(jù)校正標(biāo)記圖形。
進(jìn)一步地,所述校正后的二維控制平臺(tái)上鐳雕出標(biāo)記圖形,并計(jì)算標(biāo)記圖形的畸變數(shù)據(jù)包括:在二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)上鐳雕出標(biāo)記圖形后,采集標(biāo)記圖形;在采集標(biāo)記圖形后,采集標(biāo)記圖形的坐標(biāo);根據(jù)所述標(biāo)記圖形的坐標(biāo)計(jì)算標(biāo)記圖形的尺寸;根據(jù)所述標(biāo)記圖形的尺寸計(jì)算所述標(biāo)記圖形的畸變數(shù)據(jù)。
進(jìn)一步地,所述方法還包括:檢測(cè)校正后的標(biāo)記圖形是否合格;在檢測(cè)到校正后的標(biāo)記圖形不合格后,再次計(jì)算標(biāo)記圖形的畸變數(shù)據(jù)并校正標(biāo)記圖形;在檢測(cè)到校正后的標(biāo)記圖形合格后,完成標(biāo)記圖形的校正。
進(jìn)一步地,所述檢測(cè)校正后的標(biāo)記圖形是否合格包括:根據(jù)預(yù)先設(shè)置的標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)記圖形的標(biāo)準(zhǔn)尺寸數(shù)據(jù)建立二維坐標(biāo)系,并將需要檢測(cè)的標(biāo)記圖形置于所述二維坐標(biāo)系內(nèi),且計(jì)算所述需要檢測(cè)的標(biāo)記圖形的待檢測(cè)尺寸數(shù)據(jù);設(shè)定對(duì)比閾值,并對(duì)比所述待檢測(cè)尺寸數(shù)據(jù)及所述標(biāo)準(zhǔn)尺寸數(shù)據(jù)之間的對(duì)比結(jié)果是否超過(guò)所述對(duì)比閾值,且設(shè)定所述對(duì)比結(jié)果超過(guò)所述對(duì)比閾值后判定標(biāo)記圖形的校正不合格。
進(jìn)一步地,所述校正激光打標(biāo)機(jī)的二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)包括:在二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)上放置標(biāo)定板后,控制所述二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)將所述標(biāo)定板左上角的第一點(diǎn)移動(dòng)到激光打標(biāo)機(jī)的CCD相機(jī)視野中心;調(diào)整標(biāo)定板在二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)X軸及Y軸的方向,以使二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)在X軸及Y軸上運(yùn)動(dòng)后,標(biāo)定板上的點(diǎn)落在CCD相機(jī)的視野范圍內(nèi);使用CCD相機(jī)抓拍標(biāo)定板上的每個(gè)點(diǎn)移動(dòng)到CCD相機(jī)視野中的坐標(biāo),并建立標(biāo)定板上每個(gè)點(diǎn)在二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)上的坐標(biāo)與在CCD相機(jī)視野中的坐標(biāo)的對(duì)應(yīng)關(guān)系,并根據(jù)所述對(duì)應(yīng)關(guān)系生成平臺(tái)校正表數(shù)據(jù)。
進(jìn)一步地,所述校正激光打標(biāo)機(jī)的二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)還包括:通過(guò)控制所述二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)的運(yùn)動(dòng)范圍,限制標(biāo)定板的移動(dòng)范圍,使得在移動(dòng)標(biāo)定板時(shí),標(biāo)定板上的點(diǎn)落入CCD相機(jī)的視野中的數(shù)量可控。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于大族激光科技產(chǎn)業(yè)集團(tuán)股份有限公司,未經(jīng)大族激光科技產(chǎn)業(yè)集團(tuán)股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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