[發(fā)明專利]存儲(chǔ)器片內(nèi)自測(cè)試方法、裝置和存儲(chǔ)器

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201910139097.7
• 申請(qǐng)日: 2019-02-25
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN109903805B
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-08-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 解晨晨;李喜;陳后鵬;王倩;雷宇;宋志棠
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所
• 主分類號(hào): G11C29/10
• 分類號(hào): G11C29/10;G11C29/12
• 代理公司: 上海泰能知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31233
• 代理人: 黃志達(dá)

1.一種存儲(chǔ)器片內(nèi)自測(cè)試方法，其特征在于，應(yīng)用于存儲(chǔ)器，所述方法包括：

獲取自測(cè)試信號(hào)后令所述存儲(chǔ)器進(jìn)入自測(cè)試狀態(tài)；其中，當(dāng)所述存儲(chǔ)器進(jìn)入自測(cè)試狀態(tài)時(shí)，所述存儲(chǔ)器的地址信號(hào)、數(shù)據(jù)信號(hào)、及讀/寫(xiě)使能控制信號(hào)由內(nèi)部提供；

在所述存儲(chǔ)器中進(jìn)行遵循一定地址選擇順序和寫(xiě)入/讀取方式的測(cè)試算法的自測(cè)試，以在所述存儲(chǔ)器中尋找由多個(gè)連續(xù)無(wú)故障的存儲(chǔ)單元構(gòu)成的滿足預(yù)設(shè)大小的存儲(chǔ)區(qū)域作為無(wú)故障區(qū)域；

對(duì)所述存儲(chǔ)器的各存儲(chǔ)單元進(jìn)行測(cè)試并將存在故障的存儲(chǔ)單元的故障信息存儲(chǔ)到所述無(wú)故障區(qū)域；

在自測(cè)試結(jié)束后將所述無(wú)故障區(qū)域存儲(chǔ)的首地址輸出到外部端口以供讀取，所述無(wú)故障區(qū)域在自測(cè)試結(jié)束后被釋放并作為正常存儲(chǔ)區(qū)域使用。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器片內(nèi)自測(cè)試方法，其特征在于，所述存儲(chǔ)器包括正常工作狀態(tài)、及自測(cè)試狀態(tài)；當(dāng)所述存儲(chǔ)器處于正常工作狀態(tài)時(shí)，所述存儲(chǔ)器的地址信號(hào)、數(shù)據(jù)信號(hào)、及讀/寫(xiě)使能控制信號(hào)由外部端口提供。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器片內(nèi)自測(cè)試方法，其特征在于，所述在所述存儲(chǔ)器中尋找由多個(gè)連續(xù)無(wú)故障的所述存儲(chǔ)單元構(gòu)成的滿足預(yù)設(shè)大小的存儲(chǔ)區(qū)域作為無(wú)故障區(qū)域的方法包括：

從所述存儲(chǔ)器的起始地址開(kāi)始，按一定地址順序依次選取多個(gè)所述存儲(chǔ)單元以構(gòu)成滿足預(yù)設(shè)大小的存儲(chǔ)區(qū)域，并保存所述存儲(chǔ)區(qū)域的首地址、及末地址值；

對(duì)所述存儲(chǔ)區(qū)域內(nèi)的各所述存儲(chǔ)單元進(jìn)行測(cè)試，比較各所述存儲(chǔ)單元測(cè)試得到的測(cè)試數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)測(cè)試數(shù)據(jù)是否一致；若不一致，則判定所述存儲(chǔ)單元存在故障；若一致，則判定所述存儲(chǔ)單元不存在故障；

當(dāng)測(cè)試所述存儲(chǔ)單元存在故障時(shí)，將所選的存儲(chǔ)區(qū)域的首地址改為當(dāng)前地址的下一個(gè)地址，以及將所選的存儲(chǔ)區(qū)域的末地址依據(jù)預(yù)設(shè)大小進(jìn)行相應(yīng)調(diào)整；

對(duì)調(diào)整地址后的所述存儲(chǔ)區(qū)域重新進(jìn)行測(cè)試，直至找到各所述存儲(chǔ)單元不存在故障的所述存儲(chǔ)區(qū)域作為無(wú)故障區(qū)域；若不存在所述無(wú)故障區(qū)域，則調(diào)整所述無(wú)故障區(qū)域的大小或加入軟糾錯(cuò)算法以再次尋找。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器片內(nèi)自測(cè)試方法，其特征在于，所述對(duì)所述存儲(chǔ)器的各存儲(chǔ)單元進(jìn)行測(cè)試并將存在故障的存儲(chǔ)單元的故障信息存儲(chǔ)到所述無(wú)故障區(qū)域的方法包括：

從所述存儲(chǔ)器的起始地址開(kāi)始，按一定地址順序依次對(duì)所述存儲(chǔ)器內(nèi)各存儲(chǔ)單元進(jìn)行測(cè)試，比較各所述存儲(chǔ)單元測(cè)試得到的測(cè)試數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)測(cè)試數(shù)據(jù)是否一致；若不一致，則判定所述存儲(chǔ)單元存在故障；若一致，則判定所述存儲(chǔ)單元不存在故障；

當(dāng)測(cè)試所述存儲(chǔ)單元存在故障時(shí)，測(cè)試暫時(shí)掛起并將相應(yīng)故障信息依次寫(xiě)入所述無(wú)故障區(qū)域；

寫(xiě)入完成后，繼續(xù)對(duì)所述存儲(chǔ)器內(nèi)各存儲(chǔ)單元進(jìn)行測(cè)試，直到所述存儲(chǔ)器上所有存儲(chǔ)單元測(cè)試完畢，則自測(cè)試結(jié)束。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器片內(nèi)自測(cè)試方法，其特征在于，所述方法還包括：當(dāng)自測(cè)試失敗時(shí)，輸出特定數(shù)據(jù)至外部端口以表示測(cè)試失敗；所述測(cè)試失敗包括無(wú)法找到滿足條件的所述無(wú)故障區(qū)域，或測(cè)試到存在故障的存儲(chǔ)單元數(shù)量超過(guò)所述無(wú)故障區(qū)域所能容納的故障信息數(shù)量。

6.根據(jù)權(quán)利要求1、3、4中任意一項(xiàng)所述的存儲(chǔ)器片內(nèi)自測(cè)試方法，其特征在于，所述無(wú)故障區(qū)域的結(jié)構(gòu)取決于所需存儲(chǔ)的故障單元信息；所述無(wú)故障區(qū)域的大小取決于所述存儲(chǔ)器的實(shí)際容量、字線長(zhǎng)度、及預(yù)期良率中任意一種或多種組合。