[發(fā)明專利]一種用于提高電路系統(tǒng)的穩(wěn)定性的方法及測(cè)試電路在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910134278.0 | 申請(qǐng)日: | 2019-02-22 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109884428A | 公開(公告)日: | 2019-06-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 韓小江;張坤;黃敏君 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 晶晨半導(dǎo)體(上海)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00 |
| 代理公司: | 上海申新律師事務(wù)所 31272 | 代理人: | 俞滌炯 |
| 地址: | 201203 上海市浦東新區(qū)中國*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電路系統(tǒng) 開關(guān)電源電路 測(cè)試電路 干擾電路 老化過程 電子產(chǎn)品 有效的驗(yàn)證 電源產(chǎn)生 電源系統(tǒng) 干擾測(cè)試 潛在問題 生產(chǎn)效率 反饋端 驗(yàn)證 發(fā)現(xiàn) | ||
本發(fā)明涉及電源系統(tǒng)技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種用于提高電路系統(tǒng)的穩(wěn)定性的方法及測(cè)試電路,適用于驗(yàn)證煲機(jī)老化過程中,其中包括:步驟S1、提供一DC?DC開關(guān)電源電路;步驟S2、于DC?DC開關(guān)電源電路的反饋端連接一干擾電路,于干擾電路中進(jìn)行不同類型的干擾測(cè)試以提高電路系統(tǒng)的穩(wěn)定性。本發(fā)明的技術(shù)方案有益效果在于:快速有效的驗(yàn)證煲機(jī)老化過程中,電源產(chǎn)生波動(dòng)對(duì)電路系統(tǒng)穩(wěn)定影響的問題,使得電子產(chǎn)品的生產(chǎn)效率及潛在問題的發(fā)現(xiàn)幾率得到顯著提升,進(jìn)一步提高電子產(chǎn)品上市后的穩(wěn)定性。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電源系統(tǒng)技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種用于提高電路系統(tǒng)的穩(wěn)定性的方法及測(cè)試電路。
背景技術(shù)
目前,電子產(chǎn)品開發(fā)以及出廠階段都要對(duì)整機(jī)進(jìn)行煲機(jī)老化試驗(yàn),以模擬用戶端可能出現(xiàn)的問題,其中,電源系統(tǒng)的穩(wěn)定性是在煲機(jī)時(shí)出現(xiàn)的最常見問題,但也是最難查的問題,因?yàn)楝F(xiàn)在的電子產(chǎn)品均有很多路的電源,如果某個(gè)電源存在隨機(jī)的異常情況,用常規(guī)方法耗時(shí)費(fèi)力也很難查到問題所在。
在現(xiàn)有技術(shù)中,當(dāng)電源系統(tǒng)出現(xiàn)問題時(shí),大多數(shù)都是隨機(jī)的,常規(guī)的檢測(cè)就是,在盡可能多的電源上均加上示波器等檢測(cè)設(shè)備,對(duì)電源實(shí)施持續(xù)監(jiān)測(cè),這樣做需要花費(fèi)大量的時(shí)間來復(fù)現(xiàn)問題,所以不能及時(shí)有效的發(fā)現(xiàn)問題。并且,由于影響系統(tǒng)穩(wěn)定性的主要電源基本上都使用DC-DC開關(guān)電源,開關(guān)電源都有反饋端來保證輸出的電壓幅度和紋波,如圖1所示,為常用的降壓轉(zhuǎn)換器拓?fù)洌渫ㄟ^兩個(gè)電阻的分壓采樣輸出的電壓,再經(jīng)過一個(gè)比較器和基準(zhǔn)比較,如果輸出小于基準(zhǔn),MOS管就開通;如果輸出大于基準(zhǔn),就關(guān)斷MOS管,采取這種方法就能使得輸出保持在一個(gè)正常的范圍,其采樣的反饋輸入端的穩(wěn)定性影響電源的穩(wěn)定性。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述問題,現(xiàn)提供一種用于提高電路系統(tǒng)的穩(wěn)定性的方法及電路圖。
具體技術(shù)方案如下:
一種用于提高電路系統(tǒng)的穩(wěn)定性的方法,適用于驗(yàn)證煲機(jī)老化過程中,其中包括:
步驟S1、提供一DC-DC開關(guān)電源電路;
步驟S2、于所述DC-DC開關(guān)電源電路的反饋端連接一干擾電路,于所述干擾電路中進(jìn)行不同類型的干擾測(cè)試以提高電路系統(tǒng)的穩(wěn)定性。
優(yōu)選的,于所述步驟S2中,所述干擾電路通過給所述反饋端輸入不同的紋波或增加擾動(dòng),以提高電路系統(tǒng)的穩(wěn)定性。
優(yōu)選的,于所述步驟S2中,通過設(shè)置所述干擾電路的GPIO接口的占空比調(diào)整所述帶能源電路圖的紋波的幅度至一預(yù)設(shè)幅度,以使得所述電路系統(tǒng)的輸出電壓在一預(yù)設(shè)電壓范圍內(nèi),以提高電路系統(tǒng)的穩(wěn)定性。
優(yōu)選的,所述預(yù)設(shè)幅度為8.33mV/Step;和/或
所述預(yù)設(shè)電壓范圍為0.721-1.021V之間。
優(yōu)選的,于所述步驟S2中,將一外部噪聲源增加至所述反饋端形成需要的紋波,以提高電路系統(tǒng)的穩(wěn)定性。
本發(fā)明還包括一種用于提高電路系統(tǒng)的穩(wěn)定性的測(cè)試電路,適用于驗(yàn)證煲機(jī)老化過程中,其特征在于,采用上述任意一項(xiàng)所述的用于提高電路系統(tǒng)的穩(wěn)定性的方法,所述用于提高電路系統(tǒng)的穩(wěn)定性的測(cè)試電路包括:
一DC-DC開關(guān)電源電路;
一干擾電路,連接于所述DC-DC開關(guān)電源電路的反饋端,于所述干擾電路中進(jìn)行不同類型的干擾測(cè)試以提高電路系統(tǒng)的穩(wěn)定性。
優(yōu)選的,所述干擾電路包括:
一電阻分壓電路,所述電阻分壓電路的輸入端連接于所述反饋端;
一PWM信號(hào)輸入端,通過一第一電阻連接所述電阻分壓電路的輸出端;
一CPU電源端,通過一第二電阻連接所述PWM信號(hào)輸入端;
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
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- 手機(jī)開關(guān)機(jī)測(cè)試電路
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