[發明專利]測試單元、陣列板及顯示面板COG綁定狀態的監測方法

有效

• 申請號: 201910127337.1
• 申請日: 2019-02-20
• 公開（公告）號: CN109935569B
• 公開（公告）日: 2022-02-01
• 發明（設計）人: 張文浩;李俊峰
• 申請（專利權）人: 廣州國顯科技有限公司
• 主分類號: H01L23/544
• 分類號: H01L23/544;H01L27/32;G01R27/02;G01R31/66
• 代理公司: 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258
• 代理人: 尹紅敏

1.一種顯示面板COG綁定狀態的監測方法，其特征在于，包括以下步驟：

提供陣列板，所述陣列板包括兩個以上相互間隔設置的顯示面板，相鄰兩個所述顯示面板之間及兩個以上所述顯示面板的外周側具有空白區域；

在所述空白區域上設置測試單元，所述測試單元包括復制接線端子膜層，所述復制接線端子膜層為復制所述顯示面板的綁定區域的接線端子膜層構成，所述復制接線端子膜層包括所述顯示面板的綁定區域的輸入端子膜層及輸出端子膜層；

將陣列板切割，以將所述測試單元與顯示面板分離；

將芯片與所述測試單元綁定，監測所述芯片與所述測試單元的綁定狀態，以驗證所述顯示面板的COG綁定狀態。

2.根據權利要求1所述的顯示面板COG綁定狀態的監測方法，其特征在于，所述將芯片與所述測試單元綁定，監測所述芯片與所述測試單元的綁定狀態，以驗證所述顯示面板的COG綁定狀態的步驟中，通過監測所述芯片與所述測試單元的綁定阻抗來監測所述芯片與所述測試單元的綁定狀態。

3.根據權利要求2所述的顯示面板COG綁定狀態的監測方法，其特征在于，進一步包括根據所述芯片與所述測試單元的所述綁定阻抗來調整綁定工藝條件，當所述綁定阻抗大于預設阻值時，調整所述綁定工藝條件，其中，所述預設阻值小于等于10Ω。

4.根據權利要求1所述的顯示面板COG綁定狀態的監測方法，其特征在于，所述將芯片與所述測試單元綁定，監測所述芯片與所述測試單元的綁定狀態，以驗證所述顯示面板的COG綁定狀態的步驟中，通過監測所述芯片與所述測試單元綁定區域的粒子狀態來監測所述芯片與所述測試單元的綁定狀態。

5.根據權利要求4所述的顯示面板COG綁定狀態的監測方法，其特征在于，進一步包括根據所述芯片與所述測試單元綁定區域的粒子狀態來調整綁定工藝條件，當所述芯片與所述測試單元綁定區域的粒子數小于8和/或沒有可見壓痕時，調整所述綁定工藝條件。

6.根據權利要求1所述的顯示面板COG綁定狀態的監測方法，其特征在于，所述將芯片與所述測試單元綁定，監測所述芯片與所述測試單元的綁定狀態，以驗證所述顯示面板的COG綁定狀態的步驟中，進一步包括監測所述輸入端子膜層及所述輸出端子膜層各自的兩側區域的綁定狀態和/或中間區域的綁定狀態。

7.根據權利要求1所述的顯示面板COG綁定狀態的監測方法，其特征在于，所述在所述空白區域上設置測試單元，所述測試單元包括復制接線端子膜層，所述復制接線端子膜層為復制所述顯示面板的綁定區域的接線端子膜層構成的步驟中，

設置的所述測試單元數量與所述顯示面板的數量相同且一一對應；

或者，設置的所述測試單元的數量小于所述顯示面板的數量，兩個以上所述顯示面板分成兩組以上顯示面板組，每組所述顯示面板組的各所述顯示面板結構相同并共同與其中一個所述測試單元對應設置。