[發(fā)明專利]一種金屬刻槽方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910108225.1 | 申請日: | 2019-02-03 |
| 公開(公告)號: | CN109801844A | 公開(公告)日: | 2019-05-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 朱友華;秦佳明;劉軒;李毅;王美玉 | 申請(專利權(quán))人: | 南通大學(xué) |
| 主分類號: | H01L21/3213 | 分類號: | H01L21/3213 |
| 代理公司: | 南京同澤專利事務(wù)所(特殊普通合伙) 32245 | 代理人: | 蔡晶晶 |
| 地址: | 226019*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 金屬氧化物 刻蝕 側(cè)壁 金屬 刻槽 刻蝕氣體 刻蝕作用 電感耦合等離子 金屬表面 刻蝕材料 氧化氣體 保留槽 光刻膠 刻蝕機 控制線 槽壁 掩膜 轟擊 去除 保留 重復(fù) | ||
本發(fā)明涉及一種金屬刻槽方法,包括以下步驟:S1、使用光刻膠作為掩膜,利用刻蝕氣體在金屬表面刻蝕,形成槽;S2、利用氧化氣體對槽壁和槽底的金屬進(jìn)行氧化,形成金屬氧化物;S3、利用刻蝕氣體對槽底的金屬氧化物進(jìn)行刻蝕,去除所述槽底的金屬氧化物,保留槽壁的金屬氧化物;S4、重復(fù)步驟S2和S3,直到刻槽深度達(dá)到要求為止。本發(fā)明通過循環(huán)次數(shù)來控制刻蝕深度,利用電感耦合等離子刻蝕機(ICP)刻蝕材料時是各向異性的特點,側(cè)壁的刻蝕作用低于Bias方向。因此在刻蝕時,底部的金屬氧化物被受到較強的轟擊作用,很容易被刻蝕掉,而對側(cè)壁的金屬氧化物刻蝕作用非常小。故,側(cè)壁的金屬氧化物得以保留,防止內(nèi)部的金屬被刻蝕,從而能夠控制線寬。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及鋁的刻蝕,特別是一種減少金屬刻蝕側(cè)腐的方法。
背景技術(shù)
金屬層的干法刻蝕工藝是廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域的一種基本工藝。以率層的干法刻蝕為例,由于AlCl3(三氯化鋁)在真空下的沸點約為50℃,具有揮發(fā)性,因此一般刻蝕鋁層采用的是Cl2(氯氣)。通過將Cl2氣體通過刻蝕的反應(yīng)腔室中,將反應(yīng)強室內(nèi)的各項工藝參數(shù)(如壓力、溫度、上下電極射頻功率、氣體流量等)調(diào)整至刻蝕所需的值,使Cl2與Al反應(yīng)生成可揮發(fā)的AlCl3,形成對Al層的刻蝕。
但是由于Al層的刻蝕在Cl2的參與下極易進(jìn)行,刻蝕速率較快,造成無法對Al層進(jìn)行精細(xì)的刻蝕。
為此中國發(fā)明專利申請CN 106548936 A公開了一種金屬層的刻蝕方法,首先將待刻蝕的金屬層的表面氧化成金屬氧化物,然后刻蝕去除該金屬氧化物,使金屬層的厚度減薄,通過循環(huán)執(zhí)行前述過程,達(dá)到逐步刻蝕金屬層,使金屬層的厚度逐步減薄至所需的厚度的目的。相比現(xiàn)有技術(shù),該方案能夠?qū)饘賹舆M(jìn)行較精細(xì)的刻蝕,提高了刻蝕后金屬層表面的平滑的均勻度。
雖然上述方案可以實現(xiàn)對金屬層的精細(xì)刻蝕,然而該方案直接應(yīng)用于刻槽時,具有一定局限性。當(dāng)金屬氧化物被去除后,再次對金屬進(jìn)行氧化時,槽壁的金屬會被氧化,多次循環(huán)后,導(dǎo)致側(cè)腐,無法保證刻槽的精度。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于:克服上述現(xiàn)有技術(shù)的缺陷,提出一種金屬刻槽方法。
為了達(dá)到上述目的,本發(fā)明提出的一種金屬刻槽方法,包括以下步驟:
S1、使用光刻膠作為掩膜,利用刻蝕氣體在金屬表面刻蝕,形成槽;
S2、利用氧化氣體對槽壁和槽底的金屬進(jìn)行氧化,形成金屬氧化物;
S3、利用刻蝕氣體對槽底的金屬氧化物進(jìn)行刻蝕,去除所述槽底的金屬氧化物,保留槽壁的金屬氧化物;
S4、重復(fù)步驟S2和S3,直到刻槽深度達(dá)到要求為止。
本發(fā)明還具有以下進(jìn)一步的特征:
1、步驟S3中,刻蝕槽底的金屬氧化物后繼續(xù)對槽底露出的金屬進(jìn)行刻蝕。
2、所述氧化氣體為O2,刻蝕氣體為Cl2或BCl3,或兩者的混合。
3、步驟S3中,使用電感耦合等離子刻蝕機對金屬氧化物進(jìn)行刻蝕。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





