[發明專利]下窄邊框顯示面板

有效

• 申請號: 201910089259.0
• 申請日: 2019-01-30
• 公開（公告）號: CN109727563B
• 公開（公告）日: 2021-06-25
• 發明（設計）人: 余文靜;嚴志成
• 申請（專利權）人: 武漢華星光電半導體顯示技術有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 深圳翼盛智成知識產權事務所(普通合伙) 44300
• 代理人: 黃威

本揭示提供了一種下窄邊框顯示面板，所述下窄邊框顯示面板包括:像素單元；陣列測試單元，所述陣列測試單元包括多個陣列測試開關和多個陣列測試焊盤；以及單元測試單元，所述單元測試單元包括多個單元測試開關；其中，所述陣列測試單元設置于所述像素單元與所述單元測試單元之間，所述多個陣列測試開關的一端連接至所述像素單元的多條數據線，所述多個單元測試開關連接至所述多個陣列測試開關的另一端。本揭示將陣列測試電路與單元測試電路合并，在保證測量效果的同時，減小了陣列測試電路和單元測試電路原本所占據的空間，從而縮窄顯示面板的下邊框寬度。

技術領域

本揭示涉及顯示裝置領域，尤其涉及一種下窄邊框顯示面板。

背景技術

隨著全球信息社會的興起增加了對各種顯示裝置的需求。因此，對各種平面顯示裝置的研究和開發投入了很大的努力，如液晶顯示裝置(Liquid Crystal Display,LCD)、等離子顯示裝置(Plasma Display Panel,PDP)、場致發光顯示裝置(ElectroLuminescences Display，ELD)以及真空熒光顯示裝置(Vacuum Fluorescent Display，VFD)等。

在顯示裝置普及的同時，用戶不僅對顯示裝置所具備的功能種類和性能要求越來越高，而且用戶對顯示裝置的外觀上的要求也越來越高，顯示裝置的輕薄化以及窄邊框等條件也越來越多成為用于選擇的顯示裝置的因素。

在影響手機邊框眾多的因素中，驅動集成電路占據著重要的作用。目前驅動集成電路常用的結構是將驅動集成電路設置在聚酰亞胺基板上，而檢測整個顯示面板電性的陣列測試(array test)電路和單元測試(cell test)電路則直接放在驅動集成電路的輸入和輸出電路中間。隨著手機邊框逐漸縮窄，驅動集成電路的大小也會逐漸縮減，剩余的空間不足以放置陣列測試電路和單元測試電路。

綜上所述，現有顯示面板存在沒有富余空間放置陣列測試電路和單元測試電路的問題。故，有必要提供一種下窄邊框顯示面板來改善這一缺陷。

發明內容

本揭示提供一種下窄邊框顯示面板，用于解決現有現有顯示面板沒有富余空間放置陣列測試(array test)電路和單元測試(cell test)電路的問題。

本揭示提供一種下窄邊框顯示面板，所述下窄邊框顯示面板包括:

像素單元；

陣列測試單元，所述陣列測試單元包括多個陣列測試開關和多個陣列測試焊盤；以及

單元測試單元，所述單元測試單元包括多個單元測試開關；

其中，所述陣列測試單元設置于所述像素單元與所述單元測試單元之間，所述多個陣列測試開關的一端連接至所述像素單元的多條數據線，所述多個單元測試開關連接至所述多個陣列測試開關的另一端。

根據本揭示一實施例，所述多個陣列測試開關設置于所述像素單元和所述多個陣列測試焊盤之間。

根據本揭示一實施例，所述多個陣列測試開關包括多個第一陣列測試開關、多個第二陣列測試開關、多個第三陣列測試開關以及多個第四陣列測試開關，所述陣列測試單元包括第一陣列測試控制信號線、第二陣列測試控制信號線、第三陣列測試控制信號線以及第四陣列測試控制信號線，所述多個第一陣列測試開關的柵極與所述第一陣列測試控制信號線相連接，所述多個第二陣列測試開關的柵極與所述第二陣列測試控制信號線相連接，所述多個第三陣列測試開關的柵極與所述第三陣列測試控制信號線相連接，所述多個第四陣列測試開關的柵極與所述第四陣列測試控制信號線相連接。