[發明專利]下窄邊框顯示面板

有效

• 申請號: 201910089259.0
• 申請日: 2019-01-30
• 公開（公告）號: CN109727563B
• 公開（公告）日: 2021-06-25
• 發明（設計）人: 余文靜;嚴志成
• 申請（專利權）人: 武漢華星光電半導體顯示技術有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 深圳翼盛智成知識產權事務所(普通合伙) 44300
• 代理人: 黃威

1.一種下窄邊框顯示面板，其特征在于，所述下窄邊框顯示面板包括:

像素單元，包括多個第一像素、多個第二像素和多個第三像素，所述第一像素和所述第二像素交替設置在同一列像素中，所述第三像素設置在具有所述第一像素和所述第二像素的相鄰一列像素中；

陣列測試單元，所述陣列測試單元包括多個陣列測試開關、多個陣列測試焊盤和多條分別與所述陣列測試開關對應的陣列測試控制信號線；以及

單元測試單元，所述單元測試單元包括多個分別與所述陣列測試開關對應的單元測試開關和多條單元測試信號線以及單元測試控制信號線；

其中，所述陣列測試單元設置于所述像素單元與所述單元測試單元之間，每一列所述像素對應一個所述陣列測試開關和一個所述單元測試開關，每一個所述陣列測試開關的柵極與對應的一條所述陣列測試控制信號線連接，每一個所述陣列測試開關的源極分別與陣列測試焊盤以及對應的一個所述單元測試開關的漏極連接，每一個所述陣列測試開關的漏極與對應的一列所述像素的數據線連接，位于同一列的所述第一像素和所述第二像素的陣列測試控制信號由同一條所述陣列測試控制信號線提供；

每一個所述單元測試開關的柵極與對應的一條所述單元測試控制信號線連接，每一個所述單元測試開關的源極與對應的一條所述單元測試信號線連接，位于同一列的所述第一像素和所述第二像素的單元測試信號由同一條所述單元測試信號線提供。

2.如權利要求1所述的下窄邊框顯示面板，其特征在于，所述多個陣列測試開關設置于所述像素單元和所述多個陣列測試焊盤之間。

3.如權利要求1所述的下窄邊框顯示面板，其特征在于，所述多個陣列測試開關包括多個第一陣列測試開關、多個第二陣列測試開關、多個第三陣列測試開關以及多個第四陣列測試開關，所述陣列測試單元包括第一陣列測試控制信號線、第二陣列測試控制信號線、第三陣列測試控制信號線以及第四陣列測試控制信號線，所述多個第一陣列測試開關的柵極與所述第一陣列測試控制信號線相連接，所述多個第二陣列測試開關的柵極與所述第二陣列測試控制信號線相連接，所述多個第三陣列測試開關的柵極與所述第三陣列測試控制信號線相連接，所述多個第四陣列測試開關的柵極與所述第四陣列測試控制信號線相連接。

4.如權利要求3所述的下窄邊框顯示面板，其特征在于，所述多個單元測試開關包括多個第一單元測試開關、多個第二單元測試開關、多個第三單元測試開關以及多個第四單元測試開關，所述單元測試單元包括第一單元測試信號線、第二單元測試信號線以及第三單元測試信號線，所述多個第一單元測試開關的漏極與所述第一單元測試信號線相連接，所述多個第二單元測試開關的漏極與所述第二單元測試信號線相連接，所述多個第三單元測試開關的漏極與所述第三單元測試信號線相連接，所述多個第四單元測試開關的漏極與所述第二單元測試信號線相連接。

5.如權利要求1所述的下窄邊框顯示面板，其特征在于，所述單元測試單元在執行陣列測試時保持截止狀態。

6.如權利要求5所述的下窄邊框顯示面板，其特征在于，所述陣列測試單元在執行單元測試時保持導通狀態。