[發(fā)明專利]垂直存儲(chǔ)器裝置及其制造方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910085568.0 | 申請(qǐng)日: | 2019-01-29 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110391248A | 公開(公告)日: | 2019-10-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 孫榮晥;金森宏治;姜信煥;權(quán)永振 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 三星電子株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | H01L27/1157 | 分類號(hào): | H01L27/1157;H01L27/11582 |
| 代理公司: | 北京銘碩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11286 | 代理人: | 尹淑梅;劉燦強(qiáng) |
| 地址: | 韓國(guó)京畿*** | 國(guó)省代碼: | 韓國(guó);KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 柵電極 垂直存儲(chǔ)器 接觸塞 階梯形狀 延伸穿過(guò) 上表面 溝道 基底 延伸 基本平行 逐漸減小 電絕緣 電連接 接觸柵 電極 堆疊 制造 垂直 | ||
公開了一種垂直存儲(chǔ)器裝置及其制造方法。該垂直存儲(chǔ)器裝置包括位于基底上的柵電極、延伸穿過(guò)柵電極的溝道以及延伸穿過(guò)柵電極的接觸塞。柵電極在基本垂直于基底的上表面的第一方向上堆疊,并且布置為具有階梯形狀,該階梯形狀包括其的在基本平行于上表面的第二方向上的延伸長(zhǎng)度從最下面的水平朝向最上面的水平逐漸減小的臺(tái)階。在每個(gè)柵電極的沿第二方向的端部處的墊具有比所述每個(gè)柵電極的其它部分的厚度大的厚度。溝道在第一方向上延伸。接觸塞在第一方向上延伸。接觸塞接觸柵電極之中的第一柵電極的墊以電連接到第一柵電極,并且與柵電極之中的第二柵電極電絕緣。
本申請(qǐng)要求于2018年4月20日在韓國(guó)知識(shí)產(chǎn)權(quán)局(KIPO)提交的第10-2018-0046048號(hào)韓國(guó)專利申請(qǐng)的優(yōu)先權(quán),該韓國(guó)專利申請(qǐng)的內(nèi)容通過(guò)引用全部包含于此。
技術(shù)領(lǐng)域
示例實(shí)施例涉及一種垂直存儲(chǔ)器裝置和/或一種制造該垂直存儲(chǔ)器裝置的方法。例如,至少一些示例實(shí)施例涉及一種包括接觸塞的垂直存儲(chǔ)器裝置和/或一種制造該垂直存儲(chǔ)器裝置的方法。
背景技術(shù)
在制造外圍上單元(COP)結(jié)構(gòu)的VNAND閃存裝置中,會(huì)通過(guò)單獨(dú)的工藝形成共源極線(CSL)和接觸塞,因此工藝的數(shù)量會(huì)增加。另外,難于形成僅接觸相應(yīng)的墊的多個(gè)接觸塞。
發(fā)明內(nèi)容
示例實(shí)施例提供了一種具有改善的電氣特性的垂直存儲(chǔ)器裝置。
示例實(shí)施例提供了一種制造具有改善的電氣特性的垂直存儲(chǔ)器裝置的方法。
至少一些示例實(shí)施例涉及垂直存儲(chǔ)器裝置。在一些示例實(shí)施例中,所述垂直存儲(chǔ)器裝置可以包括:多個(gè)柵電極,位于基底上,所述多個(gè)柵電極在基本垂直于基底的上表面的第一方向上堆疊,所述多個(gè)柵電極在第二方向上是臺(tái)階式的且所述多個(gè)柵電極的延伸長(zhǎng)度從最下面的水平朝向最上面的水平逐漸減小,第二方向基本平行于基底的上表面,所述多個(gè)柵電極在其沿第二方向的端部處包括墊,墊具有比所述多個(gè)柵電極中的相應(yīng)的柵電極的其它部分的厚度大的厚度;溝道,在第一方向上延伸穿過(guò)所述多個(gè)柵電極;以及接觸塞,在第一方向上延伸穿過(guò)所述多個(gè)柵電極,接觸塞接觸所述多個(gè)柵電極之中的第一柵電極的墊使得墊電連接到接觸塞,并且與所述多個(gè)柵電極之中的第二柵電極電絕緣。
至少一些示例實(shí)施例涉及垂直存儲(chǔ)器裝置。在一些示例實(shí)施例中,所述垂直存儲(chǔ)器裝置包括:電路圖案,位于基底上,基底包括單元陣列區(qū)域和墊區(qū)域;絕緣層間層,覆蓋電路圖案;基體圖案,位于在基底的單元陣列區(qū)域上的絕緣層間層上;多個(gè)柵電極,在基體圖案和絕緣層間層上沿第一方向彼此分隔開,第一方向基本垂直于基底的上表面;溝道,延伸穿過(guò)在基底的單元陣列區(qū)域上的所述多個(gè)柵電極;以及接觸塞,延伸穿過(guò)在基底的墊區(qū)域上的所述多個(gè)柵電極和絕緣層間層,使得接觸塞電連接到所述多個(gè)柵電極中的一個(gè)柵電極和電路圖案。
至少一些示例實(shí)施例涉及垂直存儲(chǔ)器裝置。在一些示例實(shí)施例中,所述垂直存儲(chǔ)器裝置包括:多個(gè)柵電極,位于基底上,所述多個(gè)柵電極在基本垂直于基底的上表面的第一方向上堆疊,所述多個(gè)柵電極中的每個(gè)柵電極的第一部分具有大于所述每個(gè)柵電極的其它部分的厚度的厚度;溝道,在第一方向上延伸穿過(guò)所述多個(gè)柵電極;以及多個(gè)接觸塞,每個(gè)接觸塞延伸穿過(guò)所述多個(gè)柵電極中的相應(yīng)的柵電極的第一部分,使得所述多個(gè)接觸塞電連接到所述相應(yīng)的柵電極并且與所述多個(gè)柵電極中的其它柵電極電絕緣。
至少一些示例實(shí)施例涉及制造垂直存儲(chǔ)器裝置的方法。在一些示例實(shí)施例中,所述方法包括:在基底上沿基本垂直于基底的上表面的第一方向交替并重復(fù)地堆疊第一絕緣層和犧牲層,基底包括單元陣列區(qū)域和墊區(qū)域;形成在第一方向上穿過(guò)第一絕緣層和犧牲層的溝道;形成穿過(guò)第一絕緣層和犧牲層的在基底的單元陣列區(qū)域和墊區(qū)域上的部分的第一開口;形成穿過(guò)第一絕緣層和犧牲層的在基底的墊區(qū)域上的部分的第二開口;經(jīng)由第一開口和第二開口去除犧牲層,以形成位于第一絕緣層之間的多個(gè)間隙;在所述多個(gè)間隙中的每個(gè)間隙中形成柵電極;以及同時(shí)在第一開口和第二開口中分別形成共源極線(CSL)和接觸塞。
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無(wú)源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無(wú)源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過(guò)這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的





