[發明專利]銀離子檢測方法、銀離子檢測試劑盒及用于檢測銀離子的核酸適配體有效
| 申請號: | 201910084331.0 | 申請日: | 2019-01-29 |
| 公開(公告)號: | CN109810979B | 公開(公告)日: | 2020-10-23 |
| 發明(設計)人: | 劉巍;楊麗娟;于凱利 | 申請(專利權)人: | 新鄉醫學院 |
| 主分類號: | C12N15/115 | 分類號: | C12N15/115;G01N33/53 |
| 代理公司: | 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224 | 代理人: | 林青中 |
| 地址: | 453099 河南*** | 國省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 銀離子 檢測 方法 試劑盒 用于 核酸 適配體 | ||
本發明涉及一種銀離子檢測方法、銀離子檢測試劑盒及用于檢測銀離子的核酸適配體,該方法包括以下步驟:提供待測樣品;將待測樣品與氧化石墨烯、雙鏈特異性核酸外切酶和帶有熒光標記的核酸適配體混合得到混合物,核酸適配體具有如SEQ ID NO.1所示的核苷酸序列;將混合物在35~40℃條件下孵育5~40min,然后進行失活處理以使雙鏈特異性核酸外切酶失活;檢測失活處理后的混合物的熒光強度,并根據熒光強度確定待測樣品中銀離子的濃度。本發明的銀離子檢測方法僅通過一條帶有熒光標記的核酸適配體、氧化石墨烯、雙鏈特異性核酸外切酶及熒光檢測設備,即可實現對目標物銀離子的高選擇性、高靈敏度檢測,操作過程簡單快速。
技術領域
本發明涉及銀離子檢測領域,特別是涉及一種銀離子檢測方法、銀離子檢測試劑盒及用于檢測銀離子的核酸適配體。
背景技術
銀(Ag)因具有良好的殺菌、催化、光學和電學的特性,從而被廣泛的應用于化學化工、感光以及電子電器等行業。在這些行業的生產及應用過程中,會將含有大量銀離子的工業廢水排放到環境中,使銀離子成為污染最嚴重的重金屬之一。銀離子可以通過食物鏈的富集進入生物體內,生物體長期暴露在高濃度的銀離子環境中,將抑制生物體中蛋白的活性,從而對生物體的健康造成一定的損害。目前,傳統的銀離子的檢測方法有化學法、電化學分析法、原子吸收光譜法、電感耦合等離子體質譜法等,但是這些技術都存在各自的局限性,例如化學法中的絡合滴定法對痕量物質的檢測存在困難;電化學分析法雖然靈敏度高、線性范圍寬,但選擇性較差;原子吸收光譜、電感耦合等離子體質譜盡管檢測精度比較高,但儀器耗資昂貴、運行費用高、操作要求多,檢測的靈敏度低,檢測比較費時、費力,而且需萃取、濃縮富集或抑制干擾等復雜前處理過程。因此,需要尋找更多不同的檢測方法來相互補充,以滿足多樣化的應用場景和需求。
發明內容
基于此,有必要提供一種高選擇性、高靈敏度的銀離子檢測方法。
一種銀離子檢測方法,包括以下步驟:
提供待測樣品;
將所述待測樣品與氧化石墨烯、雙鏈特異性核酸外切酶和帶有熒光標記的核酸適配體混合得到混合物,所述核酸適配體具有如SEQ ID NO.1所示的核苷酸序列;
將所述混合物在35~40℃條件下孵育5~40min,然后進行失活處理以使所述雙鏈特異性核酸外切酶失活;
檢測所述失活處理后的混合物的熒光強度,并根據所述熒光強度確定所述待測樣品中銀離子的濃度。
本發明的銀離子檢測方法僅通過一條帶有熒光標記的核酸適配體、氧化石墨烯(GO)、雙鏈特異性核酸外切酶及熒光檢測設備,即可實現對目標物銀離子的高選擇性、高靈敏度檢測,操作過程簡單快速。具體而言,銀離子的存在可以穩定該核酸適配體中的C-C錯配,使其形成相對穩定的發卡形結構或雙鏈結構,而銀離子不存在時則不能使該核酸適配體形成發卡形結構或雙鏈結構。帶有熒光標記的核酸適配體首先與GO通過強的非共價鍵結合在一起,在遠程熒光共振能量轉移的作用下使標記在核酸適配體上的熒光淬滅,大大降低了熒光檢測的背景信號。在有銀離子存在的條件下,胞嘧啶C與銀離子形成相對穩定的C-Ag+-C復合物,從而使核酸適配體形成發卡形結構或雙鏈結構。此時,在雙鏈特異性核酸外切酶的作用下,發卡形結構或雙鏈結構被打開,熒光基團和銀離子釋放,熒光基團的釋放使熒光信號增強,銀離子的釋放使其能夠再次結合其他核酸適配體,因此可以循環產生熒光信號。目標物銀離子越多,則結合的核酸適配體越多,產生的熒光信號也就越強,且銀離子的循環使用可以放大熒光信號。而在沒有目標物銀離子存在的情況下,核酸適配體被吸附在GO上,熒光淬滅,所以不產生熒光信號。
在其中一個實施例中,所述混合物中所述氧化石墨烯的濃度為5~15μg/mL。
在其中一個實施例中,所述混合物中所述雙鏈特異性核酸外切酶的濃度為30~50U。
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