[發明專利]用于顯示裝置外圍線路區匹配缺陷點與線路編號的方法

有效

• 申請號: 201910070897.8
• 申請日: 2019-01-25
• 公開（公告）號: CN109870466B
• 公開（公告）日: 2021-06-01
• 發明（設計）人: 葉新榮
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司
• 主分類號: G01N21/95
• 分類號: G01N21/95
• 代理公司: 深圳翼盛智成知識產權事務所(普通合伙) 44300
• 代理人: 黃威

一種用于顯示裝置外圍線路區匹配一缺陷點與一線路編號的方法，所述方法包含：根據一物件上的一線路配置，形成多個檢測區塊；通過AOI檢測技術檢測所述物件，并且輸出一檢測結果，其中所檢測結果包含所述缺陷點的一座標位置；確定所述缺陷點所對應的所述檢測區塊；及通過一平行線法計算所述缺陷點所對應的所述線路編號。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，特別是涉及一種用于顯示裝置外圍線路區匹配一缺陷點與一線路編號的方法。

背景技術

隨著顯示技術的不斷進步，顯示裝置的顯示面積越來越大，并且外圍電性連接線路(以下稱為線路)的數量也隨之越來越多。現在通過自動光學檢測(Automatic OpticInspection，AOI)技術來大量并且快速地檢測顯示裝置的外圍線路缺陷。而如圖1所示，為了配合顯示裝置的顯示區110的面積并且盡量縮小對外連接的電性接點區123所占用的面積，外圍線路會在特定區塊121轉折。

雖然通過AOI檢測技術可以獲得缺陷點的座標位置，但是線路經過轉折，缺陷點的座標位置無法直接與后續的電測裝置及點燈機臺通過實際檢驗所找出異常線路的編號進行匹配。如此一來，使得顯示裝置外圍線路缺陷點的檢測時間大幅增加。

故，有必要提供一種用于顯示裝置外圍線路區匹配缺陷點與線路編號的方法，以解決現有技術所存在的問題。

發明內容

本發明的目的在于提供一種于顯示裝置外圍線路區匹配缺陷點與線路編號的方法，使得來自AOI檢測技術的缺陷點的座標位置可以與線路編號直接匹配。這樣一來，AOI檢測技術的檢測結果可以與電測裝置和/或點燈機臺的檢測檢果相互驗證，提高線路缺陷的檢測效率。

為達成本發明的前述目的，本發明提供一種用于顯示裝置外圍線路區匹配一缺陷點與一線路編號的方法，所述方法包含：

根據一物件上的一線路配置，形成多個檢測區塊；

通過AOI檢測技術檢測所述物件，并且輸出一檢測結果，其中所檢測結果包含所述缺陷點的一座標位置；

確定所述缺陷點所對應的所述檢測區塊；及

通過一平行線法計算所述缺陷點所對應的所述線路編號。

根據本發明一實施例，根據一物件上的一線路配置，形成多個檢測區塊，包括：

定義所述多個檢測區塊中的至少一個為一關鍵區塊，所述關鍵區塊呈三角形；及

定義所述關鍵區塊的一第一頂點、一第二頂點及一第三頂點各自的一座標位置。

根據本發明一實施例，確定所述缺陷點所對應的所述檢測區塊，包括：

利用向量面積法獲得所述關鍵區塊的面積；

利用向量面積法獲得所述缺陷點、所述第一頂點及所述第二頂點所構成的一第一面積；

利用向量面積法獲得所述缺陷點、所述第二頂點及所述第三頂點所構成的一第二面積；

利用向量面積法獲得所述缺陷點、所述第三頂點及所述第一頂點所構成的一第三面積；

當所述第一面積、所述第二面積及所述第三面積等于所述關鍵區塊的面積時，確定所述缺陷點位于所述關鍵區塊內；及

當所述第一面積、所述第二面積及所述第三面積大于所述選定區塊的面積時，確定所述缺陷點位于所述關鍵區塊外。

根據本發明一實施例，所述關鍵區塊還包括一底邊、一第一腰邊、一第二腰邊及N個編號線路，所述N個編號線路平行于所述第一腰邊，所述N個編號線路分別地與所述底邊及所述第二腰邊交會，并且通過所述平行線法計算所述缺陷點所對應的所述線路編號包括：