[發明專利]用于周期性樣式的異常檢測有效
| 申請號: | 201910067930.1 | 申請日: | 2019-01-24 |
| 公開(公告)號: | CN111476938B | 公開(公告)日: | 2023-04-28 |
| 發明(設計)人: | 張兆禮;馬衛民;楊康康;趙焱 | 申請(專利權)人: | 中科晶源微電子技術(北京)有限公司 |
| 主分類號: | G07D7/202 | 分類號: | G07D7/202 |
| 代理公司: | 北京匯知杰知識產權代理有限公司 11587 | 代理人: | 楊彥鴻;張婷婷 |
| 地址: | 100176 北京市大*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 周期性 樣式 異常 檢測 | ||
1.一種用于周期性樣式的基于圖像的異常檢測的方法,包括:
接收從檢驗圖像確定的圖像樣式(T),其中,該圖像樣式(T)包括沿著空間方向的多個周期性片段;
處理器通過以第一方式重新排列所述圖像樣式(T)的多個周期性片段,從而確定第一參考樣式(R1),并且,通過以第二方式重新排列所述圖像樣式(T)的多個周期性片段,從而確定第二參考樣式(R2);其中,所述第一參考樣式(R1)和所述第二參考樣式(R2)包括與所述圖像樣式(T)相同數量的片段,所述第一參考樣式(R1)包括從所述圖像樣式(T)的第一組連續周期性片段復制的第一部分和從所述圖像樣式(T)的第二組連續周期性片段復制的第二部分,所述第二參考樣式(R2)包括從所述圖像樣式(T)的第三組連續周期性片段復制的第三部分和從所述圖像樣式(T)的第四組連續周期性片段復制的第四部分,所述第一組連續周期性片段、所述第二組連續周期性片段、所述第三組連續周期性片段、以及所述第四組連續周期性片段是所述圖像樣式(T)的不同的周期性片段;
通過將所述圖像樣式(T)的一部分與所述第一參考樣式(R1)的一部分和所述第二參考樣式(R2)的一部分相比較,從而確定所述圖像樣式(T)中是否存在異常;以及
基于所述圖像樣式(T)的一部分與所述第一參考樣式(R1)的一部分和所述第二參考樣式(R2)的一部分不同,確定所述圖像樣式(T)中存在異常。
2.如權利要求1所述的方法,其中,
所述圖像樣式(T)的第一個片段與所述第一參考樣式(R1)的第一部分的第一個片段和所述第二參考樣式(R2)的第三部分的第一個片段對齊,所述圖像樣式(T)的最后一個片段與所述第一參考樣式(R1)的第二部分的最后一個片段和所述第二參考樣式(R2)的第四部分的最后一個片段對齊。
3.如權利要求1所述的方法,其中,所述圖像樣式(T)包括n個周期性片段,n是大于1的整數,
所述第一組連續周期性片段包括所述圖像樣式(T)的n1個連續周期性片段,不包括所述圖像樣式(T)的第一個周期性片段,n1是正整數,
所述第二組連續周期性片段包括所述圖像樣式(T)的(n-n1)個連續周期性片段,不包括所述圖像樣式(T)的最后一個周期性片段,
所述第三組連續周期性片段包括所述圖像樣式(T)的n2個連續周期性片段,不包括所述圖像樣式(T)的最初兩個周期性片段,n2是正整數,
所述第四組連續周期性片段包括所述圖像樣式(T)的(n-n2)個連續周期性片段,不包括所述圖像樣式(T)的最后兩個周期性片段。
4.如權利要求3所述的方法,其中,所述第一組連續周期性片段包括所述圖像樣式(T)的第(m1+1)個周期性片段至第(m1+n1)個周期性片段,m1是小于或等于n1的正整數,n1小于或等于(n-m1),
所述第二組連續周期性片段包括所述圖像樣式(T)的第(n1-m1+1)個周期性片段至第(n-m1)個周期性片段,
所述第三組連續周期性片段包括所述圖像樣式(T)的第(m2+1)個周期性片段至第(m2+n2)個周期性片段,m2是小于或等于n2且與m1不同的正整數,n2小于或等于(n-m2),
所述第四組連續周期性片段包括所述圖像樣式(T)的第(n2-m2+1)個周期性片段至第(n-m2)個周期性片段。
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