[發(fā)明專利]一種Yb和Er共摻雜的氧化鎵薄膜及其制備方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910063284.1 | 申請日: | 2019-01-23 |
| 公開(公告)號: | CN109852381A | 公開(公告)日: | 2019-06-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 谷雪 | 申請(專利權(quán))人: | 北京鎵族科技有限公司 |
| 主分類號: | C09K11/62 | 分類號: | C09K11/62;C23C14/28;C23C14/08 |
| 代理公司: | 北京清誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11691 | 代理人: | 喬東峰;瞿朝兵 |
| 地址: | 101300 北京市順義區(qū)*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 氧化鎵 薄膜 共摻雜 襯底 制備 激光脈沖沉積法 稀土離子摻雜 致密 工藝可控性 近紅外發(fā)光 薄膜表面 厚度穩(wěn)定 近紅外光 濃度調(diào)控 疊置 復(fù)性 均一 發(fā)光 生長 | ||
本發(fā)明提供了一種增強(qiáng)近紅外光致發(fā)光的Yb和Er共摻雜的氧化鎵薄膜及其制備方法。本發(fā)明的氧化鎵薄膜包括依次疊置的襯底和氧化鎵薄膜,氧化鎵薄膜為Yb和Er共摻雜的β?Ga2O3薄膜,襯底為Al2O3襯底。本發(fā)明的方法采用激光脈沖沉積法生長氧化鎵薄膜。本發(fā)明易于實(shí)現(xiàn)稀土離子摻雜濃度調(diào)控,工藝可控性強(qiáng)、容易操作。本發(fā)明制得的氧化鎵薄膜表面致密、厚度穩(wěn)定均一、且復(fù)性好,具有能顯著增強(qiáng)氧化鎵薄膜近紅外發(fā)光的優(yōu)點(diǎn)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于發(fā)光薄膜材料領(lǐng)域,特別涉及一種稀土元素鐿(Yb)或鉺(Er)共摻雜的氧化鎵薄膜及其制備方法,該薄膜用于增強(qiáng)近紅外發(fā)光。
背景技術(shù)
稀土摻雜材料在照明、激光、光纖通信和生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用,特別是擁有獨(dú)特發(fā)光特性的稀土摻雜半導(dǎo)體薄膜材料,在顯示發(fā)光、生物檢測等應(yīng)用中具有獨(dú)特的優(yōu)勢,受到了越來越多研究機(jī)構(gòu)和人員的關(guān)注。基質(zhì)材料的選取對于制備高性能稀土摻雜半導(dǎo)體薄膜材料并進(jìn)一步制備性能更加優(yōu)良的電子器件至關(guān)重要。氧化鎵(Ga2O3)是一種直接帶隙的III-V族化合物,有良好的化學(xué)、熱穩(wěn)定性,是一種近年來頗受關(guān)注的新型第三代半導(dǎo)體材料。一般而言,稀土離子4f電子受到外層5s5p電子的屏蔽保護(hù)從而可以減弱溫度、濕度等環(huán)境因素的影響,電子吸收能量而在稀土離子能級內(nèi)的光學(xué)躍遷被限定在4f內(nèi)層電子之間,所以稀土摻雜的氧化鎵薄膜的發(fā)光譜一般都是單一的、窄譜線的發(fā)光峰;同時(shí)它還有高亮度、低能耗和使用壽命較長等優(yōu)點(diǎn)。其中,稀土元素鉺(Er)能夠在近紅外波段1.54μm發(fā)光,且發(fā)光壽命較長,能夠被用于光纖信號傳輸發(fā)光中心的離子,有著極為廣泛應(yīng)用前景。
目前,Er摻雜的氧化鎵薄膜的研究還處于起步階段,現(xiàn)有的Er摻雜的氧化鎵薄膜普遍存在發(fā)光強(qiáng)度較弱,發(fā)光效率偏低的問題,難以滿足實(shí)用要求。這使得增強(qiáng)稀土離子在氧化鎵薄膜中的發(fā)光性質(zhì)顯得尤為迫切。
發(fā)明內(nèi)容
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明提出一種稀土元素Yb和Er共摻雜的氧化鎵薄膜發(fā)光薄膜的制備方法,可應(yīng)用于近紅外發(fā)光材料領(lǐng)域。
本發(fā)明在Al2O3襯底上制備了一種增強(qiáng)近紅外發(fā)光稀土元素Yb和Er共摻雜的氧化鎵薄膜。該發(fā)明為氧化鎵基發(fā)光材料,特別是近紅外波段發(fā)光薄膜的制備提供理論和技術(shù)支持。
本發(fā)明的增強(qiáng)近紅外光致發(fā)光的稀土元素Yb和Er共摻雜的氧化鎵薄膜,包括依次疊置的襯底和氧化鎵薄膜,所述氧化鎵薄膜為Yb和Er共摻雜的β-Ga2O3薄膜,所述襯底為Al2O3襯底。
根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式,所述Al2O3襯底是(0001)取向的。
根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式,所述氧化鎵薄膜的厚度為100nm至300nm。
根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式,所述Yb的摻雜濃度為2.5%,所述Er的摻雜濃度為0.5%。
本發(fā)明還提出一種Yb和Er摻雜的氧化鎵薄膜的制造方法,包括:在襯底上,采用激光脈沖沉積法生長氧化鎵薄膜。其中,所述氧化鎵薄膜為Yb和Er共摻雜的β-Ga2O3薄膜,所述襯底為Al2O3襯底。根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式,所述激光脈沖沉積法采用的靶材為Yb和Er的氧化鎵陶瓷。
根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式,所述激光脈沖沉積法的生長參數(shù)包括:脈沖激光能量為1J/cm2~5J/cm2。
根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式,所述激光脈沖沉積法的生長參數(shù)還包括:脈沖激光頻率為1Hz~5Hz。
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