[發明專利]一種Yb和Er共摻雜的氧化鎵薄膜及其制備方法在審
| 申請號: | 201910063284.1 | 申請日: | 2019-01-23 |
| 公開(公告)號: | CN109852381A | 公開(公告)日: | 2019-06-07 |
| 發明(設計)人: | 谷雪 | 申請(專利權)人: | 北京鎵族科技有限公司 |
| 主分類號: | C09K11/62 | 分類號: | C09K11/62;C23C14/28;C23C14/08 |
| 代理公司: | 北京清誠知識產權代理有限公司 11691 | 代理人: | 喬東峰;瞿朝兵 |
| 地址: | 101300 北京市順義區*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 氧化鎵 薄膜 共摻雜 襯底 制備 激光脈沖沉積法 稀土離子摻雜 致密 工藝可控性 近紅外發光 薄膜表面 厚度穩定 近紅外光 濃度調控 疊置 復性 均一 發光 生長 | ||
1.一種Yb和Er共摻雜的氧化鎵薄膜,包括依次疊置的襯底和氧化鎵薄膜,其特征在于:所述氧化鎵薄膜為Yb和Er共摻雜的β-Ga2O3薄膜,所述襯底為Al2O3襯底。
2.如權利要求1所述的Yb和Er共摻雜的氧化鎵薄膜,其特征在于:所述Al2O3襯底是(0001)取向的。
3.如權利要求1所述的Yb和Er共摻雜的氧化鎵薄膜,其特征在于:所述氧化鎵薄膜的厚度為100nm至300nm。
4.如權利要求1所述的Yb和Er共摻雜的氧化鎵薄膜,其特征在于:所述Yb的摻雜濃度為2.5%,所述Er的摻雜濃度為0.5%。
5.一種Yb和Er共摻雜的氧化鎵薄膜的制造方法,包括:
在襯底上,采用激光脈沖沉積法生長氧化鎵薄膜;
其特征在于:
所述氧化鎵薄膜為Yb和Er共摻雜的β-Ga2O3薄膜,所述襯底為Al2O3襯底。
6.如權利要求5所述的氧化鎵薄膜的制造方法,其特征在于:所述激光脈沖沉積法采用的靶材為Yb和Er的氧化鎵陶瓷。
7.如權利要求5所述的氧化鎵薄膜的制造方法,其特征在于:所述激光脈沖沉積法的生長參數包括:脈沖激光能量為1J/cm2~5J/cm2。
8.如權利要求7所述的Yb和Er共摻雜的氧化鎵薄膜的制造方法,其特征在于:所述激光脈沖沉積法的生長參數還包括:脈沖激光頻率為1Hz~5Hz。
9.如權利要求8所述的Yb和Er共摻雜的氧化鎵薄膜的制造方法,其特征在于:所述激光脈沖沉積法的生長參數還包括:襯底溫度為600℃~850℃。
10.如權利要求9所述的Yb和Er共摻雜的氧化鎵薄膜的制造方法,其特征在于:所述激光脈沖沉積法的生長參數還包括:生長氣壓為1×10-3Pa~1Pa。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于北京鎵族科技有限公司,未經北京鎵族科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910063284.1/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





