[發明專利]一種查看S參數模型的差分損耗的方法以及設備

在審

• 申請號: 201910056475.5
• 申請日: 2019-01-22
• 公開（公告）號: CN109815585A
• 公開（公告）日: 2019-05-28
• 發明（設計）人: 余華國
• 申請（專利權）人: 鄭州云海信息技術有限公司
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50
• 代理公司: 北京連和連知識產權代理有限公司 11278
• 代理人: 回旋

本發明公開了一種查看S參數模型的差分損耗的方法，包括步驟：S1、讀取S參數模型；S2、選擇若干個端口對應關系中的一個；S3、根據選擇的所述端口對應關系，計算所述S參數模型的差分損耗并得到差分損耗曲線；S4、根據預設條件判斷所述差分損耗曲線的正確性；S5、響應于所述差分損耗曲線錯誤，返回步驟S2以選擇下一個端口對應關系，以及響應于差分損耗曲線正確，輸出該正確的差分損耗曲線。本發明公開的方法能夠在無法確定S參數模型的實際端口對應關系的情況下，依然可以查看S參數模型的差分損耗。

技術領域

本發明涉及測試領域，具體涉及一種查看S參數模型的差分損耗的方法以及設備。

背景技術

S參數測量是射頻設計、高速信號設計過程中的基本手段之一。S參數將被測元件描述成一個黑盒子，并被用來模擬電子元件在不同頻率下的行為。S參數的表達方式多種多樣。在數學表達上是一個矩陣形式，矩陣中的每個數值代表了一定的物理意義。在圖形表達上，則是一個橫軸表示頻率，縱軸表示散射程度的曲線。例如有一個4端口的S參數，能量分別從端口1，端口2進入，分別從端口3，端口4輸出，工程上把從輸出端口測得的能量與輸入端口能量比值取對數后定義為插入損耗；把從輸入端口測得反射回來的能量與輸入數量比值取對數后定義為回波損耗。插入損耗表示了一個黑盒設備的對輸入能量衰減的程度；回波損耗表示了一個黑盒設備的對輸入能量反射的程度。

當前S參數使用過程中的問題：S參數模型常被用來分析高速鏈路的品質。高速鏈路都是差分形式的走線，而目前S參數記錄是單根線的損耗狀況，因此無法直接查看模型差分模式下的損耗。為了查看一個S參數模型的差分模式下的損耗大小，均需要在商業軟件中做一定的設置。如果查看S參數模型為一個s64p文件，則手動設置需花費一定的時間，影響仿真工作效率。而且依靠商業軟件查看，也需要獲取S參數模型實際的端口對應關系，如果沒有實際的端口對應關系，就無法查看差分模式下的損耗。

發明內容

有鑒于此，為了克服上述問題的至少一個方面，本發明實施例的提出一種查看S參數模型的差分損耗的方法，包括步驟：

S1、讀取S參數模型；

S2、選擇若干個端口對應關系中的一個；

S3、根據選擇的所述端口對應關系，計算所述S參數模型的差分損耗并得到差分損耗曲線；

S4、根據預設條件判斷所述差分損耗曲線的正確性；

S5、響應于所述差分損耗曲線錯誤，返回步驟S2以選擇下一個端口對應關系，以及響應于差分損耗曲線正確，輸出該正確的差分損耗曲線。

在一些實施例中，步驟S3進一步包括：

S31、讀取所述S參數模型的端口數并將所述S參數模型轉換為原始矩陣；

S32、根據所述選擇的端口對應關系，將所述原始矩陣轉化為差分S參數矩陣，并將其轉化成S參數文件；

S33、利用所述S參數文件得到所述差分損耗曲線。

在一些實施例中，讀取S參數模型的端口數并將S參數模型轉換為原始矩陣包括：利用sparameters函數獲取所述S參數模型的端口數并將所述S參數模型轉換為原始矩陣。

在一些實施例中，根據選擇的端口對應關系，將原始矩陣轉化為差分S參數矩陣，并將其轉化成S參數文件包括：利用s2sdd函數將所述原始矩陣轉化為差分S參數矩陣，并將其轉化成S參數文件。

在一些實施例中，利用S參數文件得到差分損耗曲線包括：利用for循環和rfplot函數得到所述差分損耗曲線。

在一些實施例中，步驟S33進一步包括：

利用for循環和rfplot函數得到插入損耗曲線以及回波損耗曲線。