[發明專利]一種查看S參數模型的差分損耗的方法以及設備

在審

• 申請號: 201910056475.5
• 申請日: 2019-01-22
• 公開（公告）號: CN109815585A
• 公開（公告）日: 2019-05-28
• 發明（設計）人: 余華國
• 申請（專利權）人: 鄭州云海信息技術有限公司
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50
• 代理公司: 北京連和連知識產權代理有限公司 11278
• 代理人: 回旋

1.一種查看S參數模型的差分損耗的方法，包括步驟：

S1、讀取S參數模型；

S2、選擇若干個端口對應關系中的一個；

S3、根據選擇的所述端口對應關系，計算所述S參數模型的差分損耗并得到差分損耗曲線；

S4、根據預設條件判斷所述差分損耗曲線的正確性；

S5、響應于所述差分損耗曲線錯誤，返回步驟S2以選擇下一個端口對應關系，以及響應于所述差分損耗曲線正確，輸出所述正確的差分損耗曲線。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，步驟S3進一步包括：

S31、讀取所述S參數模型的端口數并將所述S參數模型轉換為原始矩陣；

S32、根據所述選擇的端口對應關系，將所述原始矩陣轉化為差分S參數矩陣，并將其轉化成S參數文件；

S33、利用所述S參數文件得到所述差分損耗曲線。

3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，讀取所述S參數模型的端口數并將所述S參數模型轉換為原始矩陣包括：利用sparameters函數獲取所述S參數模型的端口數并將所述S參數模型轉換為原始矩陣。

4.如權利要求2所述的方法，其特征在于，根據所述選擇的端口對應關系，將所述原始矩陣轉化為差分S參數矩陣，并將其轉化成S參數文件包括：利用s2sdd函數將所述原始矩陣轉化為差分S參數矩陣，并將其轉化成S參數文件。

5.如權利要求2所述的方法，其特征在于，利用所述S參數文件得到所述差分損耗曲線包括：利用for循環和rfplot函數得到所述差分損耗曲線。

6.如權利要求5所述的方法，其特征在于，步驟S33進一步包括：

利用for循環和rfplot函數得到插入損耗曲線以及回波損耗曲線。

7.如權利要求6所述的方法，其特征在于，所述預設條件為所述插入損耗曲線的起始點是否接近于零點。

8.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述S參數模型的端口數量為4的整數倍。

9.一種計算機設備，包括：

至少一個處理器；以及

存儲器，所述存儲器存儲有可在所述處理器上運行的計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述程序時執行如權利要求1-8任意一項所述的方法。

10.一種計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時執行權利要求1-8任意一項所述的方法。